動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-06-30 14:51

  元器件可靠性領(lǐng)域中的 FIB 技術(shù)

  

  元器件可靠性領(lǐng)域中的FIB技術(shù)在當(dāng)今的科技時(shí)代，元器件的可靠性至關(guān)重要。當(dāng)前，國(guó)內(nèi)外元器件級(jí)可靠性質(zhì)量保證技術(shù)涵蓋了眾多方面，包括元器件補(bǔ)充篩選試驗(yàn)、破壞性物理分析（DPA）、結(jié)構(gòu)分析（CA）、失效分析（FA）以及應(yīng)用驗(yàn)證等。其中，結(jié)構(gòu)分析作為一種近年來(lái)逐漸推廣的新型技術(shù)，能夠從材料和生產(chǎn)工藝等多個(gè)層面深入剖析元器件，為確保元器件的可靠性發(fā)揮著關(guān)鍵作用。而聚

  fib 元器件 可靠性

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• 發(fā)布了文章 2025-06-30 14:39

  汽車(chē)電子領(lǐng)域中光電半導(dǎo)體器件的高溫高濕試驗(yàn)研究

  

  在汽車(chē)電子領(lǐng)域，光電半導(dǎo)體器件的可靠性是保障汽車(chē)行駛安全與穩(wěn)定的關(guān)鍵因素。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)作為汽車(chē)用分立光電半導(dǎo)體元器件的可靠性測(cè)試規(guī)范，其中的高溫高濕試驗(yàn)對(duì)于評(píng)估器件在復(fù)雜汽車(chē)環(huán)境下的性能至關(guān)重要。汽車(chē)電子環(huán)境與高溫高濕挑戰(zhàn)汽車(chē)在日常行駛中，其內(nèi)部電子設(shè)備面臨著復(fù)雜多變的環(huán)境條件。炎熱夏季，車(chē)輛長(zhǎng)時(shí)間暴露在陽(yáng)光下，車(chē)內(nèi)溫度急劇升高；潮濕地區(qū)，空氣濕度大

  光電半導(dǎo)體 半導(dǎo)體器件 汽車(chē)電子

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• 發(fā)布了文章 2025-06-30 14:38

  導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試方法的剖析與選擇

  

  導(dǎo)熱系數(shù)是衡量材料熱傳導(dǎo)能力的重要熱物理參數(shù)，它不僅決定了材料傳遞熱量的效率，還在工程設(shè)計(jì)的諸多環(huán)節(jié)中扮演著關(guān)鍵角色。從建筑保溫到電子設(shè)備散熱，從能源存儲(chǔ)到航空航天材料，準(zhǔn)確測(cè)定導(dǎo)熱系數(shù)對(duì)于優(yōu)化系統(tǒng)性能、確保安全運(yùn)行至關(guān)重要。依據(jù)測(cè)試原理的不同，導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試方法主要分為穩(wěn)態(tài)法和瞬態(tài)法兩大類(lèi)。穩(wěn)態(tài)法：精確測(cè)量的基石穩(wěn)態(tài)法以傅里葉導(dǎo)熱定律為理論基礎(chǔ)，通過(guò)保持樣品

  導(dǎo)熱系數(shù) 材料 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2025-06-27 18:43

  FIB 與成分分析的關(guān)聯(lián)原理

  

  離子束與樣品的相互作用在FIB系統(tǒng)中，離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)聚焦后轟擊樣品表面，引發(fā)一系列物理現(xiàn)象。入射離子與樣品原子的原子核碰撞，產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，這是FIB進(jìn)行材料去除和加工的基礎(chǔ)。同時(shí)，入射離子也可能通過(guò)級(jí)聯(lián)碰撞將動(dòng)能傳遞給樣品原子，并在樣品表面以下一定距離靜止，即離子注入。此外，入射離子與樣品的非彈性散射還會(huì)產(chǎn)生二次電子、聲子、等離子激元以及X射線等，其中

  fib 主成分分析 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-06-27 18:42

  AEC - Q102之汽車(chē)電子組件焊線測(cè)試

  

  在汽車(chē)電子領(lǐng)域，電子組件的可靠性和耐用性是保障汽車(chē)性能和安全的關(guān)鍵因素。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中，WBP（WireBondPull）和WBS（WireBondShear）試驗(yàn)是評(píng)估焊線質(zhì)量和焊點(diǎn)強(qiáng)度的兩種核心測(cè)試方法，它們對(duì)于確保汽車(chē)電子組件在各種復(fù)雜環(huán)境條件下的性能和壽命具有不可替代的重要性。WBP試驗(yàn)：焊線拉力的關(guān)鍵評(píng)估1.測(cè)試過(guò)程WBP試驗(yàn)，即焊線拉力測(cè)

