ADF4350簡介
ADF4350具有一個集成電壓控制振蕩器(VCO),其基波輸出頻率范圍為2200MHz至4400MHz。結(jié)合外部環(huán)路濾波器和外部基準頻率使用時,可實現(xiàn)小數(shù)N分頻或整數(shù)N分頻鎖相環(huán)(PLL)頻率合成器。所有片內(nèi)寄存器均通過簡單的三線式接口進行控制。該器件采用3.0V至3.6V電源供電,不用時可以關(guān)斷。
ADF4350特性
輸出頻率范圍:137.5MHz至4400MHz
小數(shù)N分頻頻率合成器和整數(shù)N分頻頻率合成器
低相位噪聲VCO
可編程1/2/4/8/16分頻輸出
均方根(RMS)抖動:0.5ps(典型均方根值)
電源電壓:3.0V至3.6V
模擬和數(shù)字鎖定檢測
在寬帶寬內(nèi)快速鎖定模式
周跳減少
1.8V邏輯兼容
可編程雙模預分頻器:4/5或8/9
可編程輸出功率水平
RF輸出靜音功能
三線式串行接口
adf4350引腳圖及功能



adf4350時序特性

adf4350應用電路
本電路利用低噪聲、低壓差(LDO)線性調(diào)節(jié)器為寬帶集成PLL和VCO供電。寬帶壓控振蕩器(VCO)可能對電源噪聲較為敏感,因此,為實現(xiàn)最佳性能,建議使用超低噪聲調(diào)節(jié)器。
圖1所示電路使用完全集成的小數(shù)N分頻PLL和VCO ADF4350,它可產(chǎn)生137.5 MHz至4400 MHz范圍內(nèi)的頻率。ADF4350采用超低噪聲3.3 V ADP150調(diào)節(jié)器供電,以實現(xiàn)最佳LO相位噪聲性能。
ADP150 LDO的積分均方根噪聲較低,僅為9 μV(10 Hz至100 kHz),有助于盡可能降低VCO相位噪聲并減少VCO推壓的影響(等效于電源抑制)。
圖2是評估板的照片,它利用ADP150 LDO為ADF4350供電。ADP150代表業(yè)界噪聲最低、封裝最小、成本最低的LDO,采用4引腳、0.8 mm x 0.8 mm、0.4 mm間距WLCSP封裝或方便的5引腳TSOT封裝。因此,在設(shè)計中加入ADP150對系統(tǒng)成本和電路板面積的影響極小,但卻能顯著改善相位噪聲性能。
adf4350編程使用總結(jié)
近來項目中使用了ADI公司的ADF4350芯片來產(chǎn)生3.45GHz的本振信號。調(diào)試中也遇到了一些問題,現(xiàn)在跟大家分享一下設(shè)計的過程和調(diào)試經(jīng)歷。
一、設(shè)計原理
鎖相環(huán)的基本原理,相信大家都很熟悉,在此就不陳述了。設(shè)計中使用10MHz晶振或者信號源做為參考輸入,差分3.45GHz輸出。采用小數(shù)分頻模式,低噪聲模式,鑒相器頻率為20MHz(芯片內(nèi)部將輸入時鐘倍頻),環(huán)路濾波器帶寬為100KHz,分頻比172.5。設(shè)計中使用FPGA(XilinxV5FX70T)來進行SPI配置。
另外,設(shè)計時將LD管腳連接上一個LED燈,程序中配置成模擬鎖定,來觀察鎖相環(huán)是否鎖定。相關(guān)的verilog配置程序在附件中[hide][/hide]。
寄存器配置的數(shù)據(jù)為:
Regisiter5:
32‘h00C00005;
Regisiter4:
32’h000803FC;
Regisiter3:
32‘h000101B3;
Regisiter2:
32’h06005E42;
Regisiter1:
32‘h0800FD01;
Regisiter0:
32’h00563E80;
鎖相環(huán)原理圖設(shè)計主要包括電源電路設(shè)計,F(xiàn)PGA輸入信號電路設(shè)計,管腳去藕設(shè)計,外接環(huán)路濾波器設(shè)計,輸出電路匹配設(shè)計,具體電路圖見圖1。
圖1ADF4350外圍電路圖
1.1管腳去藕設(shè)計:
由于PLL電源和電荷泵電源質(zhì)量要求比較高,所以電源要具有良好的退耦,相比之下,電荷泵的電源具有更加嚴格的要求。具體實現(xiàn)如下:
在電源引腳出依次放置0.1μF,0.01μF,100pF的電容。最大限度濾除電源線上的干擾。大電容的等效串聯(lián)電阻往往較大,而且對高頻噪聲的濾波效果較差,高頻噪聲的抑制需要用小容值的電容。如圖2可以看到,隨著頻率的升高,經(jīng)過一定的轉(zhuǎn)折頻率后,電容開始呈現(xiàn)電感的特性。不同的電容值,其轉(zhuǎn)折頻率往往不同,電容越大,轉(zhuǎn)折頻率越低,其濾除高頻信號的能力越差。
圖2電容阻抗特性分析
