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商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中的高可靠性芯片解決方案:挑戰(zhàn)、策略與案例研究

安芯 ? 來源:jf_29981791 ? 作者:jf_29981791 ? 2025-04-27 11:04 ? 次閱讀
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____摘要:____隨著商業(yè)航天領(lǐng)域的迅速發(fā)展,運動控制系統(tǒng)對芯片的可靠性提出了前所未有的挑戰(zhàn)。本文深入探討了商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中芯片可靠性面臨的挑戰(zhàn),包括宇宙輻射效應(yīng)、極端環(huán)境適應(yīng)性及系統(tǒng)級可靠性保障等。同時,通過案例研究展示這些芯片如何助力運動控制系統(tǒng)實現(xiàn)高可靠性運行,并探討芯片可靠性提升的策略與未來展望,旨在為商業(yè)航天領(lǐng)域的芯片選型與應(yīng)用提供參考。

一、引言

商業(yè)航天作為航天領(lǐng)域的重要分支,正以驚人的速度發(fā)展。從衛(wèi)星發(fā)射到軌道維持再到空間探索任務(wù),運動控制系統(tǒng)在其中扮演著關(guān)鍵角色。芯片作為運動控制系統(tǒng)的核心部件,其可靠性直接關(guān)系到整個系統(tǒng)的成敗。商業(yè)航天環(huán)境復(fù)雜多變,芯片面臨著宇宙輻射、極端溫度、高真空等多種嚴(yán)苛考驗。因此,如何保障芯片在如此惡劣條件下的高可靠性,成為商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)亟待解決的關(guān)鍵問題。

二、商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中芯片可靠性面臨的挑戰(zhàn)

(一)宇宙輻射效應(yīng)

商業(yè)航天器運行在地球大氣層之外,暴露于宇宙輻射環(huán)境中。高能粒子如質(zhì)子、電子、重離子等可能與芯片內(nèi)部的半導(dǎo)體材料發(fā)生相互作用,引發(fā)單粒子效應(yīng)(SEU和SEL)。SEU會導(dǎo)致芯片存儲單元或邏輯狀態(tài)的翻轉(zhuǎn),而SEL則可能造成更嚴(yán)重的物理損壞,如晶體管擊穿等,進而影響芯片的正常功能,甚至導(dǎo)致整個系統(tǒng)故障。

(二)極端溫度環(huán)境

太空環(huán)境溫度變化劇烈,從極寒到極熱。芯片需要在-55℃至125℃甚至更寬的溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定工作。溫度的劇烈變化會導(dǎo)致芯片內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)、電子遷移率等物理特性發(fā)生改變,影響芯片的電氣性能,如漏電流增加、閾值電壓偏移等,從而可能引發(fā)功能異?;蛐阅芟陆怠?/p>

(三)高真空環(huán)境

高真空環(huán)境會加劇芯片材料的揮發(fā)與表面效應(yīng)。一些芯片封裝材料在高真空中可能會釋放揮發(fā)性物質(zhì),影響芯片內(nèi)部的電氣連接可靠性。同時,高真空條件下電子的散射效應(yīng)減弱,可能導(dǎo)致芯片內(nèi)部的電場分布發(fā)生變化,進而影響芯片的擊穿電壓等關(guān)鍵參數(shù)。

(四)長期在軌運行

商業(yè)航天任務(wù)的在軌運行周期往往較長,芯片需要持續(xù)穩(wěn)定工作數(shù)年至數(shù)十年不等。在此期間,芯片將不斷受到上述多種因素的綜合作用,其性能會逐漸老化、衰退。如何確保芯片在整個壽命周期內(nèi)的可靠性,是商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)必須面對的挑戰(zhàn)。

三、高可靠性芯片的解決方案與策略

(一)芯片選型與架構(gòu)設(shè)計

____功能安全與可靠性認(rèn)證____優(yōu)先選用通過嚴(yán)格功能安全與可靠性認(rèn)證的芯片,如按照ASIL-B功能安全等級設(shè)計的AS32S601芯片。此類芯片在設(shè)計階段就充分考慮了功能安全需求,具備完善的故障檢測與應(yīng)對機制,能夠有效降低系統(tǒng)性故障風(fēng)險,提升整個運動控制系統(tǒng)的可靠性水平。

