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電子發(fā)燒友網(wǎng)>電源/新能源>驅(qū)動器源極引腳是如何降低開關(guān)損耗

驅(qū)動器源極引腳是如何降低開關(guān)損耗

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2022-06-15 16:06:202920

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2023-03-16 16:37:04

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3、開關(guān)動態(tài)損耗?? 由于開關(guān)損耗是由開關(guān)的非理想狀態(tài)引起的,很難估算MOSFET 和二管的開關(guān)損耗,器件從完全導通到完全關(guān)閉或從完全關(guān)閉到完全導通需要一定時間,也稱作死區(qū)時間,在這個過程中會產(chǎn)生
2021-12-29 07:52:21

開關(guān)損耗包括哪幾種

一、開關(guān)損耗包括開通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開通損耗是指功率管從截止到導通時所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷損耗是指功率管從導通到截止時所產(chǎn)生的功率損耗。二、開關(guān)損耗原理分析:(1)、非理想的開關(guān)管在開通時,開關(guān)
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SiC-SBD大幅降低開關(guān)損耗

時間trr快(可高速開關(guān))?trr特性沒有溫度依賴性?低VF(第二代SBD)下面介紹這些特征在使用方面發(fā)揮的優(yōu)勢。大幅降低開關(guān)損耗SiC-SBD與Si二管相比,大幅改善了反向恢復時間trr。右側(cè)的圖表為
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TO-247封裝碳化硅MOSFET引入輔助管腳的必要性

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2019-10-09 08:00:00

【每日分享】開關(guān)電源電路各種損耗的分析,第二期!

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2020-10-29 08:23:33

上下管寄生電感對開關(guān)性能的影響

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2019-09-02 08:00:00

全SiC功率模塊的開關(guān)損耗

SiC-MOSFET和SiC肖特基勢壘二管的相關(guān)內(nèi)容,有許多與Si同等產(chǎn)品比較的文章可以查閱并參考。采用第三代SiC溝槽MOSFET,開關(guān)損耗進一步降低ROHM在行業(yè)中率先實現(xiàn)了溝槽結(jié)構(gòu)
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內(nèi)置SiC肖特基勢壘二管的IGBT:RGWxx65C系列內(nèi)置SiC SBD的Hybrid IGBT在FRD+IGBT的車載充電器案例中開關(guān)損耗降低67%關(guān)鍵詞* ? SiC肖特基勢壘二管(SiC
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2021-11-18 07:00:00

減少開關(guān)損耗電源設(shè)計小技巧——軟開關(guān)的選擇與設(shè)計

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,提高開關(guān)的速度,從而降低開關(guān)損耗,但是過高的開關(guān)速度會引起EMI的問題。(2)提高柵極驅(qū)動電壓也可以提高開關(guān)的速度,降低開關(guān)損耗。同時,高的柵極驅(qū)動電壓會增加驅(qū)動損耗,特別是輕載的時候,對效率
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柵極驅(qū)動器是什么

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2021-01-27 07:59:24

柵極驅(qū)動器是什么,為何需要柵極驅(qū)動器?

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2021-07-09 07:00:00

模塊電源待機損耗在哪?怎樣降低待機功耗?

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電機驅(qū)動器MCU拆解之IGBT分析

150 kW的電機驅(qū)動功率的輸出。阻斷電壓750V、低 VCEsat、低開關(guān)損耗、低QG和Cres、低電感設(shè)計,Tvjop = 150°C、短時間工作溫度Tvjop = 175°C?! 1、P2
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直流/直流穩(wěn)壓部件的開關(guān)損耗

的圖像。圖1:開關(guān)損耗讓我們先來看看在集成高側(cè)MOSFET中的開關(guān)損耗。在每個開關(guān)周期開始時,驅(qū)動器開始向集成MOSFET的柵極供應電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容。在首個時段
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精選推薦:開關(guān)電源電路各種損耗的分析

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2021-05-18 06:00:00

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2018-06-07 10:17:46

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周期開始時,驅(qū)動器開始向集成MOSFET的柵極供應電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容。在首個時段(圖1中的t1),電壓(VGS)正接近MOSFET的閾值電壓,VTH和漏電流為
2018-06-05 09:39:43

請教大家,開關(guān)電源中所說的“交流開關(guān)損耗”是什么?

