一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線(xiàn)課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

利用掃描電子顯微鏡精確測(cè)定焊膏中焊料粉末粒徑分布的研究

半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 來(lái)源:半導(dǎo)體封裝工程師之家 ? 作者:半導(dǎo)體封裝工程師 ? 2024-03-08 08:37 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

共讀好書(shū)

史留學(xué) 姚 康 何烜坤

(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所)

摘要

焊膏中焊料顆粒粒徑尺寸和分布是選擇焊膏型號(hào)的重要依據(jù),因此準(zhǔn)確測(cè)量焊膏中焊料粉末的粒徑尺寸和分布尤為重要。測(cè)定焊料粉末的粒徑尺寸和分布,可以利用高分辨率和具有明顯圖像襯度的掃描電鏡背散射圖像,經(jīng)圖像處理軟件二值化后準(zhǔn)確測(cè)量焊料粉末的尺寸,收集足夠的數(shù)據(jù)來(lái)確定,這對(duì)優(yōu)化焊膏的性能和后期應(yīng)用具有重要的指導(dǎo)意義。

0 引言

焊膏回流焊工藝是表面組裝技術(shù)中比較關(guān)鍵的一道工序,會(huì)直接影響電子產(chǎn)品的最終質(zhì)量及

可靠性 [1] 。隨著電子產(chǎn)品向更輕、更薄、更小、更方便使用的方向發(fā)展,制備工藝的改進(jìn)以及電子元器件微型化、高密化的趨勢(shì)將更加明顯,這就要求表面組裝技術(shù)向小間距、高密度、細(xì)孔徑、多層化、高可靠的方向突破 [2][3] 。因此對(duì)回流焊工藝及焊膏性能的研究具有極大的實(shí)用價(jià)值。焊膏主要由合金焊料粉末和助焊劑組成,合金焊料顆粒的形狀和大小決定了粉末的含氧量,直接影響著焊膏的粘性和可印制性,一般情況球形更適用于印制 [4] 。合金焊料顆粒的尺寸和粒徑分布是焊膏產(chǎn)品分級(jí)的依據(jù),是焊膏應(yīng)用的主要參數(shù)之一。目前,測(cè)定焊料粉末粒徑分布的方法主要有篩分法、激光衍射法、圖像法等 [4][5] 。其中篩分法由于粒徑段的劃分受限于篩層數(shù),對(duì)粒徑分布的測(cè)量略顯粗糙,且篩分過(guò)程為了減小誤差,需要大量的樣品,清洗大量樣品會(huì)使用更多的有機(jī)試劑;激光衍射法能測(cè)量樣品粒徑分布范圍,但很難得到各粒徑段準(zhǔn)確的百分比;圖像法能夠直接觀察樣品顆粒的微觀形貌及分布狀態(tài),缺點(diǎn)就是測(cè)定更多的顆粒數(shù)目需要大量工作,如果能解決這一問(wèn)題,可以當(dāng)成一種直觀可靠的測(cè)試方法。

掃描電子顯微鏡(SEM)因其較高的分辨率,是當(dāng)前觀察材料微觀形貌的一個(gè)重要手段 [6] ,SEM背散射電子成像更側(cè)重于原子序數(shù)襯度,這是由于視場(chǎng)中平均原子序數(shù)大的位置會(huì)產(chǎn)生更多的背散射電子信號(hào),成像時(shí)該區(qū)域較亮,平均原子序數(shù)小的位置成像較暗 [7] 。當(dāng)使用專(zhuān)用軟件中二值化進(jìn)行圖像分割時(shí),所有在某閾值范圍的像素都被判屬于物體,其余大于或小于該閾值范圍的像素則屬于背景 [8] ,因此樣品和背景襯度好的圖像在后續(xù)圖像二值化處理中更容易精確提取分析目標(biāo)。本文采用SEM在背散射模式下表征合金焊料粉末形貌,通過(guò)圖像處理軟件二值化處理精確提取分析目標(biāo),收集足夠的顆粒粒徑來(lái)確定其粒徑分布。

1 實(shí)驗(yàn)