____采用冗余設(shè)計架構(gòu)____在芯片內(nèi)部或系統(tǒng)級采用冗余設(shè)計,如AS32S601的存儲系統(tǒng)具備端到端ECC保護,通過多重存儲單元與校驗機制,即使部分存儲單元受到輻射影響或出現(xiàn)故障,也能保證數(shù)據(jù)的完整性和正確性,確保運動控制系統(tǒng)指令的準(zhǔn)確執(zhí)行。

____選用成熟先進的半導(dǎo)體工藝____國科安芯的芯片產(chǎn)品采用先進的半導(dǎo)體制造工藝,在兼顧高性能的同時,注重工藝的成熟度與穩(wěn)定性。這有助于提高芯片的抗輻射能力、降低功耗以及優(yōu)化電氣性能,為商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)提供堅實的硬件基礎(chǔ)。

(二)芯片的抗輻射設(shè)計與加固技術(shù)

____工藝級抗輻照加固____針對宇宙輻射威脅,芯片在設(shè)計與制造過程中采取了一系列硬件級抗輻射加固措施。例如,通過優(yōu)化晶體管的結(jié)構(gòu)尺寸、采用抗輻射的半導(dǎo)體材料以及設(shè)計特殊的電路布局等手段,降低高能粒子對芯片內(nèi)部敏感區(qū)域的影響概率,提高芯片在輻射環(huán)境下的固有可靠性。

(三)芯片的環(huán)境適應(yīng)性優(yōu)化

____寬溫度范圍設(shè)計與測試____芯片經(jīng)過精心設(shè)計與嚴(yán)格測試,能夠適應(yīng)商業(yè)航天任務(wù)中的寬溫度范圍要求。以ASP3605S和ASP4644S等電源芯片為例,其在-55℃至125℃(不同等級有所差異)的溫度區(qū)間內(nèi),關(guān)鍵電氣性能參數(shù)如輸出電壓精度、紋波、效率等均能保持穩(wěn)定。這得益于芯片內(nèi)部的溫度補償電路、優(yōu)化的功率器件布局以及精準(zhǔn)的工藝控制,確保電源芯片在極端溫度條件下為運動控制系統(tǒng)中的各類電子元件提供穩(wěn)定可靠的電力支持。

(四)芯片的可靠性評估與驗證方法

____加速老化測試____通過對芯片施加高于實際工作條件的應(yīng)力因素,如升高溫度、增加電壓、加大電流等,加速芯片的老化過程,從而在較短時間內(nèi)評估芯片在整個壽命周期內(nèi)的可靠性表現(xiàn)。國科安芯在其芯片生產(chǎn)過程中嚴(yán)格執(zhí)行加速老化測試流程,結(jié)合實際的失效數(shù)據(jù)分析,不斷優(yōu)化芯片的設(shè)計與制造工藝,確保芯片在長期在軌運行中的可靠性滿足商業(yè)航天任務(wù)需求。

____輻射效應(yīng)測試與建模____利用專業(yè)的輻射測試設(shè)備與實驗室,對芯片進行不同劑量、不同能量的輻射照射,模擬太空輻射環(huán)境,研究芯片在輻射下的性能變化規(guī)律,建立輻射效應(yīng)模型?;谠撃P停梢灶A(yù)測芯片在實際太空任務(wù)中的可靠性,并為抗輻射設(shè)計改進提供科學(xué)依據(jù)。例如,通過測試得知AS32S601等芯片在特定輻射條件下的SEU與SEL產(chǎn)生概率、故障模式等,進而針對性地優(yōu)化芯片的抗輻射能力,提高其在商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中的可靠性水平。