今天開始看電源界神作《開關(guān)電源設(shè)計》(第3版),發(fā)現(xiàn)第9頁有個名詞,叫“交流開關(guān)損耗”,不明白是什么意思,有沒有哪位大蝦知道它的意思???謝謝了!!
2013-05-28 16:29:18

通過驅(qū)動器引腳開關(guān)損耗降低約35%

請您介紹一下驅(qū)動器引腳是如何降低開關(guān)損耗的。首先,能否請您對使用了驅(qū)動器引腳的電路及其工作進行說明?Figure 4是具有驅(qū)動器引腳的MOSFET的驅(qū)動電路示例。它與以往驅(qū)動電路
2020-07-01 13:52:06

降壓穩(wěn)壓電路中影響EMI性能和開關(guān)損耗的感性和容性寄生元素

在第 3 部分中,我將全面介紹降壓穩(wěn)壓電路中影響 EMI 性能和開關(guān)損耗的感性和容性寄生元素。通過了解相關(guān)電路寄生效應的影響程度,可以采取適當?shù)拇胧⒂绊懡抵磷畹筒p少總體 EMI 信號。一般來說
2022-11-09 07:38:45

降壓穩(wěn)壓電路中影響EMI性能和開關(guān)損耗的感性和容性寄生元素

較高的高頻電流,特別是在 MOSFET 開關(guān)期間。圖 2:降壓功率級和柵極驅(qū)動器的“剖析原理圖”(包含感性和容性寄生元素)。有效高頻電源回路電感 (LLOOP) 是總漏電感 (LD)、共電感 (LS)(即
2020-11-03 07:54:52

隔離式柵極驅(qū)動器怎么選擇?

在功率電子(例如驅(qū)動技術(shù))中,IGBT經(jīng)常用作高電壓和高電流開關(guān)。這些功率晶體管由電壓控制,其主要損耗產(chǎn)生于開關(guān)期間。為了最大程度減小開關(guān)損耗,要求具備較短的開關(guān)時間。
2019-08-09 08:22:15

隔離式柵極驅(qū)動器揭秘

IGBT/功率 MOSFET 是一種電壓控制型器件,可用作電源電路、電機驅(qū)動器和其它系統(tǒng)中的開關(guān)元件。柵極是每個器件的電氣隔離控制端。MOSFET的另外兩端是和漏,而對于IGBT,它們被稱為
2018-10-25 10:22:56

隔離式柵極驅(qū)動器的揭秘

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集成高側(cè)MOSFET中的開關(guān)損耗分析

圖1:開關(guān)損耗讓我們先來看看在集成高側(cè)MOSFET中的開關(guān)損耗。在每個開關(guān)周期開始時,驅(qū)動器開始向集成MOSFET的柵極供應電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容。在首個時段(圖
2022-11-16 08:00:15

開關(guān)損耗驅(qū)動電源解決方案

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2023-06-25 06:24:20

高電流柵極驅(qū)動器助力實現(xiàn)更高的系統(tǒng)效率

柵極驅(qū)動器,其能夠通過降低開關(guān)損耗幫助提升整體系統(tǒng)效率。當FET開關(guān)打開或關(guān)閉時,就會出現(xiàn)開關(guān)損耗。為了打開FET,柵極電容得到的電荷必須超過閾值電壓。柵極驅(qū)動器驅(qū)動電流能夠有助于柵極電容的充電。驅(qū)動
2019-08-07 04:45:12

高速柵極驅(qū)動器解讀

高速柵極驅(qū)動器可以實現(xiàn)相同的效果。高速柵極驅(qū)動器可以通過降低FET的體二管的功耗來提高效率。體二管是寄生二管,對于大多數(shù)類型的FET是固有的。它由p-n結(jié)點形成并且位于漏之間。圖1所示
2022-11-14 07:53:24

寄生電感在 IGBT開關(guān)損耗測量中的影響

MOS門極功率開關(guān)元件的開關(guān)損耗受工作電壓、電流、溫度以及門極驅(qū)動電阻等因素影響,在測量時主要以這些物理量為參變量。但測量的非理想因素對測量結(jié)果影響是值得注意的,
2009-04-08 15:21:3232

