、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試(2)常?失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
?形貌觀察,鍍層厚度測量,錫須長度測量等;
材料微觀結(jié)構(gòu)觀察,如金屬材料的晶粒及晶界分析, 鑄鐵材料石墨形態(tài)分析、鋼鐵材料的金相觀察, 納米材料分析等;
區(qū)成分分析,利用電子束與物質(zhì)作用時產(chǎn)生的特征X
2024-03-01 18:59:58
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)是通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。可兼容不同材質(zhì)
2024-02-21 13:50:34
輪廓儀,也被稱為白光干涉儀,是利用白光干涉原理進(jìn)行成像測量的儀器,是一種通過測量干涉光的干涉條紋來獲取物體表面形貌的方法。該儀器通過發(fā)射一束寬光譜的白光,并將其照射到
2024-02-20 09:10:09
0 表面形貌信息。具體而言,掃描探針通過細(xì)微的力變化,測量樣品表面的起伏程度以及凹凸部分的高度差。然后通過數(shù)據(jù)處理,形成高分辨率的圖像。它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的測量,對微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)進(jìn)行觀測和分析,揭示出表面的微
2024-02-20 09:06:24
0 光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉原理,以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體表面細(xì)節(jié),實(shí)現(xiàn)三維顯微成像測量。廣泛應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域,可測量各種材料表面形貌,提高超光滑表面形貌的測試精度。
2024-02-19 13:47:01
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臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀,能高精度測量微觀表面形貌,揭示表面微觀特征。它具有高速掃描能力,測量范圍廣泛,可應(yīng)用于科學(xué)研究、材料表征、納米技術(shù)等領(lǐng)域。臺階儀的優(yōu)勢包括高精度、快速測量和廣泛適用范圍。
2024-02-18 10:51:05
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掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造,次要用于察看固體外表的形貌,也能與
2024-02-01 18:22:15
603 半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測量的意義與挑戰(zhàn)半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測量是半導(dǎo)體制造和研發(fā)過程中至關(guān)重要的一環(huán)。它不僅可以提供制造工藝的反饋和優(yōu)化依據(jù),還可以保證半導(dǎo)體器件的性能和質(zhì)量。在這個領(lǐng)域里,測量的準(zhǔn)確性
2024-01-18 10:56:12
1 掃描電子顯微鏡是金屬科研工作中應(yīng)用最廣泛的“神器”??梢哉f,幾乎每一個研究生都把自己最重要的科研經(jīng)歷花在了身上。今天的我們就來介紹一下掃描電鏡的原理和應(yīng)用。 電子顯微鏡利用電子產(chǎn)生圖像,類似于光學(xué)
2024-01-17 09:39:56
146 半導(dǎo)體晶圓形貌厚度測量是制造和研發(fā)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),涉及精確度和穩(wěn)定性。面臨納米級別測量挑戰(zhàn),需要高精度設(shè)備和技術(shù)。反射、多層結(jié)構(gòu)等干擾因素影響測量準(zhǔn)確性。中圖儀器推動測量技術(shù)發(fā)展,提高精度和速度,滿足不同材料和結(jié)構(gòu)需求。光學(xué)3D表面輪廓儀和臺階儀等設(shè)備助力測量,為半導(dǎo)體行業(yè)注入新活力。
2024-01-16 13:32:18
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WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖,實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等
2024-01-10 11:10:39
中圖儀器CP系列臺階儀接觸式表面形貌測量儀器主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動樣品時掃描其表面,測針的垂直位移距離被轉(zhuǎn)換
2024-01-04 10:08:52
中圖儀器VT6000系列3D共聚焦形貌顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,測量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓(縱深
2024-01-03 10:05:05
切割對于芯片膜厚層為幾十納米的,可以選擇用聚焦離子束FIB-SEM來做芯片截面形貌觀察,SEM-EDS對于芯片的結(jié)構(gòu)成分分析 做線性方向元素分析掃描,面掃描MAPPING來表征芯片結(jié)構(gòu)的元素分析。
FIB剪
2024-01-02 17:08:51
快速實(shí)現(xiàn)尺寸的精準(zhǔn)批量測量。通過3D成像視圖,可觀察到產(chǎn)品形貌的微小特征,可實(shí)時輸出2D、3D圖像保存,支持2D、3D產(chǎn)品尺寸測量。Novator還支持頻閃照明和
2023-12-27 09:22:57
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號? 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器,用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號,確保設(shè)備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16
592 微納米表面輪廓形貌的測量可以幫助我們了解材料的物理特性、表面形態(tài)以及質(zhì)量狀況。如白光干涉儀是一種常見的微納米表面輪廓儀測量儀器,常用于研究產(chǎn)品的微觀形貌和粗糙度;而共聚焦顯微鏡大傾角超清納米測量,在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。選擇適合的測量儀器對于準(zhǔn)確獲取樣品表面形貌和特征至關(guān)重要。
2023-12-20 16:38:09
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蔡司代理三本精密儀器小編獲悉,近期蔡司對中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪,談了對于蔡司場發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受:中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心副主任,材料顯微分析實(shí)驗(yàn)室
2023-12-20 15:04:37
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WD4000晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像,實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TTV
2023-12-20 11:22:44
