除了新能源，還有哪些產(chǎn)品需要做可靠性測(cè)試？

除了新能源汽車需要做快速溫變?cè)囼?yàn)箱可靠性檢測(cè)，還有什么產(chǎn)品需要進(jìn)行可靠性檢測(cè)呢? 我們一起來(lái)看看？

2023-11-20 標(biāo)簽：檢測(cè)試驗(yàn)箱可靠性測(cè)試 691 0

淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（下）

器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說(shuō)明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器...

2023-11-10 標(biāo)簽：發(fā)光二極管光電子器件可靠性測(cè)試 3004 0

大型工業(yè)包裝跌落測(cè)試與可靠性評(píng)估：確保產(chǎn)品抗壓性能的重要環(huán)節(jié)

大型工業(yè)包裝跌落測(cè)試，用于評(píng)估產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中受到?jīng)_擊和振動(dòng)影響，通過(guò)模擬實(shí)際運(yùn)輸過(guò)程中的各種情況，例如車輛在道路行駛過(guò)程中急剎、顛簸、轉(zhuǎn)彎等環(huán)境，對(duì)包...

2023-10-26 標(biāo)簽：測(cè)試工業(yè)可靠性測(cè)試 708 0

淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GR-468（上）

GR-468針對(duì)的是電信級(jí)應(yīng)用的長(zhǎng)壽命光電子器件。涉及激光器、發(fā)光二極管LED、探測(cè)器、EML電吸收調(diào)制器及其他外調(diào)制器等。該標(biāo)準(zhǔn)是為這些器件能夠有20...

2023-10-19 標(biāo)簽：光電子器件器件可靠性測(cè)試 4188 0

半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些

在半導(dǎo)體器件中，常見(jiàn)的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之...

2023-07-13 標(biāo)簽：半導(dǎo)體存儲(chǔ)可靠性測(cè)試 3967 0

高低溫濕熱試驗(yàn)箱的防銹處理

高低溫濕熱試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品的可靠性測(cè)試，大多數(shù)的廠家使用的內(nèi)箱材質(zhì)都是304不銹鋼，是能較好控制溫度和濕度的試驗(yàn)箱的電控主部件，此不銹鋼材質(zhì)具有優(yōu)質(zhì)...

2023-04-06 標(biāo)簽：試驗(yàn)箱可靠性測(cè)試 714 0

鋰電池可靠性測(cè)試

隨著3C產(chǎn)品對(duì)鋰電池的需求穩(wěn)步增長(zhǎng)，手機(jī)，筆記本電腦，以及新能源汽車市場(chǎng)規(guī)模的逐步擴(kuò)大和儲(chǔ)能電池需求的擴(kuò)大，鋰電池的生產(chǎn)規(guī)模逐年增加，鋰電池制造商將繼續(xù)...

2023-02-15 標(biāo)簽：鋰電池可靠性測(cè)試電池 1162 0

什么是三綜合試驗(yàn)/可靠性三綜合試驗(yàn)是什么意思

可靠性機(jī)械沖擊測(cè)試是什么意思？機(jī)械沖擊測(cè)試是什么？三綜合試驗(yàn)是將溫度+濕度+振動(dòng)三種環(huán)境應(yīng)力同時(shí)施加的綜合試驗(yàn)，綜合環(huán)境的作用能更真實(shí)、更實(shí)際的反應(yīng)出產(chǎn)...

2022-12-30 標(biāo)簽：試驗(yàn)可靠性測(cè)試 1738 0

芯片做哪些可靠性測(cè)試項(xiàng)目

芯片可靠性測(cè)試主要分為環(huán)境試驗(yàn)和壽命試驗(yàn)兩個(gè)大項(xiàng)，其中環(huán)境試驗(yàn)中包含了機(jī)械試驗(yàn)（振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、離心加速試驗(yàn)、引出線抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)和引出線彎曲試驗(yàn)）、...

2022-12-29 標(biāo)簽：芯片單芯片可靠性測(cè)試 7463 0

MK存儲(chǔ)產(chǎn)品可靠性測(cè)試

任何一顆合格的存儲(chǔ)芯片，都是由晶圓(Wafer)經(jīng)過(guò)一系列的測(cè)試，將符合規(guī)格要求的Die取下，封裝形成日常所見(jiàn)的芯片。MK米客方德的存儲(chǔ)產(chǎn)品也是如此，在...

2022-11-17 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試 1542 0

虹科電子 | 設(shè)備電容老化危害大，出廠測(cè)試可別輕視它！

作為電子元器件測(cè)試中的重要環(huán)節(jié)，電容失效性測(cè)試一直以來(lái)都是電容生產(chǎn)和應(yīng)用廠家繞不開(kāi)的話題。本文將介紹在當(dāng)今快速工業(yè)化的大環(huán)境下，進(jìn)行高效率的電容失效性測(cè)...

2021-10-12 標(biāo)簽：批量測(cè)試可靠性測(cè)試電容老化 3689 0

失效分析和可靠性測(cè)試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備

來(lái)源：《半導(dǎo)體芯科技》雜志 掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM，Scanning Acoustic Microscopy)已成為半導(dǎo)體供應(yīng)鏈完整性、在線制造、研發(fā)、...

2023-04-14 標(biāo)簽：傳感器SAM失效分析 1720 0

掃描電鏡在造紙研究中的應(yīng)用 掃描電鏡的原理和特點(diǎn)

1 掃描電鏡的原理和成像特點(diǎn) 1.1掃描電鏡的原理 SEMEDS有關(guān)的三個(gè)信號(hào)： 1、二次電子SE，來(lái)自樣品的核外電子，用于SE成像。 2、背散射電子B...

2021-12-23 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試掃描電鏡 1856 0

二醋酸SCA納米纖維的制備與性能表征

納米纖維因?yàn)槠鋬?yōu)良的比表面積、高孔隙率、量子效應(yīng)及優(yōu)異的光電性能，受到全世界學(xué)者的廣泛關(guān)注，并在研究方法上取得了令人欣慰的成果。靜電紡絲技術(shù)是目前制備納...

2021-12-23 標(biāo)簽：可靠性測(cè)試納米纖維 1298 0