動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-12-31 11:55

  AEC-Q104認(rèn)證：芯片模組的可靠性與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

  

  車(chē)用多芯片模塊的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)隨著汽車(chē)電子技術(shù)的快速發(fā)展，車(chē)載系統(tǒng)的復(fù)雜性不斷增加，尤其是電子控制部件、導(dǎo)航系統(tǒng)和多媒體設(shè)備等的廣泛應(yīng)用，使得多芯片模塊（MCM）的可靠性變得尤為重要。為確保這些組件在極端環(huán)境下的可靠性，AEC-Q104認(rèn)證應(yīng)運(yùn)而生，成為車(chē)規(guī)級(jí)電子產(chǎn)品的重要標(biāo)準(zhǔn)。AEC-Q104認(rèn)證概述AEC-Q104是汽車(chē)電子委員會(huì)（AutomotiveE

  AEC 汽車(chē)電子 認(rèn)證

  1.6k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-31 11:53

  離子色譜儀深度解析

  

  離子色譜儀的結(jié)構(gòu)與原理離子色譜儀的核心結(jié)構(gòu)包括泵液系統(tǒng)、進(jìn)樣系統(tǒng)、色譜分離柱、檢測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。其工作原理基于固定相與流動(dòng)相之間的離子交換作用，通過(guò)分離色譜柱中不同溶質(zhì)離子的滯留時(shí)間，實(shí)現(xiàn)分析物的分離。離子色譜儀特別擅長(zhǎng)檢測(cè)親水性陰、陽(yáng)離子，如氟離子、氯離子、溴離子等陰離子，以及鋰離子、鈉離子、銨離子等陽(yáng)離子。離子色譜儀的操作流程操作離子色譜儀時(shí)，首先需

  離子色譜 色譜儀

  482瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-30 15:31

  FIB系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及其實(shí)際應(yīng)用

  

  雙束技術(shù)：FIB與SEM的協(xié)同工作雙束聚焦離子束顯微鏡的關(guān)鍵在于其雙束技術(shù)，離子束（FIB）用于樣品的精確切割和蝕刻，而電子束（SEM）則捕捉樣品的高分辨率圖像。SEM垂直安裝，F(xiàn)IB則以一定角度傾斜安裝，兩者之間形成52°的夾角，這種設(shè)計(jì)使得SEM能夠提供高達(dá)100萬(wàn)倍的放大倍數(shù)，有效彌補(bǔ)了單束FIB成像分辨率的不足。FIB機(jī)臺(tái)的核心組件1.操控器（Man

  fib SEM 電子束

  623瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-30 15:29

  氬離子拋光技術(shù)解析及其核心應(yīng)用功能

  

  氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝，它通過(guò)氬離子束的物理作用，對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用，特別是在需要使用掃描電子顯微鏡（SEM）等高分辨率顯微鏡進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析時(shí)。通過(guò)精確調(diào)節(jié)離子束的深度、強(qiáng)度和角度，該技術(shù)能夠去除樣品表面的損傷層，展現(xiàn)材料的內(nèi)在結(jié)構(gòu)，為科研人員提供了一種強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)工具。操作機(jī)制氬離子

  SEM 電子顯微鏡 表面處理

  646瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-30 15:28

  一文讀懂雙85測(cè)試時(shí)間以及等效實(shí)際壽命

  

  雙85測(cè)試在與世界標(biāo)準(zhǔn)接軌的今天，幾乎所有工業(yè)產(chǎn)品都需要經(jīng)歷可靠性模擬環(huán)境試驗(yàn)，以驗(yàn)證產(chǎn)品在各種條件下的正常運(yùn)行。在這些試驗(yàn)中，恒溫恒濕試驗(yàn)（如高低溫試驗(yàn)、高低溫濕熱試驗(yàn)）和冷熱沖擊試驗(yàn)扮演著至關(guān)重要的角色。特別是在恒溫恒濕試驗(yàn)中，以85℃溫度和85%濕度的條件（俗稱(chēng)雙85試驗(yàn)）是應(yīng)用最廣泛的試驗(yàn)條件之一。恒溫恒濕試驗(yàn)箱為什么是85℃，不是95℃，不是60℃

  led 沖擊試驗(yàn) 測(cè)試

  1.8k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-30 15:26

  高速光耦與普通光耦的不同點(diǎn)以及特性

  

