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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫(xiě)，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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如何校準(zhǔn)ATE引腳電子設(shè)備的電平設(shè)置DAC
以下是如何通過(guò)增益和偏移調(diào)整了解其功能、誤差和校準(zhǔn)來(lái)校準(zhǔn) ATE 引腳電子器件的電平設(shè)置 DAC。
2022-08-10 標(biāo)簽：dac數(shù)模轉(zhuǎn)換器ATE 1654 0
兩種方法： 時(shí)域和頻域測(cè)試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測(cè)試。（時(shí)域，需要額外的TMU lice...
基于特征點(diǎn)法的視覺(jué)SLAM系統(tǒng)很難應(yīng)用于稠密建圖，且容易丟失動(dòng)態(tài)對(duì)象。而基于直接法的SLAM系統(tǒng)會(huì)跟蹤圖像幀之間的所有像素，因此在動(dòng)態(tài)稠密建圖方面可以取...
什么是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備？是如何工作的？
在改進(jìn)功能的同時(shí)提供高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的需求促使制造商轉(zhuǎn)向可靠且保證可重復(fù)性的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）。ATE可幫助制造商執(zhí)行多項(xiàng)準(zhǔn)確的測(cè)試并減少故障和錯(cuò)誤的發(fā)生...
2023-06-29 標(biāo)簽：ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 1580 0
一種動(dòng)態(tài)環(huán)境下的直接視覺(jué)里程計(jì)
其一是實(shí)際環(huán)境中的動(dòng)態(tài)物體不一定被預(yù)訓(xùn)練，另一是算法無(wú)法區(qū)分"動(dòng)態(tài)物體"和"靜止但可能移動(dòng)的物體"。
高精度寬帶寬電流測(cè)量信號(hào)鏈的實(shí)例介紹
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡(luò)、便攜式、可穿戴和其他計(jì)算應(yīng)用設(shè)計(jì)并優(yōu)化電源解決方案，需要對(duì)電壓和電流進(jìn)行精確、寬帶、高動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量。
2023-02-23 標(biāo)簽：濾波器MSPS數(shù)字信號(hào)電平 1329 0
IT8500G+升級(jí)版可編程直流電子負(fù)載解決方案
傳統(tǒng)電源測(cè)試，需要工程師手動(dòng)設(shè)置直流電子負(fù)載的參數(shù)進(jìn)行拉載測(cè)試，人工記錄電源在不同負(fù)載狀態(tài)下的輸出參數(shù)，再由操作者根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判斷電源是否合格，測(cè)試效率極其...
ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專(zhuān)用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。
本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向（拉電流和...
2023-07-14 標(biāo)簽：輸出電壓ATE機(jī)械設(shè)備 988 0
作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
高頻干簧繼電器：網(wǎng)絡(luò)分析儀的高效“搭檔”
無(wú)論是用于測(cè)量模擬連續(xù)波高頻的特性，還是快速數(shù)字脈沖的上升和下降時(shí)間，網(wǎng)絡(luò)分析儀已成為射頻領(lǐng)域不可或缺的工具。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，傳統(tǒng)的電磁繼電器已逐漸...
2025-04-02 標(biāo)簽：繼電器測(cè)試測(cè)量網(wǎng)絡(luò)分析儀 968 0
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程...
干簧繼電器：工業(yè)數(shù)據(jù)采集的可靠之選
在工業(yè)環(huán)境中，數(shù)據(jù)采集是一項(xiàng)充滿(mǎn)挑戰(zhàn)的任務(wù)。傳感器（如熱電偶）通常輸出微弱的電壓信號(hào)，且往往位于偏遠(yuǎn)位置。將這些信號(hào)完整無(wú)損地傳輸?shù)街飨到y(tǒng)進(jìn)行放大、存儲(chǔ)...
2025-03-03 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量數(shù)據(jù)采集ATE 823 0
基于新型MEMS開(kāi)關(guān)提高SoC測(cè)試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片...
2023-07-10 標(biāo)簽：ATEMEMS開(kāi)關(guān)寬帶寬 784 0
大功率自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)為測(cè)試工程師帶來(lái)了眾多挑戰(zhàn)。但測(cè)試是必要的，它能夠確保產(chǎn)品的安全性以及產(chǎn)品達(dá)到所發(fā)布的性能規(guī)格。
2025-03-31 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)ATE測(cè)試設(shè)備 774
在集成電路（IC）制造領(lǐng)域，測(cè)試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而，測(cè)試過(guò)程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通過(guò)優(yōu)化接口電路...
2025-04-07 標(biāo)簽：繼電器測(cè)試測(cè)量芯片測(cè)試 774 0
干簧繼電器：高端萬(wàn)用表如何輕松應(yīng)對(duì)高低壓測(cè)量挑戰(zhàn)？
隨著電子設(shè)備和系統(tǒng)對(duì)電壓和電流測(cè)量的需求的日益增長(zhǎng)。這些測(cè)量需要覆蓋多個(gè)量級(jí)，從納伏到千伏，從飛安到高安培。僅靠單一儀器實(shí)現(xiàn)如此廣泛的測(cè)量范圍幾乎是不可...
2025-01-20 標(biāo)簽：萬(wàn)用表測(cè)試測(cè)量ATE 732 0
如何選擇和應(yīng)用機(jī)電繼電器實(shí)現(xiàn)多功能且可靠的信號(hào)切換
作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 和安全設(shè)備等應(yīng)用越來(lái)...
以更低的成本實(shí)現(xiàn)更高的半導(dǎo)體測(cè)試吞吐量
在這種環(huán)境下，ATE設(shè)計(jì)人員努力增加每一代通道的數(shù)量并不少見(jiàn)。提高測(cè)試能力意味著主板（具有大量引腳驅(qū)動(dòng)器電子元件的驅(qū)動(dòng)板）將需要大量功率才能運(yùn)行。當(dāng)然，...
2023-06-28 標(biāo)簽：驅(qū)動(dòng)器ATEDUT 658 0
OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
2024-08-30 標(biāo)簽：光纖ATE測(cè)試設(shè)備 523 0
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