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服務(wù)項(xiàng)目 | 車規(guī)功率模塊AQG324認(rèn)證服務(wù)

廣電計(jì)量 ? 2022-08-19 10:56 ? 次閱讀
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AQG324是ECPE(歐洲電力電子中心European Center for Power Electronic)相關(guān)工作組基于LV324測試標(biāo)準(zhǔn),是針對汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊而推出的認(rèn)證指南。

其中包含:

1、QM模塊測試部分

2、QC模塊特性測試部分

3、QE環(huán)境可靠性部分

4、QL壽命試驗(yàn)部分

AQG324制定了完善的車規(guī)級功率模塊的可靠性試驗(yàn)流程,可以有效驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性,指導(dǎo)廠商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能,從而加快產(chǎn)品開發(fā)速度,優(yōu)化工藝流程。

該標(biāo)準(zhǔn)自2018年4月推出后側(cè)重于基于硅基的功率模塊可靠性測試指南,至2021年3月的最新版本,已經(jīng)更新了部分碳化硅功率模塊的測試程序。

廣電計(jì)量元器件篩選及失效分析中心對AQG324測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行深入研究,并建立了全套的功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能力。

  1. AQG324 電力電子模塊認(rèn)證

本標(biāo)準(zhǔn)定義了功率模塊所需驗(yàn)證的測試項(xiàng)目、測試要求以及測試條件,適用范圍包括電力電子模塊的使用壽命基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì),例如用于高達(dá)3.5噸機(jī)動(dòng)車輛的電力電子轉(zhuǎn)換器單元(PCU)。

這些測試項(xiàng)目、測試要求以及測試條件大體上適用于Si基功率半導(dǎo)體模塊。后續(xù)發(fā)行版本將涉及替代半導(dǎo)體技術(shù),具體的測試項(xiàng)目和相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)如下圖所示。

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圖1 AQG認(rèn)證項(xiàng)目介紹

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圖2 AQG認(rèn)證項(xiàng)目介紹

二、廣電計(jì)量關(guān)于AQG324認(rèn)證服務(wù)方案

廣電計(jì)量在Si基功率半導(dǎo)體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著豐富的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn),為眾多半導(dǎo)體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。

1、QM-Module test

AQG324模塊測試用于在單個(gè)測試序列之前,以確保只有無缺陷的測試對象進(jìn)入資格測試,和序列之后表征被測件的電氣機(jī)械性能。

其目的是深入了解模塊的特征參數(shù)。模塊測試包含模塊開關(guān)單元的特征參數(shù),聲掃和外觀檢查等測試項(xiàng)目。如圖所示,廣電計(jì)量認(rèn)證服務(wù)包含且不限于提供AQG324相關(guān)的測試項(xiàng)目。

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圖3模塊測試設(shè)備

表1模塊測試設(shè)備方案

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2、QC-Characterizing module testing

模塊特性測試主要用于驗(yàn)證功率模塊的基本電氣功能特性機(jī)械數(shù)據(jù)。

除此之外,這些測試可以針對設(shè)計(jì)中與功能退化(功能失效)無關(guān)的薄弱點(diǎn)進(jìn)行早期探測評估,包括元器件的幾何布置、組裝、互連技術(shù)和半導(dǎo)體質(zhì)量。

表2 塊特性測試設(shè)備方案

poYBAGL-6nKATUjEAAAsmRqXbjQ476.pngpYYBAGL-6nSAQ8_LAALNvEV0AEQ620.png

圖4 動(dòng)態(tài)測試設(shè)備

3、QE-Environmental testing

環(huán)境測試主要用于驗(yàn)證電力電子模塊在機(jī)動(dòng)車輛中的適用性,包括物理分析、電氣和機(jī)械參數(shù)驗(yàn)證以及測試絕緣屬性。

表3環(huán)境測試設(shè)備方案

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4、QL-Lifetime testing

壽命測試主要是驗(yàn)證產(chǎn)品在規(guī)定條件下的使用壽命、貯存壽命是否達(dá)到規(guī)定的要求,發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷,確定失效機(jī)理等,例如功率循環(huán)測試主要是觸發(fā)/激發(fā)電力電子模塊的典型退化機(jī)制。

該過程主要區(qū)分為兩種失效機(jī)制:靠近芯片互連疲勞失效(chip-near)距離芯片互連較遠(yuǎn)疲勞失效(chip-remote)

兩種失效機(jī)制均由不同材料(具有不同的熱膨脹系數(shù))之間的熱機(jī)械應(yīng)力引發(fā)。

poYBAGL-6nSAJw_pAAKH_8aB6-4144.png

圖5 AQG認(rèn)證項(xiàng)目介紹

表4壽命試驗(yàn)設(shè)備方案

poYBAGL-6nKATIWTAACSSQHbRic939.pngpYYBAGL-6nSAX0M0AAIq7O803Lg305.png

圖6 功率循環(huán)測試機(jī)臺

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圖7 HTXB試驗(yàn)系統(tǒng)監(jiān)控柜

關(guān)于廣電計(jì)量半導(dǎo)體服務(wù)

廣電計(jì)量在全國設(shè)有元器件篩選及失效分析實(shí)驗(yàn)室,形成了以博士、專家為首的技術(shù)團(tuán)隊(duì),構(gòu)建了元器件國產(chǎn)化驗(yàn)證與競品分析、集成電路測試與工藝評價(jià)、半導(dǎo)體功率器件質(zhì)量提升工程、車規(guī)級芯片與元器件AEC-Q認(rèn)證等多個(gè)技術(shù)服務(wù)平臺,滿足裝備制造、航空航天、汽車、軌道交通、5G通信、光電器件傳感器等領(lǐng)域的電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的需求。

我們的服務(wù)優(yōu)勢

●牽頭工信部“面向集成電路、芯片產(chǎn)業(yè)的公共服務(wù)平臺建設(shè)項(xiàng)目””面向制造業(yè)的傳感器等關(guān)鍵元器件創(chuàng)新成果產(chǎn)業(yè)化公共服務(wù)平臺“等多個(gè)項(xiàng)目;

●在集成電路及SiC領(lǐng)域是技術(shù)能力最全面、知名度最高的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一,已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個(gè)型號的芯片驗(yàn)證;

●在車規(guī)領(lǐng)域擁有AEC-Q全套能力,獲得了近50家車廠的認(rèn)可,出具近300份AEC-Q報(bào)告,助力100多款車規(guī)元器件量產(chǎn)。

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