1.2環(huán)路濾波器設(shè)計
環(huán)路濾波器使用ADI公司的ADIsimPLL來設(shè)計,使用的是無源低通濾波器,帶寬100KHz(如圖3)。圖中電容器C1來自電荷泵(ADF4350的CP引腳的脈沖轉(zhuǎn)化為直流電壓,但是根據(jù)對開環(huán)傳遞函數(shù)分析,它存在一個二階極點,會引起環(huán)路的不穩(wěn)定。所以引入了R1和C2穩(wěn)定環(huán)路。它給直流控制電壓帶來的紋波干擾,可由C3濾除。
圖3環(huán)路濾波器原理圖
1.3輸出電路匹配
輸出電路采用datasheet建議的匹配電路來實現(xiàn)(如圖4)。
圖4RF輸出匹配2圖
二、測試過程
2.1測試平臺如圖5所示。
2.2測試步驟
1、檢查電路焊接無誤,上電查看電流在正常值范圍,電路中電壓測量正常。
2、為了測試外接晶振性能,先使用信號源產(chǎn)生20MHz的時鐘輸入信號接到CLK管腳。再接上信號源、頻譜儀,用FPGA將配置信息下載到PLL,PLL輸出隨每次通斷電結(jié)果時有時無,有輸出時頻率也不對。
圖5測試平臺
3、檢查電路連接,發(fā)現(xiàn)FPGA和PLL沒有共地,共地后測試,仍然沒有結(jié)果,此時電流在80mA左右,datasheet上查看正常工作時電流在140mA左右。
4、分析:有幾次信號輸出,說明電路能夠正常工作,主要可能是配置數(shù)據(jù)不正確或者沒有配置下去。
5、將這些電容拿掉,重新配置,結(jié)果還是不對,是否是SPI配置速度太快,PLL芯片來不及響應,當前配置速度為10MHz,雖然PLL的datasheet上說明配置速度最高可以支持到20MHz,但也只是給出了最大值,沒有典型值,決定將速度改低試試。
6、將速度改為1M,重新配置,結(jié)果還是不對,使用邏輯分析儀抓取PLL這邊SPI數(shù)據(jù)。
7、再次使用邏輯分析儀抓取PLL這邊SPI數(shù)據(jù)。發(fā)現(xiàn)在數(shù)據(jù)和LE上有很多毛刺,持續(xù)時間達到100ns,PLL的datasheet顯示LE引腳只要持續(xù)高電平20ns即可將數(shù)據(jù)鎖存進PLL,毛刺會干擾數(shù)據(jù)鎖存。
圖6配置數(shù)據(jù)抓取結(jié)果
11、在DATA,SCLK管腳上焊接并聯(lián)到地的電容,另外在LE引腳也加上并聯(lián)到地的電容,以濾除毛刺(如圖)。重新配置,此時抓取的波形顯示已沒有毛刺(如圖8),但是依然無法鎖定。
圖7FPGA與ADF4350控制接入圖示
圖8配置數(shù)據(jù)抓取結(jié)果
12、重新焊接環(huán)路濾波器,鎖定,LED燈亮,輸出3.45GHz信號。測試的相位噪聲結(jié)果如下:10KHz的相位噪聲如圖9所示
-76.09dBc/Hz1KHzoffset@3.45GHz
-87.50dBc/Hz10KHzoffset@3.45GHz
圖[font=Verdana]9
10KHzoffset@3.45GHz相位噪聲
三、測試中的注意事項
測試中還遇到了一些其它的問題,在此不一一詳述,現(xiàn)在分享下總結(jié)的測試步驟及問題總結(jié)。
1.檢查電路連接無誤,排除短路等一些問題。
2.上電,測試電源電壓,電流是否正確,參考時鐘有無輸出。
3.先把ADF4350板子上電,然后進行SPI配置。要注意上電順序相當重要,如果ADF4350和FPGA同時供電,可在程序上作一定的延時來避免同時上電。如果配置沒有結(jié)果,可以通過邏輯分析儀來抓取配置數(shù)據(jù),分析程序是否正確。如果配置數(shù)據(jù)無問題,可以在clk,data,le管腳并聯(lián)10K的電阻來保證數(shù)據(jù)能下進ADF4350。
4.如果配置數(shù)據(jù)沒有問題,輸出鎖定的頻率不正確,很大的可能是環(huán)路濾波器焊接的問題,根據(jù)調(diào)試經(jīng)驗,這種情況下,大部分都能通過重新焊接來鎖定。
5.因為小數(shù)分頻雜散比較大,所以可以選擇整數(shù)分頻模式。調(diào)試中也進行了相關(guān)的實驗,影響不是很大,大家也可以做相關(guān)的實驗。
6.參考時鐘的信號質(zhì)量對芯片的時鐘輸出質(zhì)量影響很大,所以盡量選用質(zhì)量好的時鐘源。
7.環(huán)路濾波器的帶寬選擇,測試最終選擇了100KHz的環(huán)路帶寬,測試中也嘗試了更低的環(huán)路帶寬,比如50KHz,但是影響鎖定時間或者無法鎖定。
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