深度解讀基于ATE的IC測試技術(shù)

在IC的測試中，電壓的測試是所有測試參數(shù)中最為常見的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測試，電壓測試更顯常見及重要，如：LDO、LED驅(qū)動、音頻功放、運放、馬達...

2017-10-27 標簽：繼電器ateic測試技術(shù) 1.9萬 0

對于ATE測試儀器儀表，典型測試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計

由于待測器件（DUT）的復(fù)雜性提高，通道/引腳數(shù)量和功能增加，因而測試類型和所需測試數(shù)量也隨之增加。并且每個器件評估需要進行數(shù)百項測試，特別是在自動測試...

2018-07-16 標簽：測試測量adiMEMS 1.6萬 0

如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊以外的ADC芯片數(shù)據(jù)

設(shè)計中選擇高分辨率ADC時，經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊中通?？赡懿粫嫉奶匦詳?shù)據(jù)，例如，全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標簽：MSPSADCATE 6466 0

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質(zhì)量和高性能的工具（圖1），可以測量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標簽：dsp振蕩器cpu 6310 0

聊聊IC測試機（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介

ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵信號，同時監(jiān)測芯片的輸出管腳，看其輸出信號是否是...

2023-11-01 標簽：控制器適配器DSP芯片 5987 0

測試向量是什么意思

測試向量及其生成 測試向量（Test Vector）的一個基本定義是：測試向量是每個時鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...

2023-10-30 標簽：測試IC測量 4616 0

聊聊IC測試機（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？

自動測試設(shè)備 (ATE)對PLL（鎖相環(huán)）進行測試時，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級芯片（SoC）中的重要性。

2023-11-01 標簽：鎖相環(huán)DFTATE 3650 0

聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析

本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進行了故 障分析.

2023-11-01 標簽：濾波電容輸出電壓PSRR 2756 0

ATEstar通用測試平臺管理系統(tǒng)

采用通用性和多線程的設(shè)計思想，研制一種通用測試平臺管理系統(tǒng)，具體實現(xiàn)分為配置和運行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲定義等功能。運行根據(jù)配置參數(shù)按...

2018-05-23 標簽：ate 2642 0

基于ATE高效測量射頻到基帶噪聲指數(shù)詳解

噪聲指數(shù)（Noise Figure）主要測量的是組件的信噪比（Signal-to-noise Ratio， SNR）性能，信噪比是誤碼率（BER）和載波...

2018-05-23 標簽：ate 2514 0

ATE系統(tǒng)助力多維度打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備

多維度入手打造穩(wěn)定高效的自動測試設(shè)備，迎接集成電路融合時代的機遇與挑戰(zhàn) 5G、人工智能、新能源等新技術(shù)的成熟驅(qū)動各行業(yè)加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型落地，從而持續(xù)推動全...

2022-07-04 標簽：集成電路自動測試ATE 2438 1

IC測試基本原理與ATE測試向量生成

IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高...

2024-10-12 標簽：芯片IC測試功能測試 2353 0

ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介

ATE/ATS：自動測試設(shè)備/自動測試系統(tǒng)，也稱測試機是測試工程師在IC測試中必須使用的工具，本文主要從技術(shù)層面對ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...

2023-10-30 標簽：測試IC儀器 2223 0

預(yù)算有限的自動測試設(shè)備

電子設(shè)備測試的復(fù)雜性差異很大，從最簡單的類型（手動測試）到最復(fù)雜的大型自動測試設(shè)備（ATE）。在簡單的手動測試和大規(guī)模ATE之間，是低預(yù)算和中等規(guī)模的測...

2023-03-28 標簽：電源隔離器ATE 1700 0