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標(biāo)簽 > 電鏡
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電鏡常用元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM
不同的波長λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量, 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式, EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面...
TEM的成像原理涉及許多物理和光學(xué)概念,涵蓋了電子束的產(chǎn)生、聚焦、樣品相互作用以及圖像形成等多個(gè)方面,從而造成TEM像的解釋很復(fù)雜。更具體的原因有以下幾...
2023-08-07 標(biāo)簽:非晶體成像系統(tǒng)TEM 2456 0
場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求:一、樣品要求(1)本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不...
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見問題解答
納米級(jí)材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)研究和工程技術(shù)中,對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而...
場發(fā)射電鏡(FESEM)應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析
1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠?yàn)榭蛻籼峁I(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場發(fā)...
聚焦FIB技術(shù):微納尺度加工的利器聚焦離子束(FIB)技術(shù)以其卓越的精確度在微觀加工領(lǐng)域占據(jù)重要地位,能夠?qū)崿F(xiàn)從微米級(jí)到納米級(jí)的精細(xì)加工。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這...
鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu):氬離子拋光SEM電鏡測試效果展示
在現(xiàn)代材料科學(xué)和工程領(lǐng)域,對(duì)材料微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。特別是在鋰電池技術(shù)迅速發(fā)展的今天,對(duì)電極片的微觀結(jié)構(gòu)分析是優(yōu)化電池性能和壽命的關(guān)鍵。氬離...
FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)
BlackPad簡介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大,ENIG金屬Ni層以NiP成分為主,在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕(后面稱blackpad)。退金后...
氬離子拋光在電鏡樣品制備中的優(yōu)勢(shì):超越FIB的大面積處理能力
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種先進(jìn)的樣品制備方法,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和微觀分析領(lǐng)域。該技術(shù)通過使用惰性氣體氬的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行精確的切割和拋...
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子...
電鏡下的微觀世界:EBSD技術(shù)揭示電解銅箔的微觀結(jié)構(gòu)特征
銅箔在鋰離子電池中鋰離子電池的品質(zhì)深受其關(guān)鍵材料的影響。在正極材料方面,有三元材料、磷酸鐵鋰等類型;負(fù)極材料則涵蓋了石墨、石墨與硅氧化物的復(fù)合材料等。這...
隨著全球?qū)Νh(huán)境可持續(xù)性的關(guān)注日益增加,尋找清潔能源解決方案變得尤為迫切。在這一背景下,鋰離子電池以其卓越的環(huán)保特性和高效能量轉(zhuǎn)換能力,成為了新能源技術(shù),...
在人工智能(AI)技術(shù)日新月異的時(shí)代,其強(qiáng)大的發(fā)展勢(shì)能對(duì)PCB板(印制電路板)的質(zhì)量提出了更高的要求。作為AI服務(wù)器硬件架構(gòu)的關(guān)鍵組成部分,PCB板的性...
氬離子切割與拋光技術(shù)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的樣品表面制備手段。其核心原理是利用寬離子束(約1毫米)對(duì)樣品進(jìn)行精確加工,通過離子束的物理作用去除樣品...
氬離子拋光結(jié)合SEM電鏡:鋰電池電極片微觀結(jié)構(gòu)
氬離子拋光技術(shù)氬離子束拋光技術(shù),亦稱為CP(ChemicalPolishing)截面拋光技術(shù),是一種先進(jìn)的樣品表面處理手段。該技術(shù)通過氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行...
透射電鏡的樣品種類透射電鏡(TEM)的樣品類型多樣,涵蓋了粉末試樣、薄膜試樣、表面復(fù)型和萃取復(fù)型等多種形式。薄膜試樣則側(cè)重于研究樣品內(nèi)部的組織、結(jié)構(gòu)、成...
電鏡技術(shù)在第三代半導(dǎo)體中的關(guān)鍵應(yīng)用
第三代半導(dǎo)體材料,以碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)為代表,因其在高頻、高效率、耐高溫和耐高壓等性能上的卓越表現(xiàn),正在成為半導(dǎo)體領(lǐng)域的重要發(fā)展方向。在...
2025-06-19 標(biāo)簽:半導(dǎo)體材料電鏡第三代半導(dǎo)體 127 0
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