1.1 取樣

為了實(shí)測(cè)焊膏中焊料粉末的粒徑,我們購(gòu)買(mǎi)一罐市面上最常見(jiàn)的T4焊膏為例。焊膏打開(kāi)攪勻后隨機(jī)取少量(1 g足夠)放入干凈的小燒杯中,剩余的重新包裝好放入冰箱保存。在燒杯中加入適量三氯甲烷,用保鮮膜封住燒杯口,在超聲波清洗機(jī)中清洗至焊料顆粒分散,靜置10 min等合金顆粒沉淀下來(lái)后輕輕倒出燒杯里的三氯甲烷溶劑,在傾倒過(guò)程中盡量避免焊料顆粒流出,再加入適量三氯甲烷重新洗滌一次,使得焊料顆粒表面無(wú)助焊劑及添加劑等殘留,然后換無(wú)水乙醇沖洗,洗滌過(guò)程同樣要避免焊料顆粒損失,在室溫下干燥將得到表面干凈的焊料粉末顆粒。

1.2 對(duì)焊料粉末微觀形貌進(jìn)行SEM表征

按SEM的制樣方法取清洗干燥好的焊料粉末均勻地涂抹在樣品托的碳導(dǎo)電膠上,用吹風(fēng)機(jī)或洗耳球吹掉未粘牢的多余顆粒。因洗干凈的焊料粉末是單分散的球狀合金顆粒,所以很容易在導(dǎo)電膠上制成平鋪成單層的焊料顆粒試樣。圖1是焊料粉末試樣的SEM照片,圖1( A)為二次電子圖像,SEM二次電子成像側(cè)重于形貌襯度,立體感強(qiáng),但焊料粉末球表面亮度不均勻且與背景襯度小,不利于圖像二值化處理。圖1 (B)為背散射電子圖像,從圖中可以清晰地看出合金焊料的微觀形貌,基本呈單分散的球狀顆粒且邊緣輪廓清楚。對(duì)比兩圖可以看出背散射電子圖像中焊料合金球顆粒和背景碳導(dǎo)電膠的襯度更加明顯,這是因?yàn)镾EM常用制備樣品的導(dǎo)電膠主要成分是C,合金焊料粉末以Sn元素為主,兩者原子序數(shù)相差較

大,焊料金屬元素相比較C元素產(chǎn)生更多的背散射電子信號(hào),焊料合金顆粒和碳導(dǎo)電膠之間的襯度更加明顯,在對(duì)圖像進(jìn)行二值化處理過(guò)程中更容易精確提取焊料合金球。

001bc50e-dce4-11ee-b759-92fbcf53809c.png

由于本文中采用的是T4焊膏,放大倍數(shù)為200倍時(shí)能夠清晰分辨單分散的焊料粉末的形貌。為了獲得足夠的有效數(shù)據(jù),分別在試樣不同的位置隨機(jī)拍攝10張200倍SEM背散射電子圖像。

1.3 圖片處理及數(shù)據(jù)導(dǎo)出

將上述照片用專(zhuān)業(yè)處理軟件打開(kāi),本文采用Micro-image Analysis & Process金相圖像分析系統(tǒng),按照200倍SEM照片的比例尺設(shè)定標(biāo)尺并加載,如圖2(A)所示。通過(guò)二值化對(duì)圖像進(jìn)行精準(zhǔn)分割,圖2(B)顯示的是提取的分析圖像恰好與焊料粉末邊界重合。我們通過(guò)工具將照片四周上沒(méi)能完整顯示的焊料球取消,并將連接在一起成整體的顆粒手動(dòng)分割開(kāi)來(lái),使得執(zhí)行分析后每個(gè)顆粒上都有一個(gè)數(shù)字編號(hào)獨(dú)立分散,如圖2(C)、圖2(D)所示。依次處理10張照片,執(zhí)行分析后發(fā)送一系列所需要的數(shù)據(jù)備用。

