主要參數(shù)：

　　·半導體器件高精度測量

　　-上限達2000V或電流到10A的源（370A）

　　-上限到3000V（371A）

　　-上限到220W（370A）

　　-上限到400A（371A）

　　-1nA的測量分辨率

　　-上限到3000W（371A）

　　·上限到2mV的測量分辨率（370A）

　　·波形對比

　　·包絡顯示

　　·波形平均

　　·點光標（370A）

　　·Kelvin傳感測量

　　·全程控

　　·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調(diào)用

　　應用

　　手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量

　　來料檢查

　　生產(chǎn)測試

　　過程監(jiān)視及質(zhì)量控制

　　數(shù)據(jù)報告的生成

　　元件配對

　　失效分析

　　工程測試

　　交互式程控

　　所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非

　　易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

　　測試夾具

　　測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳

　　感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

　　370A程控特性曲線圖示儀

　　370A是全球著名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。

　　在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作。

　　在制造過程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。

　　370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。

　　技術指標集電極電源模式 AC，±DC，±泄露，±整流的正弦波范圍***大峰值電流（±）峰值電流（脈沖式）（±）16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器模式階梯：DC，80μS脈沖，300μS脈沖階梯量程-電流：50nA到200mA，按1-2-5順序電壓：50mV到2V，按1-2-5順序偏置***大到±10X階梯幅度階梯數(shù) 0到10測量特性集電極電流-測試量程：100nA/div（1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出＋0.05div設定值（點光標）發(fā)射極電流-測試量程：1nA/div（10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出＋0.05div設定值＋1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1。

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