金鑒實驗室文章

• AEC-Q之高壓蒸煮試驗（PCT）2025-04-28 20:16

  

  在現(xiàn)代電子技術(shù)飛速發(fā)展的背景下，電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設(shè)備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗（PCT）作為一種關(guān)鍵的測試手段，為評估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學(xué)依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關(guān)鍵技術(shù)PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過將待測元件置于100%相對濕度（R.H.）的飽和蒸汽環(huán)境中，并施加一定的

  PCT 模擬電子 環(huán)境測試 288瀏覽量

• 聚焦離子束技術(shù)：納米加工與分析的利器2025-04-28 20:14

  

  聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam,FIB）作為一種前沿的納米加工與分析手段，憑借其獨特的優(yōu)勢在多個領(lǐng)域展現(xiàn)出強大的應(yīng)用潛力。本文將從技術(shù)原理、應(yīng)用領(lǐng)域、測試項目以及制樣流程等方面，對聚焦離子束技術(shù)進行全面剖析，以期為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和從業(yè)者提供有價值的參考。聚焦離子束技術(shù)核心聚焦離子束技術(shù)的核心在于利用電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的離子束，進而

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• LED燈珠變色發(fā)黑與失效原因分析2025-04-27 15:47

  

  LED光源發(fā)黑現(xiàn)象LED光源以其高效、節(jié)能、環(huán)保的特性，在照明領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。然而，LED光源在使用過程中出現(xiàn)的發(fā)黑現(xiàn)象，卻成為了影響其性能和壽命的重要因素。LED光源黑化的多重原因分析LED光源黑化是各大LED公司經(jīng)常碰到的問題。然而光源黑化只是表象，硫化、氯化、溴化、氧化、碳化和化學(xué)不兼容化等原因均會導(dǎo)致LED光源發(fā)黑的現(xiàn)象。由于缺乏專業(yè)的檢測設(shè)備和

  led LED光源 LED燈珠 954瀏覽量

• IGBT 柵極驅(qū)動器：電力電子系統(tǒng)的核心組件2025-04-27 15:45

  

  在電力電子行業(yè)，隨著對功率電平和開關(guān)頻率要求的不斷提升，半導(dǎo)體器件的性能面臨更高的挑戰(zhàn)。金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管（MOSFET）和絕緣柵雙極晶體管（IGBT）憑借其高效性和可靠性，成為中高功率開關(guān)電源應(yīng)用中的首選。而IGBT柵極驅(qū)動器作為控制和驅(qū)動IGBT的核心器件，其重要性愈發(fā)顯著。IGBT柵極驅(qū)動器的結(jié)構(gòu)剖析1.輸入端：信號接收的關(guān)鍵IGBT柵極驅(qū)動

  IGBT 柵極驅(qū)動器 電力電子 386瀏覽量

• 什么是氬離子拋光？2025-04-27 15:43

  

  氬離子拋光技術(shù)氬離子拋光技術(shù)（ArgonIonPolishing,AIP）作為一種先進的樣品制備方法，為電子顯微鏡（SEM）和電子背散射衍射（EBSD）分析提供了高質(zhì)量的樣品表面。下面將介紹氬離子拋光的原理、特點、技術(shù)優(yōu)勢、限制以及應(yīng)用實例，以展現(xiàn)其在材料科學(xué)中的重要性。氬離子拋光的原理氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用氬離子束對樣品表面進行精確的物理蝕刻。在這個

  拋光 電子顯微鏡 269瀏覽量

• 最新！中國RoHS管控體系升級要點解讀2025-04-27 15:42

  

  2025年4月14日，工業(yè)和信息化部科技司發(fā)布公告，《電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用要求》等3項強制性國家標(biāo)準(zhǔn)（報批稿）的編制工作。中國RoHS管控體系在幾大方面進行了全面升級，此次升級的核心內(nèi)容之一是將有害物質(zhì)的管控種類從原來的6類擴充至10類，新增的四類物質(zhì)均為鄰苯類物質(zhì)使用要求的此次升級還對電器電子產(chǎn)品有害物質(zhì)的限制使用要求進行了全面規(guī)范。根據(jù)最新規(guī)定，

  RoHS 電器 597瀏覽量

• AEC-Q102中的破壞性物理分析（DPA）2025-04-25 17:44

  

  AEC-Q102與DPA概述在汽車電子系統(tǒng)中，光電半導(dǎo)體器件的可靠性至關(guān)重要。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)運而生，它為汽車電子中的光電半導(dǎo)體器件提供了一套全面的測試規(guī)范，確保這些器件能夠在極端溫度波動和惡劣環(huán)境下保持穩(wěn)定運行。而破壞性物理分析（DPA）作為AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的核心組成部分，通過一系列物理和化學(xué)手段對器件進行深入剖析，旨在發(fā)現(xiàn)潛在的制造缺陷和材料問

  DPA 半導(dǎo)體器件 汽車電子 297瀏覽量

• 安規(guī)測試常見項目2025-04-25 17:42

  

  產(chǎn)品安全合規(guī)性，簡稱“安規(guī)”，是指確保產(chǎn)品在使用過程中不會對消費者造成傷害的一系列標(biāo)準(zhǔn)和測試流程。安規(guī)的重要性安規(guī)測試是評估電子產(chǎn)品安全性的重要手段，它包括對產(chǎn)品可能帶來的電擊、火災(zāi)、機械傷害和化學(xué)傷害等風(fēng)險的評估。這些測試流程不僅確保了產(chǎn)品的安全性，也提高了消費者對產(chǎn)品的信任度。安規(guī)測試的流程通常包括以下幾個步驟：1.了解標(biāo)準(zhǔn)和要求：制造商需要了解目標(biāo)市場

  安規(guī)測試 電子產(chǎn)品 558瀏覽量

• 什么是透射電子顯微鏡（TEM）？2025-04-25 17:39

  

  透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡稱TEM，是一種高分辨率的微觀分析儀器，自1933年發(fā)明以來，已成為探索微觀世界的強大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下，電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)過聚焦后形成細(xì)小的電子束，穿過極薄的樣品。當(dāng)電子束與樣品中的原子相互作用時，會發(fā)生散射、衍射等現(xiàn)象，透射束的強度也會隨之改變。通過收集這些信號，TEM能夠生成高分辨率的圖像，揭示樣品的形貌、

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• 聚焦離子束（FIB）技術(shù)的應(yīng)用原理2025-04-23 14:31

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種極為精細(xì)的樣品制備與加工手段，它能夠?qū)饘?、合金、陶瓷等多種材料進行加工，制備出尺寸極小的薄片。這些薄片的寬度通常在10~20微米，高度在10~15微米，厚度僅為100~150納米。它不僅可以對納米材料的指定位置進行截面處理，以供掃描電子顯微鏡（SEM）進行形貌分析，還能高效制備透射電子顯微鏡（TEM）所需的指定位置樣品，從而成

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