2 數(shù)據(jù)分析

因?yàn)楹噶戏勰╊w?;径汲是蛐位蝾?lèi)球形,要分析顆粒粒徑分布只需選取照片中各分

析目標(biāo)的等積圓直徑作為焊料粉末顆粒粒徑。10張照片處理完成,導(dǎo)出數(shù)據(jù)到Excel。圖3所示的是10個(gè)視場(chǎng)導(dǎo)出的Excel,總共測(cè)定出了1008個(gè)焊料粉末顆粒粒徑數(shù)據(jù),數(shù)目具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。分析Excel中數(shù)據(jù),通過(guò)粒徑計(jì)算出顆粒體積,各范圍內(nèi)的顆粒所占全部參與統(tǒng)計(jì)顆粒的質(zhì)量分?jǐn)?shù)可由體積百分比得出。

按照我國(guó)電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T 11391-2019,T4型焊膏焊料粉末顆粒尺寸大于38 μm的應(yīng)少于1%,至少90%的顆粒尺寸在20~38 μm范圍,尺寸小于20 μm的顆粒最多占10%。對(duì)上述Excel中數(shù)據(jù)篩選統(tǒng)計(jì),統(tǒng)計(jì)、計(jì)算出焊料粉末粒徑的分布如表1所示,所有顆粒粒徑均在20~40 μm之間。其中粒徑大于38 μm的顆粒所占的個(gè)數(shù)百分比為0.4%,質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.7%;尺寸在20~38 μm范圍的顆粒所占的個(gè)數(shù)百分比為99.6%,質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99.3%。通過(guò)試驗(yàn)可以得出我們所購(gòu)買(mǎi)的T4焊膏其粒徑分布符合標(biāo)準(zhǔn)。

0039f90c-dce4-11ee-b759-92fbcf53809c.png

004b3104-dce4-11ee-b759-92fbcf53809c.png

00500f08-dce4-11ee-b759-92fbcf53809c.png

3 結(jié)論

用SEM表征焊膏合金粉末形貌,SEM分辨率較高,在背散射模式下,原子序數(shù)較大的金屬元素相比較,制樣所用導(dǎo)電膠會(huì)產(chǎn)生更多的背散射電子,因此可以拍攝出襯度明顯且輪廓清晰的合金粉末形貌照片。照片經(jīng)圖像處理軟件二值化處理后能夠準(zhǔn)確提取合金焊料球并測(cè)量其粒徑。通過(guò)這種方法很容易精確測(cè)量出超過(guò)1000個(gè)合金焊料球顆粒的粒徑,測(cè)定的焊料合金粉末顆粒的數(shù)目具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。并且該方法操作過(guò)程簡(jiǎn)單,試驗(yàn)所需要清洗的焊膏量相對(duì)極少,可大大減少對(duì)環(huán)境有害的有機(jī)試劑的使用。因此通過(guò)這種方法精確測(cè)定焊膏焊料粉末的粒徑分布具有很大的實(shí)用意義。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 焊膏
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    50

    瀏覽量

    10558
  • 回流焊
    +關(guān)注

    關(guān)注

    14

    文章

    513

    瀏覽量

    17570
  • 電子顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    117

    瀏覽量

    10164
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    什么是透射電子顯微鏡?

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡)是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,通過(guò)電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來(lái)成像的
    的頭像 發(fā)表于 05-23 14:25 ?299次閱讀
    什么是透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>?

    透射電子顯微鏡在金屬材料的研究

    價(jià)值的指導(dǎo)。透射電子顯微鏡的工作原理與強(qiáng)大功能透射電子顯微鏡是一種借助高能電子束穿透樣品,并通過(guò)電磁透鏡進(jìn)行成像與分析的精密設(shè)備。其工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互
    的頭像 發(fā)表于 05-22 17:33 ?354次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>在金屬材料的<b class='flag-5'>研究</b>

    電子顯微鏡中的磁透鏡設(shè)計(jì)

    十九世紀(jì)末,科學(xué)家首次觀察到軸對(duì)稱(chēng)磁場(chǎng)對(duì)陰極射線(xiàn)示波器電子束產(chǎn)生的聚焦作用,這種效應(yīng)與光學(xué)透鏡對(duì)可見(jiàn)光的聚焦作用驚人地相似?;诖耍琑uska等人在1938年發(fā)明了利用電子束作為光源的電子顯
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:38 ?1208次閱讀
    <b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>中的磁透鏡設(shè)計(jì)

    什么是透射電子顯微鏡(TEM)?

