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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動測試機，用于檢測集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...
ATE/ATS：自動測試設(shè)備/自動測試系統(tǒng)，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...
傳統(tǒng)電源測試，需要工程師手動設(shè)置直流電子負載的參數(shù)進行拉載測試，人工記錄電源在不同負載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標準判斷電源是否合格，測試效率極其...
基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片...
2023-07-10 標簽：ATEMEMS開關(guān)寬帶寬 784 0
本文提供一種校準數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動器、比較器、負載、PMU和DPS。
本文詳細介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負電壓軌，并且只需要一個雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個雙向（拉電流和...
在改進功能的同時提供高質(zhì)量標準的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動測試設(shè)備（ATE）。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項準確的測試并減少故障和錯誤的發(fā)生...
2023-06-29 標簽：ATE自動測試設(shè)備 1574 0
以更低的成本實現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測試吞吐量
在這種環(huán)境下，ATE設(shè)計人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見。提高測試能力意味著主板（具有大量引腳驅(qū)動器電子元件的驅(qū)動板）將需要大量功率才能運行。當然，...
電子設(shè)備測試的復(fù)雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復(fù)雜的大型自動測試設(shè)備（ATE）。在簡單的手動測試和大規(guī)模ATE之間，是低預(yù)算和中等規(guī)模的測...
基于特征點法的視覺SLAM系統(tǒng)很難應(yīng)用于稠密建圖，且容易丟失動態(tài)對象。而基于直接法的SLAM系統(tǒng)會跟蹤圖像幀之間的所有像素，因此在動態(tài)稠密建圖方面可以取...
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計算應(yīng)用設(shè)計并優(yōu)化電源解決方案，需要對電壓和電流進行精確、寬帶、高動態(tài)范圍的測量。
2023-02-23 標簽：濾波器MSPS數(shù)字信號電平 1322 0
半導(dǎo)體測試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語
ATE = Automatic Test Equipment. 是自動化測試設(shè)的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動測試機， 用于檢測集成電路功能...
其一是實際環(huán)境中的動態(tài)物體不一定被預(yù)訓練，另一是算法無法區(qū)分"動態(tài)物體"和"靜止但可能移動的物體"。
自動測試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中選擇器件電源(DPS)IC的指南
器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅(qū)動和電流驅(qū)動容量，能夠為自動測試設(shè)備(ATE)提供動態(tài)測試能力。當負載電流介于兩個設(shè)定限流值之間時，DPS IC...
如何校準ATE引腳電子設(shè)備的電平設(shè)置DAC
以下是如何通過增益和偏移調(diào)整了解其功能、誤差和校準來校準 ATE 引腳電子器件的電平設(shè)置 DAC。
2022-08-10 標簽：dac數(shù)模轉(zhuǎn)換器ATE 1653 0
ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備
多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備，迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地，從而持續(xù)推動全...
Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質(zhì)量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...
如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊以外的ADC芯片數(shù)據(jù)
設(shè)計中選擇高分辨率ADC時，經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊中通常可能不會公布的特性數(shù)據(jù)，例如，全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊中，您不一定能找到這一...
對于ATE測試儀器儀表，典型測試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計
由于待測器件（DUT）的復(fù)雜性提高，通道/引腳數(shù)量和功能增加，因而測試類型和所需測試數(shù)量也隨之增加。并且每個器件評估需要進行數(shù)百項測試，特別是在自動測試...
采用通用性和多線程的設(shè)計思想，研制一種通用測試平臺管理系統(tǒng)，具體實現(xiàn)分為配置和運行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據(jù)配置參數(shù)按...
2018-05-23 標簽：ate 2642 0
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