CMOS集成邏輯門的邏輯功能與參數(shù)測試
一、實驗?zāi)康?BR>1．掌握CMOS集成門電路的邏輯功能和器件的使用規(guī)則;
2．學(xué)會CMOS與非門主要參數(shù)的測試方法。
二、預(yù)習(xí)要求
1．復(fù)習(xí)CMOS門電路的工作原理;
2．了解四2輸入與非門CD4011，四2輸入或門CD4071，四2輸入與門CD4082及四異或門CD4030等門電路的引腳功能;
3．各種CMOS門電路閑置輸入端應(yīng)如何處理？
三、 實驗原理
1． CMOS為英文Complementary Metal Oxide Semiconductor的簡稱，譯為互補--金屬—氧化物—半導(dǎo)體存儲器。CMOS集成電路是將N溝道MOS晶體管和P溝道MOS晶體管同時用于一個集成電路中，成為組合二種溝道MOS管性能的更優(yōu)良的集成電路。
2．CMOS集成電路的主要優(yōu)點：
（1）電源電壓范圍廣，可在+3V~+18V范圍內(nèi)正常運行；
（2）功耗低。相比之下，TTL器件的功耗則大得多；
（3）輸入阻抗高，通常大于1010?，遠(yuǎn)高于TTL器件；
（4）接近理想的傳輸特性，輸出高電平可達(dá)電源電壓的99.9%以上，低電平可達(dá)電源電壓的0.1%以下；
（5）扇出系數(shù)非常大，負(fù)載能力強。
3．CMOS與非門的主要參數(shù)
CMOS與非門主要參數(shù)的定義及測試方法與TTL與非門電路相仿，參見實驗二。
四、實驗儀器與器件
1. TH-SZ型數(shù)字電路實驗箱????????? 2. UT56數(shù)字萬用表
3. 四2輸入與非門CD4011、 四異或門CD4030各一片
五、 實驗內(nèi)容和步驟
1. 驗證四2輸入與非門CD4011和四異或門CD4030的邏輯功能，判斷其好壞。（可以取器件中的一個門進(jìn)行實驗）。圖3-1分別為兩者的引腳排列圖：