動態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-10-12 08:09
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發(fā)布了文章 2024-09-20 08:10
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發(fā)布了文章 2024-09-04 08:05
【Moldex3D丨干貨】別耗費(fèi)過多時(shí)間在IC封裝建模
封裝為何需要CAE?封裝是半導(dǎo)體組件制造過程的最后一個(gè)環(huán)節(jié),會以環(huán)氧樹脂材料將精密的集成電路包覆在內(nèi),以達(dá)到保護(hù)與散熱目的。在芯片尺寸逐年縮小的趨勢下,封裝制程所要面臨的挑戰(zhàn)更趨復(fù)雜,牽涉到組件高密度分布、金屬接腳配置與電學(xué)性能等層面。若設(shè)計(jì)不良,可能會引發(fā)結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、縫合線、包封、散熱與變形等問題。為了控制實(shí)際生產(chǎn)過程中的不確定因素與風(fēng)險(xiǎn),應(yīng)在封裝的研發(fā)階段 -
發(fā)布了文章 2024-09-03 08:05
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發(fā)布了文章 2024-08-30 13:11
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發(fā)布了文章 2024-08-30 13:10
IC產(chǎn)業(yè)可靠度測試:以熱循環(huán)試驗(yàn)?zāi)M預(yù)測熱疲勞
簡介溫度循環(huán)試驗(yàn)(ThermalCyclingtests,TCT)是一種于IC產(chǎn)業(yè)可靠度測試當(dāng)中的重要測試項(xiàng)目之一。用以測試產(chǎn)品于反復(fù)升降的環(huán)境溫度下,是否能夠在設(shè)計(jì)的周期內(nèi)維持其質(zhì)量。TCT試驗(yàn)內(nèi)容是將封裝好的產(chǎn)品放入控溫環(huán)境中,以每分鐘5至15度的溫度變化率使產(chǎn)品反復(fù)承受一連串的高低溫變化。最常見的破壞模式來自于產(chǎn)品內(nèi)部組件因?yàn)闊崤蛎浵禂?shù)差異(CTEdi -
發(fā)布了文章 2024-08-13 08:35
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發(fā)布了文章 2024-08-10 08:35
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發(fā)布了文章 2024-08-06 08:35
在Moldex3D Mesh建模 (Prepare Model in Moldex3D Mesh)
底部填膠模塊的操作步驟1、實(shí)例化網(wǎng)格2、設(shè)定溢流區(qū)(overflow)環(huán)氧樹脂在流動過程中,溢出芯片區(qū)是可能的路線,故溢流區(qū)是必須的選項(xiàng)。設(shè)定實(shí)體網(wǎng)格屬性為溢流。溢流設(shè)定3、點(diǎn)擊SolidModelB.C.Setting設(shè)定底膠出口邊界條件底膠出口邊界條件設(shè)定,協(xié)助判斷沒有表面張力的位置,以避免熔膠注入不合理的區(qū)域。邊界條件設(shè)定4、設(shè)定進(jìn)澆點(diǎn)選擇表面網(wǎng)格并設(shè) -
發(fā)布了文章 2024-08-03 08:35