? ? ? ?掃描電子顯微鏡能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu),是材料相關(guān)工作者和學(xué)者研究的有力工具之一。其應(yīng)用范圍非常廣泛,甚至可以延伸到生物、醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域。本文將對掃描電子顯微鏡
2023-12-19 15:31:37
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蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器,憑借其納米級分辨率,SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識,-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過
2023-12-15 14:11:17
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中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù),完成非接觸式掃描并建立表面3D
2023-12-14 10:57:17
差示掃描量熱儀dsc是一款熱分析儀器,在程序的控溫下,測量物質(zhì)與參比物之間單位時間的能力差隨溫度變化的一種技術(shù)。而差示掃描量熱儀分為熱流型、功率補(bǔ)償型、溫度調(diào)制型三種類型。1、熱流型。熱流型差示掃描
2023-12-13 11:48:44
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大部分掃描電鏡實(shí)驗(yàn)室對于納米尺寸的準(zhǔn)確測量,要求沒有那么嚴(yán)格,比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm,似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52
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蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量
2023-12-07 11:49:36
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在工業(yè)應(yīng)用中,光學(xué)3D表面輪廓儀超0.1nm的縱向分辨能力能夠高精度測量物體的表面形貌,可用于質(zhì)量控制、表面工程和納米制造等領(lǐng)域。與其它表面形貌測量方法相比,SuperViewW系列光學(xué)3D表面
2023-11-29 10:04:38
0 與其它表面形貌測量方法相比,SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀達(dá)到納米級別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI),具有快速、非接觸的優(yōu)點(diǎn)。它結(jié)合了跨尺度納米直驅(qū)技術(shù)、精密光學(xué)干涉
2023-11-28 10:59:58
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掃描電子顯微鏡(SEM簡稱掃描電鏡)是一個集電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機(jī)控制技術(shù)于一體的復(fù)雜系統(tǒng)
2023-11-24 15:39:53
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差示掃描量熱法(DSC)是一種熱分析方法,在程序控制溫度下,輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關(guān)系。而差示掃描量熱儀是利用這種方法,來測量材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熔點(diǎn)、比熱容和氧化誘導(dǎo)期,來對材料
2023-11-21 13:37:56
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掃描電子顯微鏡是一種全自動的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng),可針對無機(jī)材料和部分有機(jī)材料,迅速提供在統(tǒng)計學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù),在采礦業(yè),可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41
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視圖,可觀察到產(chǎn)品形貌的微小特征,可實(shí)時輸出2D、3D圖像保存,支持2D、3D產(chǎn)品尺寸測量。產(chǎn)品優(yōu)勢穩(wěn)固移動平臺、高測量精度1.精密大理石機(jī)臺,穩(wěn)定性好,精度高。2
2023-11-17 09:05:47
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù),一旦使用了這兩種技術(shù),樣品就破壞了,且無法恢復(fù);另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05
115 EBSD技術(shù)是一種常用的材料顯微技術(shù),全稱電子背散射衍射。它通過測量反射電子的角度和相位差來確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向等特征。與傳統(tǒng)的掃描電鏡技術(shù)相比,EBSD技術(shù)具有更高的空間分辨率,可以獲得亞微米級的晶體學(xué)數(shù)據(jù)。
2023-11-16 13:31:48
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,為防止氣體電離造成的大電流擊穿高壓電源,都需要高真空環(huán)境。電子槍陰極都屬于耗材系列。差異和優(yōu)劣:1、點(diǎn)源直徑不同及優(yōu)劣:鎢燈絲電子槍陰極使用0.1mm直徑的鎢絲制成
2023-11-10 18:43:39
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中圖儀器CP200國產(chǎn)臺階形貌儀是一種接觸式表面形貌測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。測量時通過使用2μm半徑的金剛石針尖在超精密位移臺移動
2023-11-09 09:11:26
示波器是一種電子儀器,用于觀察和測量電信號的波形、幅度、頻率等參數(shù)。示波器有多種工作模式,其中慢掃描模式和ROLL模式是兩種常見的工作模式。
2023-11-06 14:48:42
398 干涉現(xiàn)象,使用白光源照射物體,并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化,就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。
如何使用白光干涉儀來測量坑的形貌?在使用白光干涉儀測量坑的形貌
2023-11-06 14:27:48
鎢絲掃描電子顯微鏡的總發(fā)射電流和光斑大,抗干擾能力和穩(wěn)定性好。可在低真空下不充電對非導(dǎo)電樣品進(jìn)行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-11-06 13:52:52
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WD4000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機(jī)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建,強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷
2023-11-06 10:49:18