    透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡簡(jiǎn)稱(chēng)TEM,是一種高分辨率的微觀分析儀器,自1933年發(fā)明以來(lái),已成為探索微觀世界的強(qiáng)大工具。其工作原理是在高真空環(huán)境下,電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)過(guò)聚焦后形成細(xì)
    的頭像 發(fā)表于 04-25 17:39 ?3101次閱讀
    什么是透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)?

    帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡

    掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描
    的頭像 發(fā)表于 04-07 15:55 ?670次閱讀
    帶你一文了解<b class='flag-5'>掃描</b>透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>

    透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用

    在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中,透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope,TEM)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用,成為了材料科學(xué)、生命科學(xué)以及納米科技研究不可或缺的重要
    的頭像 發(fā)表于 03-25 17:10 ?955次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM)的優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡的應(yīng)用場(chǎng)景有哪些?

    掃描電子顯微鏡(SEM)具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號(hào)等特點(diǎn),在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,以下是一些主要的應(yīng)用方面:一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研究:用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu),如晶粒大小
    的頭像 發(fā)表于 03-12 15:01 ?965次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>的應(yīng)用場(chǎng)景有哪些?

    聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)的用途

    離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)是將聚焦離子束(FIB)技術(shù)與掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)有機(jī)結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM?FIB-SEM系統(tǒng)通過(guò)聚焦離子束(FIB)和
    的頭像 發(fā)表于 03-12 13:47 ?546次閱讀
    聚焦離子束<b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(FIB-SEM)的用途

    掃描電子顯微鏡(SEM)類(lèi)型和原理

    掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)
    發(fā)表于 03-05 14:03 ?0次下載

    掃描電子顯微鏡(SEM)有哪些分類(lèi)?

    掃描電子顯微鏡(SEM)有多種分類(lèi)方式,具體如下:1、按電子槍種類(lèi)分類(lèi)(1)鎢絲槍掃描電鏡:使用熱鎢極電子槍?zhuān)帢O為能加熱的鎢絲。優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)
    的頭像 發(fā)表于 03-04 10:01 ?648次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(SEM)有哪些分類(lèi)?

    掃描電子顯微鏡(SEM)類(lèi)型和原理

    掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:57 ?1336次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(SEM)類(lèi)型和原理

    TEM樣本制備:透射電子顯微鏡技術(shù)指南

    機(jī)械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先,將樣品通過(guò)機(jī)械研磨的方式制成極薄的片狀,然后利用離子濺射技術(shù)進(jìn)一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過(guò)程能夠使樣品達(dá)到透射電子顯微鏡(TEM
    的頭像 發(fā)表于 01-03 16:58 ?668次閱讀
    TEM樣本制備:透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>技術(shù)指南

    透射電子顯微鏡(TEM):基礎(chǔ)知識(shí)概覽

    透射電子顯微鏡(TEM)概述透射電子顯微鏡(TEM)是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言,理解其基礎(chǔ)原理和操作對(duì)于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本
    的頭像 發(fā)表于 11-06 14:29 ?1710次閱讀
    透射<b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>(TEM):基礎(chǔ)知識(shí)概覽

    掃描電子顯微鏡用在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域

    三本精密儀器小編介紹在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域,技術(shù)的日新月異推動(dòng)著產(chǎn)品不斷向更小、更快、更高效的方向發(fā)展。其中,掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)作為精密觀測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 09-10 18:14 ?1623次閱讀
    <b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>用在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域

    進(jìn)口SEM掃描電子顯微鏡品牌推薦

    說(shuō)到SEM掃描電子顯微鏡的品牌推薦,蔡司代理三本精密儀器工程師可得好好跟你聊聊!這可是個(gè)技術(shù)活兒啊,選個(gè)好品牌,對(duì)于科研工作者來(lái)說(shuō),簡(jiǎn)直就像找到了寶藏一樣!首先得說(shuō)說(shuō)那個(gè)大家都耳熟能詳?shù)牟趟?/div>
    的頭像 發(fā)表于 08-12 17:24 ?1441次閱讀
    進(jìn)口SEM<b class='flag-5'>掃描</b><b class='flag-5'>電子顯微鏡</b>品牌推薦