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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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氣密性測(cè)試結(jié)果重復(fù)性問(wèn)題分析與解決方案
在工廠做產(chǎn)品測(cè)試時(shí),我們經(jīng)常會(huì)遇到這樣一個(gè)煩心事:明明是同一個(gè)產(chǎn)品,用同樣的方法測(cè)試,可測(cè)出來(lái)的結(jié)果卻總是不一樣。這不僅讓生產(chǎn)部門很頭疼,也讓質(zhì)檢人員難...
一機(jī)械碰撞防護(hù)等級(jí)(IK01~IK10)IK是指設(shè)備外殼的防沖擊防護(hù)等級(jí),IK類似于IP防護(hù)等級(jí),對(duì)于室外電子設(shè)備,無(wú)論是架空,地埋還是普通室外放置,都...
2025-03-05 標(biāo)簽:測(cè)試機(jī)械防護(hù)等級(jí) 594 0
氣密性檢測(cè)儀NG件測(cè)試合格?揭秘溫度對(duì)檢測(cè)的影響
在工業(yè)生產(chǎn)中,氣密性測(cè)試就像給產(chǎn)品做一次「嚴(yán)格體檢」,區(qū)分產(chǎn)品密封合格(OK)品和不合格(NG)品。每一件不合格(NG)的產(chǎn)品都可能意味著巨大的經(jīng)濟(jì)損失...
設(shè)計(jì)芯片:半導(dǎo)體制造的起點(diǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)品的制造始于芯片設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)階段是整個(gè)制造過(guò)程的第一步,工程師們根據(jù)產(chǎn)品所需的功能來(lái)設(shè)計(jì)芯片。芯片設(shè)計(jì)完成后,下一步是將...
2025-01-06 標(biāo)簽:測(cè)試半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì) 587 0
鴻蒙語(yǔ)言基礎(chǔ)類庫(kù):ohos.application.testRunner TestRunner 測(cè)試
TestRunner模塊提供了框架測(cè)試的能力。包括準(zhǔn)備單元測(cè)試環(huán)境、運(yùn)行測(cè)試用例。
電機(jī)臺(tái)架環(huán)境試驗(yàn)箱采購(gòu)指南
在電機(jī)制造和研發(fā)領(lǐng)域,電機(jī)臺(tái)架環(huán)境試驗(yàn)箱是不可或缺的重要設(shè)備。它不僅能夠幫助工程師全面評(píng)估電機(jī)在不同環(huán)境下的性能表現(xiàn),還能為電機(jī)的設(shè)計(jì)優(yōu)化、質(zhì)量控制和故...
2024-12-13 標(biāo)簽:測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 583 0
基于性能測(cè)試工具A-pache ab實(shí)現(xiàn)網(wǎng)格服務(wù)的功能測(cè)試和壓力測(cè)試
通過(guò)對(duì)源代碼的分析及其流程的剖析可得出Apache ab存在一些不足,主要表現(xiàn)在沒(méi)有完整地實(shí)現(xiàn)HTTP/1.x,僅接受某些“預(yù)想”的響應(yīng)格式;請(qǐng)求分布過(guò)...
"金葉儀器:打造工地?fù)P塵噪音在線監(jiān)測(cè)儀的先鋒"您是否曾經(jīng)在工地上忍受過(guò)揚(yáng)塵和噪音的困擾?隨著城市建設(shè)的加速,工地?fù)P塵...
2023-11-25 標(biāo)簽:測(cè)試監(jiān)測(cè) 582 0
隨著無(wú)線通信技術(shù)的迅猛進(jìn)步,工程師們面臨著測(cè)試需求日益復(fù)雜化的挑戰(zhàn)。市場(chǎng)對(duì)更高頻率、更寬帶寬以及如OFDM和高階QAM這類復(fù)雜調(diào)制格式的需求不斷增加,這...
