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驗(yàn)證平臺(tái)顧名思義就是為了驗(yàn)證而存在的。普通意義上來說,如果是IP驗(yàn)證,當(dāng)驗(yàn)證人員拿到設(shè)計(jì)的某模塊的RTL代碼(DUT,Design Under Test...
認(rèn)識(shí)一下只有driver的驗(yàn)證平臺(tái)
對(duì)于一個(gè)驗(yàn)證平臺(tái)而言,最重要的角色是激勵(lì)的產(chǎn)生,最開始,driver是集合了數(shù)據(jù)的產(chǎn)生、發(fā)送于一體這么一個(gè)重要的角色(后面到進(jìn)入真正UVM會(huì)將功能分離)。
在整個(gè)芯片開發(fā)中,芯片設(shè)計(jì)的驗(yàn)證階段就像一場(chǎng)前線戰(zhàn)斗,可以說是整道防線上成敗的關(guān)鍵。在芯片進(jìn)入生產(chǎn)之前,需要保證其設(shè)計(jì)完全符合需求規(guī)格,解決所有潛在的風(fēng)...
2023-06-14 標(biāo)簽:寄存器VHDL語(yǔ)言RTL 978 0
SVA,即SystemVerilog Assertion,在simulation和Formal都有極為廣泛的應(yīng)用,這里介紹一些基本的概念和常用的語(yǔ)法。
2023-06-14 標(biāo)簽:SVAVerilog語(yǔ)言DUT 2681 0
關(guān)于1dB增益壓縮點(diǎn)的基本測(cè)試方法分享
今天要給大家分享的是關(guān)于1dB增益壓縮點(diǎn)的基本測(cè)試方法,眾所周知,現(xiàn)代矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀往往具有功率掃描的功能,可以非常方便地測(cè)出1dB增益壓縮點(diǎn)。不過今天...
淺析Antenna Switch Tuner測(cè)試方法
對(duì)于移動(dòng)終端而言,天線性能至關(guān)重要,直接影響整機(jī)TRP、TIS等OTA性能。其中,天線效率尤為關(guān)鍵,這是獲得良好OTA性能的重要保證。
如何處理時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的傳輸差異?
為了應(yīng)對(duì)網(wǎng)絡(luò)、服務(wù)器和存儲(chǔ)速度和容量的快速提高的需求,促進(jìn)了100GbE,400Gbp和1Tbps的通信系統(tǒng)的開發(fā)。而超過30Gbps的速率接口被這些系...
2023-06-12 標(biāo)簽:PCB板發(fā)生器FIFO存儲(chǔ) 2657 0
提到增益法測(cè)試噪聲系數(shù),大家并不陌生,這是一種簡(jiǎn)潔的測(cè)試方法,精度不如Y因子法,但是在某些測(cè)試場(chǎng)合,比如只有頻譜儀而沒有噪聲頭,且待測(cè)件具有非常高的增益...
AGC電路噪聲系數(shù)如何進(jìn)行有效的測(cè)試呢?
對(duì)于噪聲系數(shù)測(cè)試,多數(shù)情況下會(huì)選擇Y因子方法測(cè)試,但是當(dāng)待測(cè)件包含自動(dòng)增益控制電路(AGC)時(shí),Y因子方法受到一定的限制。
2023-06-12 標(biāo)簽:接收機(jī)RMS檢測(cè)器AGC電路 1976 0
介紹矢網(wǎng)的基礎(chǔ)組成部分—反射計(jì)(Reflectometer)
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是射頻微波器件測(cè)試必不可少的設(shè)備,主要用于測(cè)試器件的S參數(shù)及其衍生參數(shù)。大多數(shù)射頻工程師都有接觸,但是對(duì)于其基本組成及測(cè)試原理深度探究的并不多。
在驗(yàn)證環(huán)境中開發(fā)Checks和Coverage的步驟
Checks和coverage是覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證流程的關(guān)鍵。在驗(yàn)證環(huán)境中,Checks和coverage可以被定義在多個(gè)位置。
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