  AEC 汽車(chē)電子 測(cè)試

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• 發(fā)布了文章 2025-06-27 18:41

  詳解歐盟RoHS與中國(guó)RoHS的異同點(diǎn)

  

  管控范圍1.歐盟RoHS歐盟RoHS指令的管控范圍廣泛，涵蓋了直流電1500伏、交流電1000伏以下的電子電氣產(chǎn)品，但部分產(chǎn)品有豁免條款。這意味著幾乎所有常見(jiàn)的電子產(chǎn)品，如家用電器（冰箱、空調(diào)、洗衣機(jī)等）、電腦及其配件、通訊設(shè)備、照明設(shè)備等，都必須遵循歐盟RoHS的規(guī)定。這一廣泛的管控范圍旨在從源頭上減少有害物質(zhì)對(duì)環(huán)境和人體健康的潛在危害，確保電子電氣產(chǎn)品在

  RoHS 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2025-06-27 18:40

  利用DSC測(cè)定LED封裝環(huán)氧樹(shù)脂玻璃化轉(zhuǎn)變溫度

  

  引言DSC（差示掃描量熱法）作為一種多用途、高效、快速、靈敏的分析測(cè)試手段已廣泛應(yīng)用于研究物質(zhì)的物理變化（如玻璃化轉(zhuǎn)變、熔融、結(jié)晶、晶型轉(zhuǎn)變、升華、汽化、吸附等）和化學(xué)變化（如分解、降解、聚合、交聯(lián)、氧化還原等）。這些變化是在加熱或冷卻過(guò)程中發(fā)生的，它在DSC曲線上表現(xiàn)為吸熱或放熱的峰或基線的不連續(xù)偏移。DSC法作為一種主要的熱分析方法，由于樣品用量少，測(cè)量

  DSC led 樹(shù)脂

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• 發(fā)布了文章 2025-06-26 11:56

  什么是無(wú)鹵PCB

  

  無(wú)鹵PCB的定義無(wú)鹵PCB是指電路板中鹵素含量符合特定限制標(biāo)準(zhǔn)的印刷電路板。根據(jù)JPCA-ES-01-2003標(biāo)準(zhǔn)，氯(Cl)、溴(Br)元素含量分別小于0.09％Wt（重量比）的覆銅板被定義為無(wú)鹵PCB，同時(shí)氯和溴的總量需≤0.15％（1500PPM）。常見(jiàn)的無(wú)鹵素材料包括TUC的TU883、Isola的DE156、GreenSpeed系列、生益的S116

  pcb PCB 電路板

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• 發(fā)布了文章 2025-06-26 11:55

  一文了解先進(jìn)封裝之倒裝芯片技術(shù)

  

  芯片封裝的定義與重要性芯片是現(xiàn)代電子系統(tǒng)的核心組件，其功能的實(shí)現(xiàn)離不開(kāi)與外部電路的連接。芯片封裝作為芯片制造的最后環(huán)節(jié)，起著至關(guān)重要的作用。芯片主要以硅為載體，具有高精度的集成功能，但由于硅材料易脆裂，芯片本身無(wú)法直接與印刷電路板（PCB）形成電互連。封裝技術(shù)通過(guò)使用合適的材料和工藝，對(duì)芯片進(jìn)行保護(hù)，同時(shí)調(diào)整芯片焊盤(pán)的密度，使其與PCB焊盤(pán)密度相匹配，從而實(shí)

  倒裝芯片 封裝 芯片

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• 發(fā)布了文章 2025-06-25 15:43

  銀線二焊鍵合點(diǎn)剝離失效原因：鍍銀層結(jié)合力差VS銀線鍵合工藝待優(yōu)化！

  

  銀線二焊鍵合點(diǎn)剝離LED死燈的案子時(shí)常發(fā)生，大家通常爭(zhēng)論是鍍銀層結(jié)合力差的問(wèn)題，還是鍵合線工藝問(wèn)題，而本案例，客戶(hù)在貼片完后出現(xiàn)死燈，金鑒接到客訴后立即進(jìn)行了初步分析，死燈現(xiàn)象為支架鍍銀層脫落導(dǎo)致，請(qǐng)分析死燈真實(shí)原因。檢測(cè)結(jié)論燈珠死燈失效死燈現(xiàn)象為支架鍍銀層脫落導(dǎo)致是由二焊引線鍵合工藝造成。焊點(diǎn)剝離的過(guò)程相當(dāng)于一次“百格試驗(yàn)”，如果切口邊緣有剝落的鍍銀層，證

  led 死燈

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