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浪涌測(cè)試

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浪涌測(cè)試技術(shù)

浪涌測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-5簡(jiǎn)介

浪涌測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-5簡(jiǎn)介

1 什么是浪涌 浪涌 ,又稱為“突波”,是超出正常工作電壓的瞬間過(guò)電壓。本質(zhì)上講,浪涌是發(fā)生在僅僅幾百萬(wàn)分之一秒時(shí)間內(nèi)的一種劇烈脈沖。 2 產(chǎn)生浪涌的原...

2024-07-16 標(biāo)簽:浪涌IEC浪涌測(cè)試 1.1萬(wàn) 0

RS485接口3種保護(hù)電路

RS485接口3種保護(hù)電路

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2023-12-19 標(biāo)簽:元器件保護(hù)電路接口 2896 0

雷擊浪涌抗擾度起因分析及應(yīng)用范圍

雷擊浪涌抗擾度起因分析及應(yīng)用范圍

CE是一種安全認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),被視為制造商打開(kāi)并進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的護(hù)照。2013年1月2日起,進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的所有電子電器產(chǎn)品都應(yīng)加貼CE標(biāo)志,而電磁兼容(EMC)...

2015-08-06 標(biāo)簽:浪涌測(cè)試 3456 0

從浪涌抗擾度的角度設(shè)計(jì)EMC前級(jí)電路

從浪涌抗擾度的角度設(shè)計(jì)EMC前級(jí)電路

大家都知道,EMC 描述的是產(chǎn)品兩個(gè)方面的性能,即電磁發(fā)射/干擾EME和電磁抗擾EMS。EME中又包含傳導(dǎo)干擾和輻射干擾;而EMS中又包含靜電抗擾、脈沖...

2015-07-16 標(biāo)簽:EMC浪涌測(cè)試致遠(yuǎn)電子 1.1萬(wàn) 0

數(shù)字隔離器的浪涌測(cè)試

數(shù)字隔離器的浪涌測(cè)試

許多應(yīng)用要求隔離危險(xiǎn)電壓,以符合國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)的要求。為了確保設(shè)備和操作人員的安全,這些標(biāo)準(zhǔn)往往要求隔離元件(如數(shù)字隔離器或光耦合器)能承受10 kV(峰...

2012-07-10 標(biāo)簽:數(shù)字隔離器浪涌測(cè)試隔離標(biāo)準(zhǔn) 2684 0

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浪涌測(cè)試資訊

線纜屏蔽與浪涌測(cè)試

在電子設(shè)備無(wú)處不在的今天,我們享受著科技帶來(lái)的便捷,但也面臨著諸多挑戰(zhàn)。浪涌的突襲、電磁干擾的威脅,都可能讓精密的電子系統(tǒng)陷入癱瘓。而浪涌防護(hù)與線纜屏蔽...

2025-04-28 標(biāo)簽:線纜浪涌測(cè)試 67 0

電流探頭在浪涌測(cè)試中的應(yīng)用

電流探頭在浪涌測(cè)試中的應(yīng)用

在電子設(shè)備研發(fā)和制造過(guò)程中,浪涌測(cè)試是確保設(shè)備能夠在瞬間高電壓或高電流沖擊下正常運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。電流探頭作為一種重要的測(cè)試工具,在浪涌測(cè)試中發(fā)揮著至關(guān)重...

2024-12-04 標(biāo)簽:電流探頭浪涌測(cè)試 495 0

浪涌測(cè)試等級(jí)選擇(surge)

浪涌測(cè)試等級(jí)選擇(surge)

深圳南柯電子|浪涌測(cè)試等級(jí)選擇(surge)

2024-11-12 標(biāo)簽:浪涌浪涌測(cè)試SURGE 1374 0

9.3 24V DC直流電源防雷2KV,小體積低殘壓方案

9.3 24V DC直流電源防雷2KV,小體積低殘壓方案

最近很多客戶報(bào)告直流電源產(chǎn)品雷擊防護(hù)不過(guò)關(guān),導(dǎo)致產(chǎn)品在使用中頻頻宕機(jī),損失慘重。是的,大家一直認(rèn)為防雷是提高可靠性需要大量投入成本的問(wèn)題,現(xiàn)在雷卯電子推...

