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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

測(cè)試治具的優(yōu)劣勢(shì)及使用注意事項(xiàng)說明

測(cè)試治具屬于治具下面的一個(gè)類別,專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。因其主要在生產(chǎn)線上用于產(chǎn)品的各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試,所以叫測(cè)試治具。

2019-06-26 標(biāo)簽:測(cè)試生產(chǎn)線 8648 0

PCBA測(cè)試架的制作步驟及要求介紹

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電路板的制作測(cè)試流程是什么樣的

測(cè)試是具有試驗(yàn)性質(zhì)的測(cè)量,即測(cè)量和試驗(yàn)的綜合。而測(cè)試手段就是儀器儀表。由于測(cè)試和測(cè)量密切相關(guān),在實(shí)際使用中往往并不嚴(yán)格區(qū)分測(cè)試與測(cè)量。測(cè)試的基本任務(wù)就是...

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描述測(cè)試信號(hào)的變化和測(cè)試過程的模塊叫做測(cè)試平臺(tái)(Testbench),它可以對(duì)電路模塊進(jìn)行動(dòng)態(tài)的測(cè)試。通過觀測(cè)被測(cè)試模塊的輸出信號(hào)是否符合要求,可以調(diào)試...

2019-12-24 標(biāo)簽:fpga測(cè)試調(diào)試 2238 0

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熱擴(kuò)散系數(shù)是物體中某一點(diǎn)的溫度的擾動(dòng)傳遞到另一點(diǎn)的速率的量度。以物體受熱升溫的情況為例來分析,在物體受熱升溫的非穩(wěn)態(tài)導(dǎo)熱過程中,進(jìn)入物體的熱量沿途不斷地...

2019-06-11 標(biāo)簽:測(cè)試溫度 1.8萬 0

鍍層厚度的測(cè)試方法及使用范圍

電鍍就是利用電解原理在某些金屬表面上鍍上一薄層其它金屬或合金的過程,是利用電解作用使金屬或其它材料制件的表面附著一層金屬膜的工藝從而起到防止金屬氧化(如...

2019-06-06 標(biāo)簽:測(cè)試電鍍金屬 9745 0

達(dá)因筆的測(cè)試原理及使用注意事項(xiàng)

達(dá)因筆,又名表面張力測(cè)試筆、電暈處理筆、及塑料薄膜表面張力檢測(cè)筆。是薄膜表面電暈度(達(dá)因)的測(cè)試工具,專門用于測(cè)定薄膜受電暈處理后的效果。

2019-06-06 標(biāo)簽:測(cè)試檢測(cè) 2.9萬 0

高壓測(cè)試的方法及測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是什么

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中國(guó)大學(xué)MOOC 本課程以目前流行的Xilinx 7系列FPGA的開發(fā)為主線,全面講解FPGA的原理及電路設(shè)計(jì)、Verilog HDL語言及VIVAD...

2019-12-04 標(biāo)簽:fpga測(cè)試xilinx 1590 0

熱分析技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)及影響測(cè)試的因素有哪些

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熱分析(TA)是指用熱力學(xué)參數(shù)或物理參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系進(jìn)行分析的方法。國(guó)際熱分析協(xié)會(huì)于1977年將熱分析定義為:“熱分析是測(cè)量在程序控制溫度下,物質(zhì)的...

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影響剝離強(qiáng)度的因素與剝離強(qiáng)度測(cè)試儀的使用介紹

剝離強(qiáng)度是指粘貼在一起的材料,從接觸面進(jìn)行單位寬度剝離時(shí)所需要的最大力。剝離時(shí)角度有90度或180度,單位為:牛頓/米(N/m)。它反映材料的粘結(jié)強(qiáng)度。...

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硬度的分類及硬度測(cè)試具有什么特點(diǎn)

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在測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)時(shí)需滿足哪些條件

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基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電路板上的電阻有沒有問題,最簡(jiǎn)單的方法就是拿萬用電表量測(cè)其兩頭就...

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飛針測(cè)試和測(cè)試架的區(qū)別及各自優(yōu)勢(shì)分析

PCB板在生產(chǎn)過程中,難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵,再加上PCB線路板不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn),若未能及時(shí)將不良板篩檢出...

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Xilinx VC730 OTN測(cè)試開發(fā)平臺(tái)

了解Xilinx的VC730 OTN測(cè)試開發(fā)平臺(tái),適用于從1到400G的所有OTN應(yīng)用的快速開發(fā)。

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Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹

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如何使用DPDK進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)性能基準(zhǔn)測(cè)試

描述英特爾如何使用DPDK第3層轉(zhuǎn)發(fā)(l3fwd)示例應(yīng)用程序工作負(fù)載執(zhí)行高吞吐量網(wǎng)絡(luò)性能基準(zhǔn)測(cè)試。

2018-10-31 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)據(jù)intel 6194 0

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