四、商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中的應(yīng)用研究

(一)AS32S601芯片在商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中的應(yīng)用

采用AS32S601芯片作為衛(wèi)星運動控制系統(tǒng)的主控芯片。該芯片基于32位RISC-V指令集,具備高達180MHz的工作頻率、豐富接口資源(如6路SPI、4路CAN、4路USART等)以及高安全、低功耗等特點。其內(nèi)置的512KiB內(nèi)部SRAM(帶ECC)、16KiB ICache和16KiB DCache(帶ECC)、512KiB D-Flash(帶ECC)、2MiB P-Flash(帶ECC)等存儲資源,為運動控制系統(tǒng)的復(fù)雜算法運行與數(shù)據(jù)存儲提供了充足的空間與可靠性保障。同時,芯片集成的硬件加密模塊(DSE)支持AES、SM2/3/4和TRNG,確保衛(wèi)星通信數(shù)據(jù)的安全性與完整性。

(二)ASM1042S芯片在商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)通信中的應(yīng)用

選用ASM1042S芯片構(gòu)建通信網(wǎng)絡(luò)。該芯片是一款符合ISO11898-1:2015和Bosch CANFD規(guī)范的CAN收發(fā)器,支持5Mbps的數(shù)據(jù)速率,具備低功耗待機模式及遠程喚醒請求特性。其在電氣特性上進行了優(yōu)化,如在有負(fù)載CAN網(wǎng)絡(luò)中實現(xiàn)更快的數(shù)據(jù)速率、支持較短的對稱傳播延遲時間和快速循環(huán)次數(shù),可增加時序裕量,提高通信的穩(wěn)定性與可靠性。同時,芯片具有較強的抗電磁干擾(EMC)性能,滿足SAEJ2962-2和IEC62228-3(最高500kbps)標(biāo)準(zhǔn),在無需共模扼流圈的情況下即可正常工作,降低了通信鏈路的復(fù)雜度與成本。

(三)ASP3605S與ASP4644S芯片在商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)電源管理中的應(yīng)用

在運動控制系統(tǒng)的電源模塊設(shè)計中,采用ASP3605S(15V、5A同步降壓調(diào)節(jié)器)與ASP4644S(四通道降壓穩(wěn)壓器)芯片組合供電方案。ASP3605S芯片負(fù)責(zé)將較高的輸入電壓(如來自太陽能電池陣或蓄電池的12V或15V電壓)轉(zhuǎn)換為運動控制系統(tǒng)中核心處理器、FPGA等關(guān)鍵部件所需的穩(wěn)定3.3V或5V電源。其可調(diào)頻率范圍廣(800kHz至4MHz)、高效率(最高94%)、低紋波(典型值小于4.5mV)以及支持多相級聯(lián)等特點,使其能夠靈活適應(yīng)不同負(fù)載需求,并在高密度功率轉(zhuǎn)換場景中提供優(yōu)異的性能。同時,ASP4644S芯片的四通道輸出特性可用于為運動控制系統(tǒng)中的多個子模塊(如傳感器、執(zhí)行機構(gòu)驅(qū)動電路等)分別供電,每個通道可輸出0.6V至5.5V電壓,最大輸出電流可達4A,且具備輸出電壓跟蹤、過流、過溫、短路保護等功能,有效提高了電源系統(tǒng)的可靠性和靈活性。

五、高可靠性芯片的未來展望與發(fā)展趨勢

(一)技術(shù)融合與創(chuàng)新

未來,高可靠性芯片將融合更多前沿技術(shù),如人工智能AI)與機器學(xué)習(xí)(ML)算法輔助的故障預(yù)測與自修復(fù)功能。通過在芯片內(nèi)部集成專用的AI處理單元,實時分析芯片運行狀態(tài)數(shù)據(jù),提前預(yù)測潛在故障,并自動采取修復(fù)措施,如調(diào)整電路參數(shù)、重新配置功能模塊等,進一步提高芯片的可靠性與可用性。同時,新型半導(dǎo)體材料如碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等的應(yīng)用將為芯片性能提升與可靠性增強提供新機遇。這些材料具備更高的禁帶寬度、熱導(dǎo)率與電子遷移率等特性,有助于開發(fā)出具有更高耐壓、更低功耗、更強抗輻射能力的芯片,滿足商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)對未來高性能、高可靠芯片的需求。