理解功率MOSFET的開關(guān)損耗

理解功率MOSFET的開關(guān)損耗 本文詳細分析計算開關(guān)損耗,并論述實際狀態(tài)下功率MOSFET的開通過程和自然零電壓關(guān)斷的過程,從而使電子工程師知道哪個參數(shù)起主導作用并
2009-10-25 15:30:593320

理解MOSFET開關(guān)損耗和主導參數(shù)

MOSFET才導通,因此同步MOSFET是0電壓導通ZVS,而其關(guān)斷是自然的0電壓關(guān)斷ZVS,因此同步MOSFET在整個開關(guān)周期是0電壓的開關(guān)ZVS,開關(guān)損耗非常小,幾乎可以忽略不計,所以同步MOSFET只有RDS(ON)所產(chǎn)生的導通損耗,選取時只需要考慮RDS(ON)而不需要考慮Crss的值。
2012-04-12 11:04:2359180

Fairchild大幅降低IGBT損耗,助力工業(yè)和汽車應用中效率的提升

Fairchild將在PCIM Asia上介紹如何通過打破硅“理論上”的限制 來將IGBT 開關(guān)損耗降低30%
2015-06-15 11:09:231029

MOSFET開關(guān)損耗分析

為了有效解決金屬-氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)在通信設(shè)備直流-48 V緩啟動應用電路中出現(xiàn)的開關(guān)損耗失效問題,通過對MOSFET 柵極電荷、極間電容的闡述和導通過程的解剖,定位了MOSFET 開關(guān)損耗的來源,進而為緩啟動電路設(shè)計優(yōu)化,減少MOSFET的開關(guān)損耗提供了技術(shù)依據(jù)。
2016-01-04 14:59:0538

FPGA平臺實現(xiàn)最小開關(guān)損耗的SVPWM算法

FPGA平臺實現(xiàn)最小開關(guān)損耗的SVPWM算法
2016-04-13 16:12:1110

基于DSP的最小開關(guān)損耗SVPWM算法實現(xiàn)

基于DSP的最小開關(guān)損耗SVPWM算法實現(xiàn)。
2016-04-18 09:47:497

使用示波器測量電源開關(guān)損耗

使用示波器測量電源開關(guān)損耗
2016-05-05 09:49:380

如何利用高電流柵極驅(qū)動器實現(xiàn)更高的系統(tǒng)效率

當今世界,設(shè)計師們似乎永遠不停地在追求更高效率。我們希望以更低的功率輸入得到更高的功率輸出!更高的系統(tǒng)效率需要團隊的努力,這包括(但不限于)性能更高的柵極驅(qū)動器、控制器和新的寬禁帶技術(shù)。特別是高電流柵極驅(qū)動器,其能夠通過降低開關(guān)損耗幫助提升整體系統(tǒng)效率。當FET開關(guān)打開或關(guān)閉時,就會出現(xiàn)開關(guān)損耗。
2017-01-12 15:40:391010

寄生電感對IGBT開關(guān)損耗測量平臺的搭建

MOS門極功率開關(guān)元件的開關(guān)損耗受工作電壓、電流、溫度以及門極驅(qū)動電阻等因素影響,在測量時主要以這些物理量為參變量。但測量的非理想因素對測量結(jié)果影響是值得注意的,比如常見的管腳引線電感。本文在理論分析和實驗數(shù)據(jù)基礎(chǔ)上闡述了各寄生電感對IGBT開關(guān)損耗測量結(jié)果的影響。
2017-09-08 16:06:5221

開關(guān)損耗測試在電源調(diào)試中重要作用

MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對開關(guān)損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFC MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗反復摸索,那么該如何量化評估呢?
2017-11-10 08:56:426345

基于CMM下開關(guān)損耗和反激開關(guān)損耗分析以及公式計算

1、CCM 模式開關(guān)損耗 CCM 模式與 DCM 模式的開關(guān)損耗有所不同。先講解復雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。
2018-01-13 09:28:578162

