求一種5G語(yǔ)音音頻突破ABT的測(cè)試方案

盡管增強(qiáng)型移動(dòng)寬帶 (eMBB)、超可靠和低延遲通信 (URLLC) 以及大規(guī)模機(jī)器類(lèi)型通信(mMTC) 環(huán)境中的數(shù)據(jù)服務(wù)是5G演進(jìn)的關(guān)鍵驅(qū)動(dòng)因素，但語(yǔ)...

2023-04-01 標(biāo)簽：EMS編解碼器DUT 1503 0

三階交調(diào)失真原理及測(cè)試方法

非線性DUT（例如LNA、PA、塔放），當(dāng)輸入多個(gè)頻率的信號(hào)時(shí)，各個(gè)頻譜分量之間會(huì)產(chǎn)生互相作用，產(chǎn)生新的頻譜分量（頻譜再生）；當(dāng)輸入信號(hào)足夠小放大器工作...

2023-03-24 標(biāo)簽：放大器頻譜有源器件 6616 0

UVM驗(yàn)證平臺(tái)頂層有什么作用

因?yàn)镈UT是一個(gè)靜態(tài)的內(nèi)容，所以testbench理應(yīng)也是靜態(tài)的，其作為uvm驗(yàn)證環(huán)境和DUT的全局根結(jié)點(diǎn)。

2023-03-21 標(biāo)簽：時(shí)鐘UVMDUT 1645 1

UVM_Agent中包含哪些內(nèi)容？

大多數(shù)dut都有許多不同的接口(interface)，每個(gè)接口都有自己特有的協(xié)議。 **UVM agent的任務(wù)就是集中管理和這個(gè)接口相關(guān)的所有內(nèi)容**...

2023-03-21 標(biāo)簽：接口UVMDUT 950 0

DUT 和 testbench 連接教程

我們知道，不論是哪一級(jí)的驗(yàn)證，最終都是通過(guò) pin 連接到 DUT 上向其施加激勵(lì)，**對(duì)于 UVM 驗(yàn)證平臺(tái)中，使用虛接口來(lái)實(shí)現(xiàn) DUT 和驗(yàn)證平臺(tái)的通信

2023-03-21 標(biāo)簽：UVMPINDUT 1800 0

IC驗(yàn)證中的打包思想簡(jiǎn)析

System Verilog（SV）語(yǔ)言的Class本身就帶有“打包”的基因。眾所周知，SV語(yǔ)言的很多特性是派生自C++語(yǔ)言的。

2023-03-15 標(biāo)簽：IC設(shè)計(jì)VerilogC++語(yǔ)言 1094 0

如何用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量S參數(shù)？

S參數(shù)（Scattering Parameters，散射參數(shù)）是一個(gè)表征器件在射頻信號(hào)激勵(lì)下的電氣行為的工具，它以輸入信號(hào)、輸出信號(hào)為元素的矩陣來(lái)表現(xiàn)D...

2023-03-14 標(biāo)簽：濾波器無(wú)源器件矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 4887 0

為什么不是uvm_transaction構(gòu)建UVM事務(wù)呢？

UVM 中的事務(wù)是一個(gè)具有信號(hào)屬性（例如地址和數(shù)據(jù)）以及錯(cuò)誤、延遲等額外信息的類(lèi)?？傊?，這個(gè)所謂事務(wù)封裝了所有和DUT激勵(lì)項(xiàng)相關(guān)的信息.

2023-03-08 標(biāo)簽：UVMDUT 943 0

可以通過(guò)降低約束的復(fù)雜度來(lái)優(yōu)化Formal的執(zhí)行效率嗎？

我們可以通過(guò)降低約束的復(fù)雜度來(lái)優(yōu)化Formal的執(zhí)行效率，但是這個(gè)主要是通過(guò)減少Formal驗(yàn)證空間來(lái)實(shí)現(xiàn)的，很容易出現(xiàn)過(guò)約，導(dǎo)致bug遺漏。

2023-02-15 標(biāo)簽：邏輯電路DUT 1126 0

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA的校準(zhǔn)很重要嗎？

編者注：在應(yīng)用示波器、網(wǎng)分這類(lèi)電子設(shè)備測(cè)試產(chǎn)品的時(shí)候，都建議熱機(jī)和校準(zhǔn)。減少設(shè)備和環(huán)境引入的誤差。

2023-02-13 標(biāo)簽：濾波器示波器VNA 998 0

介紹一下BCI電流注入探頭模型和仿真

大電流注入是一種非侵入式的、傳導(dǎo)敏感度測(cè)試方法。電磁干擾通過(guò)電感耦合注入到電纜中，傳輸?shù)奖粶y(cè)設(shè)備。

2023-01-30 標(biāo)簽：ESD電磁干擾電感耦合 9479 0

介紹SystemVerilog幾種常用的調(diào)試功能

可視化調(diào)試主要分為Post-process和Interactive這兩種模式?？梢暬{(diào)試工具是工程師在定位代碼問(wèn)題時(shí)的有力工具，也是現(xiàn)在驗(yàn)證工程師主流的...

2023-01-09 標(biāo)簽：EDA工具VCSDUT 3768 0

什么是軟件仿真？軟件仿真面臨哪些挑戰(zhàn)？

軟件仿真，簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái)，就是用軟件和編程語(yǔ)言將所有的硬件特征虛擬出來(lái)。

2023-01-03 標(biāo)簽：SoC芯片GUIDUT 3170 0

運(yùn)算放大器通過(guò)使用伺服環(huán)路簡(jiǎn)化測(cè)量過(guò)程

運(yùn)算放大器是差分輸入、單端輸出的極高增益放大器，常用于高精度模擬電路，因此必須精確測(cè)量其性能。

2022-12-28 標(biāo)簽：運(yùn)算放大器積分器DUT 2.6萬(wàn) 0

1200V SiC MOSFET的二極管可靠性研究

在 PCT 期間，當(dāng) DUT 開(kāi)啟時(shí)，由于電流從漏極流向源極，DUT 溫度會(huì)升高(圖 1a)。當(dāng) DUT 關(guān)閉時(shí)，通過(guò)從源極到漏極的感測(cè)電流測(cè)量體二極管...

2022-12-12 標(biāo)簽：二極管MOSFETPCT 1602 0

使用PLTS去嵌方法和探針校準(zhǔn)片SLOT校準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果對(duì)比

測(cè)試一：先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT，將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S...

2022-12-08 標(biāo)簽：探針PLTSDUT 1.0萬(wàn) 0