(二)系統(tǒng)級可靠性協(xié)同設(shè)計

隨著商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)復(fù)雜度的不斷增加,單純的芯片可靠性提升已無法滿足系統(tǒng)整體可靠性要求。未來的發(fā)展趨勢將是芯片供應(yīng)商、系統(tǒng)集成商與航天任務(wù)運營商等各方緊密合作,開展系統(tǒng)級可靠性協(xié)同設(shè)計。在系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計階段,充分考慮芯片的可靠性特性與限制條件,優(yōu)化芯片在系統(tǒng)中的布局、連接方式與工作模式。同時,借助先進的系統(tǒng)仿真工具與可靠性評估方法,對整個運動控制系統(tǒng)在全壽命周期內(nèi)的可靠性進行綜合分析與優(yōu)化,實現(xiàn)芯片與系統(tǒng)其他部件在可靠性方面的最佳匹配,從而提高整個商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)的可靠性和任務(wù)成功率。

(三)標(biāo)準(zhǔn)化與模塊化發(fā)展

為了降低商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)的研發(fā)成本、提高系統(tǒng)的通用性與可擴展性,高可靠性芯片將朝著標(biāo)準(zhǔn)化與模塊化方向發(fā)展。制定統(tǒng)一的芯片接口標(biāo)準(zhǔn)、功能規(guī)范以及可靠性測試方法,使得不同供應(yīng)商的芯片能夠方便地集成到同一運動控制系統(tǒng)中,并實現(xiàn)互操作性。同時,開發(fā)基于標(biāo)準(zhǔn)化芯片的模塊化硬件平臺,通過靈活組合不同功能模塊,快速構(gòu)建滿足不同商業(yè)航天任務(wù)需求的運動控制系統(tǒng),縮短研發(fā)周期,提高系統(tǒng)的可靠性和市場競爭力。

(四)可靠性保障體系的完善

隨著商業(yè)航天產(chǎn)業(yè)的規(guī)模化發(fā)展,建立完善的高可靠性芯片可靠性保障體系至關(guān)重要。這包括加強芯片生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制與可靠性監(jiān)測,采用先進的制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)對芯片制造的各個環(huán)節(jié)進行實時監(jiān)控與數(shù)據(jù)分析,確保每一片芯片都符合嚴(yán)格的可靠性標(biāo)準(zhǔn)。同時,建立完善的芯片售后可靠性支持服務(wù),對在軌運行的芯片進行長期跟蹤監(jiān)測,及時收集故障信息,開展失效分析與改進工作,不斷優(yōu)化芯片的可靠性設(shè)計與生產(chǎn)工藝,為商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)提供持續(xù)可靠的芯片產(chǎn)品與技術(shù)支持。

六、結(jié)論

商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)對芯片的可靠性提出了極為嚴(yán)苛的要求,面臨著宇宙輻射、極端環(huán)境、長期運行等多重挑戰(zhàn)。面向商業(yè)航天中配置管理、啟動、通信、電源供電等關(guān)鍵高安全需求模塊,國科安芯提供抗輻照MCUAS32S601、抗輻照DCDC電源ASP4644S和ASP3605S、抗輻照CANFD芯片ASM1042S等低成本自主可控系列芯片,為商業(yè)航天任務(wù)的成功實施提供了有力保障。展望未來,隨著技術(shù)的不斷創(chuàng)新與發(fā)展,高可靠性芯片將在商業(yè)航天運動控制系統(tǒng)中發(fā)揮更加關(guān)鍵的作用,推動商業(yè)航天產(chǎn)業(yè)邁向新的高度。

審核編輯 黃宇

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    基于可靠性設(shè)計感知的EDA解決方案

    技術(shù)人員撰寫的。本文介紹了基于多物理場考慮的可靠性設(shè)計 (DFR) 工作流程的創(chuàng)新 EDA 解決方案,跨越了 IP 級別、芯片和封裝/PCB 級別。本文還概述了DFR增強的路線圖,包括早期可行
    的頭像 發(fā)表于 07-15 09:56 ?771次閱讀
    基于<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計感知的EDA<b class='flag-5'>解決方案</b>