怎樣準確測量開關(guān)損耗

一個高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。那我們該如何準確測量開關(guān)損耗呢?
2019-06-26 15:49:45721

如何準確的測量開關(guān)損耗

一個高質(zhì)量的開關(guān)電源效率高達95%,而開關(guān)電源的損耗大部分來自開關(guān)器件(MOSFET和二極管),所以正確的測量開關(guān)器件的損耗,對于效率分析是非常關(guān)鍵的。那我們該如何準確測量開關(guān)損耗呢?
2019-06-27 10:22:081926

關(guān)于開關(guān)節(jié)點產(chǎn)生的開關(guān)損耗問題探討

同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的同步開關(guān)(高邊+低邊)是對VIN和GND電壓進行切換(ON/OFF),該過渡時間的功率乘以開關(guān)頻率后的值即開關(guān)損耗。
2020-04-06 10:51:00889

功率MOSFET的開關(guān)損耗分析

功率MOSFET的開關(guān)損耗分析。
2021-04-16 14:17:0248

開關(guān)損耗原理分析

一、開關(guān)損耗包括開通損耗和關(guān)斷損耗兩種。開通損耗是指功率管從截止到導通時所產(chǎn)生的功率損耗;關(guān)斷損耗是指功率管從導通到截止時所產(chǎn)生的功率損耗。二、開關(guān)損耗原理分析:(1)、非理想的開關(guān)管在開通時,開關(guān)
2021-10-22 10:51:0611

matlab中mos管開通損耗和關(guān)斷損耗,終于明白了!開關(guān)電源中MOS開關(guān)損耗的推導過程和計算方法...

電源工程師知道,整個電源系統(tǒng)中開關(guān)MOS的損耗比不小. 討論最多的是導通損耗和關(guān)斷損耗,因為這兩種損耗與傳導損耗驅(qū)動損耗不同,因為它很直觀,所以有些人對其計算仍然有些困惑.今天,我們將詳細分析
2021-10-22 17:35:5953

直流/直流穩(wěn)壓器部件的開關(guān)損耗

的圖像。 圖1:開關(guān)損耗 讓我們先來看看在集成高側(cè)MOSFET中的開關(guān)損耗。在每個開關(guān)周期開始時,驅(qū)動器開始向集成MOSFET的柵極供應電流。從第1部分,您了解到MOSFET在其終端具有寄生電容
2022-01-21 17:01:12831

開關(guān)損耗測試方案中的探頭應用

,熱損耗極低。 開關(guān)設(shè)備極大程度上決定了SMPS的整體性能。開關(guān)器件的損耗可以說是開關(guān)電源中最為重要的一個損耗點,課件開關(guān)損耗測試是至關(guān)重要的。接下來普科科技PRBTEK就開關(guān)損耗測試方案中的探頭應用進行介紹。 上圖使用MSO5配合THDP0200及TCP003
2021-11-23 15:07:571095

開關(guān)電源功率MOSFET開關(guān)損耗的2個產(chǎn)生因素

開關(guān)過程中,穿越線性區(qū)(放大區(qū))時,電流和電壓產(chǎn)生交疊,形成開關(guān)損耗。其中,米勒電容導致的米勒平臺時間,在開關(guān)損耗中占主導作用。
2023-01-17 10:21:00978

全SiC功率模塊的開關(guān)損耗

全SiC功率模塊與現(xiàn)有的IGBT模塊相比,具有1)可大大降低開關(guān)損耗、2)開關(guān)頻率越高總體損耗降低程度越顯著 這兩大優(yōu)勢。
2023-02-08 13:43:22673

通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗-傳統(tǒng)的MOSFET驅(qū)動方法

MOSFET和IGBT等的開關(guān)損耗問題,那就是帶有驅(qū)動器源極引腳(所謂的開爾文源極引腳)的新封裝。在本文——“通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗”中,將介紹功率開關(guān)產(chǎn)品具有驅(qū)動器源極引腳的效果以及使用注意事項。
2023-02-09 10:19:18634

通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗-有驅(qū)動器源極引腳的封裝

通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗本文的關(guān)鍵要點?目前ROHM有驅(qū)動器源極引腳的封裝包括TO-247-4L和TO-263-7L兩種。
2023-02-09 10:19:20540

