NanoSpiceCCK先進(jìn)電路檢查分析平臺工具

產(chǎn)品簡介

NanoSpiceCCK是一款先進(jìn)的電路檢查可靠性分析工具，支持晶體管級全面的ERC、SOA電路檢查，適用于前后仿電路規(guī)則檢查功能，能夠快速提供準(zhǔn)確、簡潔的測試結(jié)果，方便設(shè)計人員及時發(fā)現(xiàn)電路中漏電、高阻態(tài)等問題。

NanoSpiceCCK支持靜態(tài)電路檢查和基于瞬態(tài)仿真的動態(tài)電路檢查。其中靜態(tài)電路檢查功能涵蓋電源域檢查等豐富的功能。依托于自主創(chuàng)新的靜態(tài)電壓傳播算法，NanoSpiceCCK能夠靈活、準(zhǔn)確地處理高壓、負(fù)壓等復(fù)雜電源域邊界的電壓傳播問題，為客戶提供準(zhǔn)確可靠的檢測結(jié)果，以此協(xié)助工程師在集成電路的早期生命周期中規(guī)避由于設(shè)計缺陷導(dǎo)致的故障。其動態(tài)電路檢查功能包括器件電流檢查等常用的檢查功能，廣泛應(yīng)用于數(shù)?；旌戏抡?。依托于高效并行NanoSpice仿真器的瞬態(tài)仿真，NanoSpiceCCK能夠高效、準(zhǔn)確地獲得不同激勵下電路工作的異常信息，并提供便捷的波形對比功能，方便用戶快速定位和解決問題。

產(chǎn)品優(yōu)勢

·高性能

靜態(tài)電壓傳播、高阻態(tài)、漏電路徑搜索算法的創(chuàng)新優(yōu)化

·高精準(zhǔn)

多種方式分類和去余，方便定位原因

·并行仿真

靜態(tài)和動態(tài)檢查均支持多核并行檢查，提升效率

·大容量

業(yè)界領(lǐng)先的動態(tài)電路檢查對仿真速度和內(nèi)存消耗額外開銷的控制和優(yōu)化

·兼容性

檢測類型豐富，可快速從現(xiàn)有工具遷移

·易使用

檢查報告易查易用

技術(shù)規(guī)格

產(chǎn)品應(yīng)用

模塊級模擬到全芯片SoC電路檢查

全芯片存儲器(SRAM、DRAM、Flash)電路檢查

定制數(shù)字電路檢查

應(yīng)用實例

低漏報/誤報率情況下檢查速度更快、報告更準(zhǔn)確