  光耦合器在開(kāi)關(guān)電源中的重要性光耦合器，作為一種電子元件，其在開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)中扮演著至關(guān)重要的角色，主要負(fù)責(zé)實(shí)現(xiàn)電路間的電氣隔離，以確保電路的穩(wěn)定性和安全性。光耦合器的分類(lèi)1.非線性光耦非線性光耦，例如4N系列，其電流傳輸特性曲線呈現(xiàn)出明顯的非線性，這使得它們?cè)趥鬏旈_(kāi)關(guān)信號(hào)時(shí)表現(xiàn)出色，但在模擬信號(hào)傳輸方面則不太適用。2.線性光耦相對(duì)地，線性光耦，如PC817A系

  光耦 光耦合器 開(kāi)關(guān)電源 高速光耦

  658瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-27 14:04

  VSCEL激光器在汽車(chē)領(lǐng)域的應(yīng)用及其AEC-Q102認(rèn)證的重要性

  

  VSCEL技術(shù)簡(jiǎn)述垂直腔面發(fā)射激光器（VSCEL），這類(lèi)型的半導(dǎo)體激光器件因其垂直出射激光的特性和高效率而被廣泛認(rèn)可。VSCEL的操作涉及電流的注入，這導(dǎo)致電子和空穴在激光器的激活區(qū)域重合，從而產(chǎn)生光子。在激光器內(nèi)部，這些光子經(jīng)過(guò)多次反射和放大，最終通過(guò)DBR（分布式布拉格反射鏡）發(fā)射出高度相干的激光束。VSCEL的核心優(yōu)勢(shì)VSCEL憑借其高效率、體積小巧、

  AEC 激光器 認(rèn)證

  500瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-27 14:00

  可靠性測(cè)試：HAST與PCT的區(qū)別

  

  HAST測(cè)試的核心宗旨HAST測(cè)試的核心宗旨宗旨：HAST測(cè)試的主要宗旨是通過(guò)模擬極端環(huán)境條件，加速半導(dǎo)體元器件的失效過(guò)程，以此來(lái)驗(yàn)證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性。這種測(cè)試方法能夠有效縮短測(cè)試周期，快速揭示產(chǎn)品潛在的缺陷，例如材料分層、開(kāi)裂、短路等問(wèn)題。失效原因：HAST測(cè)試中的失效原因主要包括濕氣滲透導(dǎo)致的材料分解、結(jié)合力減弱、腐蝕等現(xiàn)象。具體表

  PCT 可靠性測(cè)試

  964瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-27 13:24

  RoHS指令實(shí)施狀況對(duì)比

  

  在全球范圍內(nèi)，隨著數(shù)字化和電子設(shè)備的迅速普及，RoHS（限制使用某些有害物質(zhì)）倡議已成為確保電子電氣產(chǎn)品環(huán)保合規(guī)性的重要標(biāo)準(zhǔn)。這一倡議不僅在歐盟得到實(shí)施，而且在全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)得到了響應(yīng)和采納。美國(guó)加州RoHS合規(guī)性美國(guó)加州RoHS法案（SB20/SB50）自2007年1月1日起生效，其限制物質(zhì)范圍較歐盟RoHS窄，主要限制鉛、汞、鎘和六價(jià)鉻。值得注意的是

  RoHS 電子設(shè)備

  601瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-12-27 13:23

  電子背散射衍射：科學(xué)原理與技術(shù)進(jìn)展

  

  樣品制備的關(guān)鍵要素電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）是一種用于分析材料微觀結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具，而樣品的制備質(zhì)量直接影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。以下是制備樣品時(shí)需滿(mǎn)足的關(guān)鍵要素：表面完整性：樣品表面應(yīng)保持平整，避免在制備過(guò)程中造成損傷。晶界保護(hù)：在制備過(guò)程中，應(yīng)盡量減少對(duì)晶粒間晶界的破壞。應(yīng)力層控制：樣品表面應(yīng)無(wú)應(yīng)力層，以確保衍射數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。樣品制備的工藝流程1.機(jī)械拋光

  數(shù)據(jù)采集 機(jī)械 材料

  614瀏覽量