通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗-有無驅(qū)動器源極引腳的差異及其效果

本文的關(guān)鍵要點?具備驅(qū)動器源極引腳,可以消除VLSOURCE對VGS_INT的影響。?具備驅(qū)動器源極引腳,可以提高導通速度。
2023-02-09 10:19:20405

通過驅(qū)動器源極引腳改善開關(guān)損耗-電路板布線布局相關(guān)的注意事項

本文的關(guān)鍵要點?由于具有驅(qū)動器源極引腳的TO-247-4L封裝和不具有驅(qū)動器源極引腳的TO-247N封裝的引腳分配不同,因此在圖案布局時需要注意。
2023-02-09 10:19:21356

通過驅(qū)動器源極引腳開關(guān)損耗降低約35%

-接下來,請您介紹一下驅(qū)動器源極引腳是如何降低開關(guān)損耗的。首先,能否請您對使用了驅(qū)動器源極引腳的電路及其工作進行說明?Figure 4是具有驅(qū)動器源極引腳的MOSFET的驅(qū)動電路示例。
2023-02-16 09:47:49457

IGBT導通損耗開關(guān)損耗

從某個外企的功率放大器的測試數(shù)據(jù)上獲得一個具體的感受:導通損耗60W開關(guān)損耗251。大概是1:4.5 下面是英飛凌的一個例子:可知,六個管子的總功耗是714W這跟我在項目用用的那個150A的模塊試驗測試得到的總功耗差不多。 導通損耗開關(guān)損耗大概1:2
2023-02-23 09:26:4915

DC/DC評估篇損耗探討-同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的開關(guān)損耗

上一篇文章中探討了同步整流降壓轉(zhuǎn)換器的功率開關(guān)--輸出端MOSFET的傳導損耗。本文將探討開關(guān)節(jié)點產(chǎn)生的開關(guān)損耗。開關(guān)損耗:見文識意,開關(guān)損耗就是開關(guān)工作相關(guān)的損耗。在這里使用PSWH這個符號來表示。
2023-02-23 10:40:49622

全SiC功率模塊的開關(guān)損耗

全SiC功率模塊與現(xiàn)有的功率模塊相比具有SiC與生俱來的優(yōu)異性能。本文將對開關(guān)損耗進行介紹,開關(guān)損耗也可以說是傳統(tǒng)功率模塊所要解決的重大課題。
2023-02-24 11:51:28493

異步降壓轉(zhuǎn)換器的導通開關(guān)損耗

MOSFET的柵極電荷(米勒電容)以及控制IC的驅(qū)動能力。本應用筆記將詳細分析導通開關(guān)損耗以及選擇開關(guān)P溝道MOSFET的標準。
2023-03-10 09:26:35556

如何利用高電流柵極驅(qū)動器實現(xiàn)更高的系統(tǒng)效率

特別是高電流柵極驅(qū)動器,其能夠通過降低開關(guān)損耗幫助提升整體系統(tǒng)效率。當FET開關(guān)打開或關(guān)閉時,就會出現(xiàn)開關(guān)損耗。為了打開FET,柵極電容得到的電荷必須超過閾值電壓。
2023-04-08 09:19:29486

MOS管的開關(guān)損耗計算

CCM 模式與 DCM 模式的開關(guān)損耗有所不同。先講解復雜 CCM 模式,DCM 模式很簡單了。
2023-07-17 16:51:224671

同步buck電路的mos自舉驅(qū)動可以降低mos的開關(guān)損耗嗎?

同步buck電路的mos自舉驅(qū)動可以降低mos的開關(guān)損耗嗎? 同步buck電路的MOS自舉驅(qū)動可以降低MOS的開關(guān)損耗 同步Buck電路是一種常見的DC/DC降壓轉(zhuǎn)換器,它具有高效、穩(wěn)定、可靠的特點
2023-10-25 11:45:14522

使用SiC MOSFET時如何盡量降低電磁干擾和開關(guān)損耗

使用SiC MOSFET時如何盡量降低電磁干擾和開關(guān)損耗
2023-11-23 09:08:34333

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