2024-06-06 標(biāo)簽:直流電源電源防雷浪涌測(cè)試 1782 0

怎么檢測(cè)電源模塊的浪涌?檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

浪涌測(cè)試是電源模塊安全性測(cè)試方法之一,是對(duì)電源模塊進(jìn)行瞬態(tài)電壓和電流測(cè)試的過(guò)程。通過(guò)模擬實(shí)際運(yùn)行中可能遇到的電壓和電流浪涌情況,來(lái)檢測(cè)電源模塊的耐受能力。

2024-03-12 標(biāo)簽:電源模塊浪涌測(cè)試電源模塊測(cè)試 1171 0

什么是光模塊中的浪涌測(cè)試?

什么是光模塊中的浪涌測(cè)試? 光模塊中的浪涌測(cè)試是一種驗(yàn)證光模塊抗擊浪涌電壓能力的測(cè)試方法。隨著光通信技術(shù)的發(fā)展,光模塊作為光通信系統(tǒng)中的重要組成部分,承...

2024-01-31 標(biāo)簽:光模塊浪涌電壓浪涌測(cè)試 1093 0

浪涌測(cè)試解決方案

浪涌測(cè)試解決方案

浪涌又稱電涌,定義是超過(guò)相應(yīng)穩(wěn)定的電壓峰值的任何電壓峰值,即瞬變電壓。瞬間的高電壓導(dǎo)流導(dǎo)通,當(dāng)電壓及電流高于正常值的雙倍時(shí),稱之為浪涌。

2023-12-04 標(biāo)簽:示波器浪涌測(cè)試 889 0

以SURGE測(cè)試中通訊端口防護(hù)器件損壞為例,進(jìn)行損壞機(jī)理等分析說(shuō)明

以SURGE測(cè)試中通訊端口防護(hù)器件損壞為例,進(jìn)行損壞機(jī)理等分析說(shuō)明

1.引言 獨(dú)學(xué)而無(wú)友,則孤陋而寡聞。 本文以SURGE測(cè)試中通訊端口防護(hù)器件損壞為例,進(jìn)行損壞機(jī)理分析、不同測(cè)試方法帶來(lái)的影響分析、不同應(yīng)用場(chǎng)景的測(cè)試方...

2020-10-14 標(biāo)簽:通訊端口浪涌測(cè)試 5764 0

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浪涌測(cè)試數(shù)據(jù)手冊(cè)

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  • Maxim Integrated
    Maxim Integrated
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    在 Maxim Integrated,我們正在解決工程問(wèn)題并支持設(shè)計(jì)創(chuàng)新,使我們的客戶能夠創(chuàng)造出塑造我們世界的產(chǎn)品。我們創(chuàng)新的高性能模擬和混合信號(hào)產(chǎn)品和技術(shù)使系統(tǒng)更小、更智能,同時(shí)增強(qiáng)了安全性并提高了能源效率。
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    USB 3.1 Gen2是最新的USB規(guī)范,該規(guī)范由英特爾等公司發(fā)起。數(shù)據(jù)傳輸速度提升可至速度10Gbps。與USB 3.0(即USB3.1 Gen1)技術(shù)相比,新USB技術(shù)使用一個(gè)更高效的數(shù)據(jù)編碼系統(tǒng),并提供一倍以上的有效數(shù)據(jù)吞吐率。
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    MCP3421
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Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
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變送器 傳感器 解析器 編碼器 陀螺儀 加速計(jì) 溫度傳感器 壓力傳感器
電機(jī)驅(qū)動(dòng)器 步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器 TWS BLDC 無(wú)刷直流驅(qū)動(dòng)器 濕度傳感器 光學(xué)傳感器 圖像傳感器
數(shù)字隔離器 ESD 保護(hù) 收發(fā)器 橋接器 多路復(fù)用器 氮化鎵 PFC 數(shù)字電源
開(kāi)關(guān)電源 步進(jìn)電機(jī) 無(wú)線充電 LabVIEW EMC PLC OLED 單片機(jī)
5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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