晶圓在加工過程中的形貌及關(guān)鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響,而形貌和關(guān)鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應(yīng)力及線寬測量等就成為加工前后的步驟。以下總結(jié)了從宏觀到微觀的不同表面測量方法:單種測量手段
2023-11-03 09:21:58
0 晶圓在加工過程中的形貌及關(guān)鍵尺寸對器件的性能有著重要的影響,而形貌和關(guān)鍵尺寸測量如表面粗糙度、臺階高度、應(yīng)力及線寬測量等就成為加工前后的步驟。以下總結(jié)了從宏觀到微觀的不同表面測量方法:單種測量手段
2023-11-02 11:21:54
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中圖儀器SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-11-01 09:39:26
鎢絲掃描電子顯微鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中,抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好??稍诘驼婵障聦Ψ菍?dǎo)電樣品進(jìn)行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)
2023-10-31 15:17:52
249 廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡,通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同,能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41
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10月26日,2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X,開啟了國產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:47
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SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測量的精度和效率,揭秘并測量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
2023-10-26 10:47:58
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、SORI等參數(shù),同時生成Mapping圖;2、采用白光干涉測量技術(shù)對Wafer表面進(jìn)行非接觸式掃描同時建立表面3D層析圖像,顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖,高效分析表
2023-10-24 09:42:25
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普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比,場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑,即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
2023-10-23 14:56:39
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干涉現(xiàn)象,使用白光源照射物體,并將反射光經(jīng)過干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過觀察干涉圖樣的變化,就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來測量坑的形貌?
2023-10-20 09:52:21
0 。 特點(diǎn) 制樣簡單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對于導(dǎo)電材料,它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品,需噴涂導(dǎo)電層。 基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看,掃描電鏡主
2023-10-19 15:38:30
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SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來提高測量的精度和效率,揭秘并測量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持
2023-10-18 09:05:39
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中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測量儀以白光干涉技術(shù)原理,是對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量的儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌
2023-10-17 14:24:27
共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法共同組成測量系統(tǒng),能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測量。能測量表面物理形貌,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,如3D表面形貌、2D的縱深
2023-10-11 14:37:46
不同型號掃描電鏡的操作步驟會有一些差異,各廠家的EBSD系統(tǒng),特別是控制SEM的軟件都不一致。
2023-10-10 09:25:08
609 不同的波長λ對應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個特征能量, 即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式, EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種:EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上,進(jìn)行定性或者定量的分析。
2023-09-28 15:54:34
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SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術(shù)原理,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級測量儀器。產(chǎn)品簡介
2023-09-26 14:12:49
觸針式粗糙度輪廓儀廣泛應(yīng)用于工程領(lǐng)域和制造業(yè)中,用于表面形貌的分析和處理。通過測量獲得的表面形貌數(shù)據(jù),可以進(jìn)行各種形式的分析,如峰谷高度分布、表面輪廓特征、表面粗糙度和形狀參數(shù)等。
2023-09-18 09:44:07
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臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器,可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。中圖儀器CP系列臺階儀接觸式表面形貌測量儀廣泛應(yīng)用于:大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
2023-09-14 16:10:14
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