近日,英飛凌的磁傳感器門(mén)類(lèi)再添新兵,第三代3D霍爾傳感器TLE493D-x3系列在經(jīng)歷兩代產(chǎn)品的迭代之后應(yīng)運(yùn)而生。相較于前一代產(chǎn)品,主要有如下變化:
供電范圍擴(kuò)展到5v并增加±50mT的量程范圍,從而可覆蓋更多應(yīng)用場(chǎng)景;
精度更高,在靈敏度溫漂和零點(diǎn)溫漂以及各軸匹配度漂移方面性能具有提升;
系列中所有型號(hào)均具有睡眠喚醒功能;
明確符合功能安全ASIL-B等級(jí)要求,方便客戶(hù)構(gòu)建ASIL-B以上等級(jí)的系統(tǒng);
增加SPI接口的型號(hào)TLE493D-P3I8,該型號(hào)工作溫度可達(dá)150℃。
該系列產(chǎn)品的型號(hào)如下:
兩種測(cè)量模式:
低功耗模式:芯片內(nèi)部定時(shí)觸發(fā)測(cè)量,可配置為4種定時(shí)采樣頻率16、31、125、1000Hz
主控模式:外部MCU對(duì)芯片測(cè)量進(jìn)行觸發(fā),最高采樣頻率可達(dá)7kHz
兩種模式均可配置為如下三種采樣值的組合:
3軸磁場(chǎng)+溫度
X軸磁場(chǎng)+Y軸磁場(chǎng)
X軸或Z軸磁場(chǎng)+溫度
三種量程:
量程范圍(mT)
靈敏度典型值(LSB14/mT)
長(zhǎng)量程:± 16029.5
短量程:± 10059
超短量程:± 50118
睡眠與喚醒功能:
睡眠功能指的是芯片被設(shè)置為低功耗模式時(shí),如果芯片感應(yīng)的磁場(chǎng)低于所設(shè)置閾值,則芯片處于休眠狀態(tài),以所設(shè)置頻率定時(shí)內(nèi)部進(jìn)行采樣并不再響應(yīng)來(lái)自MCU的通訊指令。
喚醒功能指的是在設(shè)定磁場(chǎng)閾值并使能該喚醒功能后,一旦作用于芯片的磁場(chǎng)超過(guò)閾值,INTN管腳會(huì)輸出低電平觸發(fā)脈沖,可用于喚醒SBC或者M(jìn)CU。X,Y,Z任意一個(gè)軸的閾值被超過(guò)就會(huì)觸發(fā)出脈沖。如果各軸的閾值保持在復(fù)位時(shí)的初始值沒(méi)有進(jìn)行修改,則表明該軸的睡眠喚醒功能沒(méi)有使能;如果所有軸的的閾值均保持復(fù)位初始值,則芯片會(huì)一直保持在喚醒狀態(tài),持續(xù)向外發(fā)出脈沖。
檢驗(yàn)功能
除了支持上面提到的三種采樣值組合外,芯片還提供三種自檢功能滿足用戶(hù)的診斷要求:
各軸霍爾偏置電壓檢測(cè)及供電電源檢測(cè)。這一功能主要是檢驗(yàn)施加在hall盤(pán)上的偏置電壓是否在規(guī)程內(nèi),數(shù)據(jù)手冊(cè)中不但規(guī)定了初始值的合規(guī)范圍,同時(shí)規(guī)定了全生命周期的漂移范圍。
修調(diào)功能及內(nèi)部電源檢測(cè)。這一功能主要是檢驗(yàn)hall和ADC的零點(diǎn)的旋轉(zhuǎn)修調(diào)功能和片內(nèi)穩(wěn)壓電路是否仍然正常工作。同樣地,數(shù)據(jù)手冊(cè)同時(shí)規(guī)定了其初始值和漂移值的范圍。
SAT檢測(cè)。以上兩種自檢功能主要側(cè)重于對(duì)芯片內(nèi)模擬電路的自檢,而SAT檢測(cè)主要是對(duì)片內(nèi)數(shù)字電路的測(cè)試,通過(guò)設(shè)置相關(guān)控制位,檢驗(yàn)芯片的輸出值是否與參考值相同。
溫度補(bǔ)償算法
數(shù)據(jù)手冊(cè)提供了三階溫度補(bǔ)償算法,用戶(hù)可以根據(jù)如下的公式通過(guò)獲得的Bx,By,Bz及溫度初始值計(jì)算得到補(bǔ)償值,從而進(jìn)一步消除溫漂對(duì)精度帶來(lái)的影響。
TLE493Dx3進(jìn)一步補(bǔ)充了現(xiàn)有的英飛凌磁傳感器產(chǎn)品序列,充分考慮了用戶(hù)在功能安全方面的需求,是頂柱模塊撥桿位置,換擋位置以及搖桿位置檢測(cè)等應(yīng)用場(chǎng)景的最佳選擇。英飛凌通過(guò)持續(xù)的技術(shù)迭代不斷為市場(chǎng)和用戶(hù)提供最具性?xún)r(jià)比的產(chǎn)品。
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原文標(biāo)題:520儒卓力新品快訊 | 英飛凌推出ASIL-B等級(jí)并具喚醒功能的第三代3D霍爾傳感器TLE493D-x3系列
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