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標(biāo)簽 > 測試機(jī)
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ClassⅠ 設(shè)備是指可接觸之導(dǎo)體零件連接至接地保護(hù)導(dǎo)體;當(dāng)基本絕緣失效時(shí),接地保護(hù)導(dǎo)體必須能承受失效誤電流,也就是當(dāng)基本絕緣失效時(shí),可接觸零件不可變成...
2024-04-08 標(biāo)簽:電力系統(tǒng)測試機(jī)耐壓測試 2.3萬 0
聊聊IC測試機(jī)(1)ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介
ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào),同時(shí)監(jiān)測芯片的輸出管腳,看其輸出信號(hào)是否是...
導(dǎo)通孔起線路互相連結(jié)導(dǎo)通的作用,電子行業(yè)的發(fā)展,同時(shí)也促進(jìn)PCB的發(fā)展,也對印制板制作工藝和表面貼裝技術(shù)提出更高要求。
隨著電子產(chǎn)品向“輕、薄、短、小”方向發(fā)展,PCB也向高密度、高難度發(fā)展,因此出現(xiàn)大量SMT、BGA的PCB,而客戶在貼裝元器件時(shí)要求塞孔,塞孔主要有五個(gè)作用
HBM(Human Body Model) 驗(yàn)證測試已經(jīng)成為IC 防靜電等級的必測項(xiàng)目,一般是直接委外第三方實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行驗(yàn)證,但卻不知道自己的IC用的靜電...
半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測試功能由測試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測晶圓/芯片揀選至測試機(jī)進(jìn)行檢測。
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測試
CP(Chip Probing)測試也叫晶圓測試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對wafer進(jìn)行測試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)芯片測試測試機(jī) 2708 0
圓柱電池生產(chǎn)裝配線的設(shè)計(jì)及未來趨勢
圓柱18650電池是被研究得最多、技術(shù)討論最充分的電池品種。單體主要由正極、負(fù)極、隔膜、正極負(fù)極集電極、安全閥、過流保護(hù)裝置、絕緣件和殼體共同組成。殼體...
2023-11-21 標(biāo)簽:鋰電池伺服系統(tǒng)測試機(jī) 2415 0
液冷高低溫測試?yán)渌畽C(jī)超高溫報(bào)警原因與解決方案
液冷高低溫測試?yán)渌畽C(jī)的超高溫報(bào)警問題,可能由多種因素引起,包括高壓報(bào)警和水溫超高溫報(bào)警。通過對冷凝器的散熱問題、制冷劑量的控制、溫控器的參數(shù)設(shè)置以及冷卻...
2024-12-20 標(biāo)簽:冷水機(jī)測試機(jī)試驗(yàn)設(shè)備 1530 0
貼片推力測試是電子設(shè)備制造過程中不可或缺的一環(huán)。在這個(gè)數(shù)字化時(shí)代,我們離不開各種電子設(shè)備,如手機(jī)、電腦、平板等。然而,這些設(shè)備的制造并不簡單,其中的一個(gè)...
金絲鍵合強(qiáng)度測試儀試驗(yàn)方法:鍵合拉脫、引線拉力、鍵合剪切力
金絲鍵合強(qiáng)度測試儀是測量引線鍵合強(qiáng)度,評估鍵合強(qiáng)度分布或測定鍵合強(qiáng)度是否符合有關(guān)的訂購文件的要求。鍵合強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)可應(yīng)用于采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊或有關(guān)...
執(zhí)行該命令是看看有沒有adb可連接的設(shè)備,如果后面顯示的是device那么就可以了,如果是offline,那么請執(zhí)行adb kill-server或重啟...
2023-10-15 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)測試機(jī)安卓 983 0
汽車電子芯片推拉力測試機(jī)測試流程的幾個(gè)關(guān)鍵步驟
在現(xiàn)代汽車技術(shù)迅猛發(fā)展的今天,汽車電子產(chǎn)品的可靠性已成為確保車輛性能和乘客安全的關(guān)鍵因素。標(biāo)準(zhǔn)下的鍵合線剪切試驗(yàn),作為評估這些產(chǎn)品中關(guān)鍵連接點(diǎn)強(qiáng)度的一項(xiàng)...
芯片焊點(diǎn)推拉力測試機(jī)測試模塊、夾具、鉤針和推刀配置
芯片焊點(diǎn)鍵合面上的金絲球鍵合或封裝鍵合面上的鋁楔形鍵合的鍵合強(qiáng)度測定方法-推拉力測試機(jī),可在器件封裝前或封裝后進(jìn)行測定。鍵合強(qiáng)度的推拉力測量在確定如下兩...
高低溫冷卻液測試機(jī)進(jìn)出水溫差過小的原因分析
高低溫冷卻液測試機(jī)在多種行業(yè)中扮演著重要的角色,精確的溫差控制對于設(shè)備性能測試至關(guān)重要。當(dāng)遇到進(jìn)出水溫差過小的情況時(shí),用戶應(yīng)通過以上的原因分析和解決方案...
2024-12-20 標(biāo)簽:冷水機(jī)測試機(jī)試驗(yàn)設(shè)備 797 0
哪些因素會(huì)影響高低溫恒溫試驗(yàn)箱的溫度偏差?
高低溫恒溫試驗(yàn)箱的溫度偏差可能受到多種因素的影響,以下是主要的一些因素: 1、設(shè)備質(zhì)量:試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)和制造質(zhì)量會(huì)直接影響其溫度控制精度。例如,溫度傳...
鹽霧試驗(yàn)作為一種重要的腐蝕試驗(yàn)方法,廣泛應(yīng)用于評估材料、涂層及產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能。GB/T10125-2012《人造氣氛腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)》、GB/T2...
由于試驗(yàn)箱在測試過程中可能會(huì)產(chǎn)生塵埃或其他殘留物,因此定期清潔至關(guān)重要。建議每月至少進(jìn)行一次全面清潔,包括箱體內(nèi)部、觀察窗以及各種傳感器。使用柔軟的...
2024-04-27 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱測試機(jī)產(chǎn)品測試 573 0
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