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標(biāo)簽 > SEM
搜索引擎營(yíng)銷:英文Search Engine Marketing ,我們通常簡(jiǎn)稱為“SEM”。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),搜索引擎營(yíng)銷就是基于搜索引擎平臺(tái)的網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷,利用人們對(duì)搜索引擎的依賴和使用習(xí)慣,在人們檢索信息的時(shí)候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶。
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即透射電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱透射電鏡,是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的...
CD-SEM是怎樣測(cè)線寬呢?CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別?
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy,中文翻譯過(guò)來(lái)是:特征尺寸掃描電子顯微鏡。
二類超晶格的概念由IBM研究院的Sai-Halasz和Esaki 等科學(xué)家于1977年提出隨后他們對(duì)InAs/GaSb二類超晶格的能帶結(jié)構(gòu)進(jìn)行了理論計(jì)算...
能譜儀(EDS)是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具,通常與掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)組合使用,實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原...
刻蝕速率是測(cè)量刻蝕物質(zhì)被移除的速率。由于刻蝕速率直接影響刻蝕的產(chǎn)量,因此刻蝕速率是一個(gè)重要參數(shù)。
無(wú)源器件在電路中一直扮演著很重要的角色,同樣在ESD設(shè)計(jì)中也需要應(yīng)用無(wú)源器件,亦或是無(wú)源器件也同樣要承受ESD沖擊。
2023-06-12 標(biāo)簽:串聯(lián)電阻SEMNMOS管 6753 0
SEM&EDS分析在PCB失效分析中的應(yīng)用
PCB失效原因越來(lái)越多,在以前看起來(lái)難以發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題,現(xiàn)在可以用掃描電子顯微鏡與能譜(SEM&EDS)分析出來(lái)。本文介紹了在PCB生產(chǎn)過(guò)程中利用S...
壓電材料可以通過(guò)壓電效應(yīng)將機(jī)械力轉(zhuǎn)化為電場(chǎng),反之亦然。壓電效應(yīng)誘導(dǎo)的有效界面電荷轉(zhuǎn)移有助于壓電材料具有良好的氧化還原催化活性。
2023-04-27 標(biāo)簽:PCMSEM壓電效應(yīng) 6371 0
一文搞懂掃描電鏡(SEM)技術(shù)解讀與大功率半導(dǎo)體模塊封裝解析
從本質(zhì)上講,SEM "觀察"樣品表面的方式可以比作一個(gè)人獨(dú)自在暗室中使用手電筒(窄光束)掃描墻上的物體。從墻的一側(cè)到另一側(cè)進(jìn)行掃描,...
2024-08-08 標(biāo)簽:封裝SEM功率半導(dǎo)體 6315 0
常規(guī)的TEM使用固定的入射電子束,而SEM的電子束在兩個(gè)垂直的(X和Y)方向上水平掃描樣品。
2023-12-01 標(biāo)簽:探測(cè)器存儲(chǔ)器CRT技術(shù) 5799 0
5 種sem追蹤區(qū)分客戶電話來(lái)源的方式立即下載
類別:電源技術(shù) 2022-01-12 標(biāo)簽:網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷SEM 283 0
SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子,次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說(shuō)與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級(jí)電子由探測(cè)體...
一種新的基于磨蝕的方法,可用于生產(chǎn)3D打印金屬粉末
盡管霧化制粉是很通用,但基于霧化的粉末生產(chǎn)可能存在材料產(chǎn)量低、成本高的問(wèn)題,而且它只與有限的金屬兼容。IISc的新方法旨在解決這些不足之處。
材料的顯微分析能獲得材料的組織結(jié)構(gòu),揭示材料基本性質(zhì)和基本規(guī)律,在材料測(cè)試技術(shù)中占重要的一環(huán)。對(duì)各種顯微分析設(shè)備諸如SEM、TEM、AFM、STM等,各...
掃描電鏡應(yīng)用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析
材料的性能與組織的關(guān)系 正確的金相分析是失效分析的基礎(chǔ)。首先是對(duì)各種光學(xué)顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對(duì)顯微組織精細(xì)...
銀粉形貌圖 (掃描電鏡SEM) 銀粉的品種很多,可以依據(jù)物理化學(xué)特性和市場(chǎng)需求進(jìn)行不同分類,每一類別里又有不同銀粉應(yīng)用于不同方面,細(xì)化使用的目標(biāo)是最大程...
芯片失效分析服務(wù)簡(jiǎn)介 一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通...
掃描電子顯微鏡(SEM Scanning Electron Microscope)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,在光電技術(shù)中起...
聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后,通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置,納米操縱儀,各種探測(cè)器及可控的樣品臺(tái)等附件成...
SEM掃描電鏡工作原理,SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
這是Amanda王莉第55篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界,SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù),一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,...
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