2025-02-28 標(biāo)簽:測(cè)試無(wú)線通信信號(hào)分析儀 582 0
LM-80測(cè)試:評(píng)估LED燈具的壽命與性能
LM80測(cè)試簡(jiǎn)介L(zhǎng)M80測(cè)試是由北美照明工程協(xié)會(huì)(IESNA)與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)(ANSI)聯(lián)合發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn),主要用于評(píng)估LED器件的流明維持率和顏色...
在制造業(yè)中,產(chǎn)品的氣密性檢測(cè)是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié),直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性。在這一領(lǐng)域,氣密性檢測(cè)儀憑借其他優(yōu)勢(shì)已經(jīng)成為許多企業(yè)的選擇。接下來(lái),我將...
規(guī)范中與訪問(wèn)重疊地址相關(guān)的一些細(xì)微差別討論
與協(xié)議的這一方面相比,需要注意的重要一點(diǎn)是,此要求不適用于 WriteBack 和 WriteClean 事務(wù),盡管規(guī)范中沒(méi)有明確說(shuō)明。將上述規(guī)則應(yīng)用于...
氣密測(cè)試解決方案---汽摩發(fā)動(dòng)機(jī)
應(yīng)用背景發(fā)動(dòng)機(jī)作為汽車和摩托車最關(guān)鍵的心臟部位,整體的安全性可想而知,作為汽車、摩托車發(fā)動(dòng)機(jī)最必要的一環(huán)---氣密性檢測(cè)也是各個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)生產(chǎn)廠家最為關(guān)注的...
2024-11-26 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)測(cè)試摩托車 571 0
inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱材料拉伸測(cè)試
上海伯東代理美國(guó) inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱通過(guò)可設(shè)計(jì)的孔徑, 端口直接集成到拉伸測(cè)試裝置. 將溫度測(cè)試與拉伸測(cè)試相結(jié)合, 進(jìn)行材料拉伸高低...
2023-12-01 標(biāo)簽:測(cè)試設(shè)備高低溫試驗(yàn)箱 570 0
如何測(cè)試開(kāi)關(guān)電源表征開(kāi)關(guān)模式電源的工作需要廣泛的測(cè)量。大部分所需的測(cè)量都可以使用示波器完成。然而,許多工程師仍然手動(dòng)在示波器上進(jìn)行這些測(cè)量,這是非常耗時(shí)...
2024-09-04 標(biāo)簽:測(cè)試開(kāi)關(guān)電源儀器 569 0
射頻芯片有哪些測(cè)試項(xiàng)一、射頻芯片測(cè)試的方法射頻芯片測(cè)試主要包括兩種方法:實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和生產(chǎn)線測(cè)試。實(shí)驗(yàn)室測(cè)試主要用于評(píng)估射頻芯片在不同環(huán)境下的性能,包括發(fā)...
快速溫變?cè)囼?yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱的特點(diǎn)
快速溫變?cè)囼?yàn)箱能夠在短時(shí)間內(nèi)模擬出高溫、低溫以及高低溫交變等多種復(fù)雜環(huán)境條件,為產(chǎn)品提供一個(gè)真實(shí)且嚴(yán)苛的測(cè)試平臺(tái)。通過(guò)在這種極端環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,企...
2024-01-11 標(biāo)簽:測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)機(jī) 566 0
原位體積&壓強(qiáng)測(cè)試(CV,CP系列)
電芯的過(guò)充濫用安全是電芯最重要的特性要求之一。電解液是決定電芯過(guò)充性能優(yōu)劣的關(guān)鍵因子。添加劑A的加入對(duì)電芯的過(guò)充性能有明顯改善,電芯過(guò)充SOC達(dá)到150...
耐碎石沖擊試驗(yàn)機(jī):汽車品質(zhì)的守護(hù)者
在汽車工業(yè)中,一款車型從研發(fā)到上市,需經(jīng)歷無(wú)數(shù)嚴(yán)苛的測(cè)試,以確保其安全性和可靠性。其中,耐碎石沖擊試驗(yàn)機(jī)扮演著至關(guān)重要的角色,它是檢驗(yàn)車輛外部材料抗沖擊...
2024-09-26 標(biāo)簽:測(cè)試試驗(yàn)機(jī)汽車 564 0
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