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絕緣電阻測試和絕緣耐壓測試有什么不同2025-02-13 17:07
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溫度沖擊和溫度循環(huán):哪種溫度變化對材料的影響更大?2025-02-12 11:54
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聚焦離子束技術(shù):納米的精準(zhǔn)操控與廣闊應(yīng)用2025-02-11 22:27
納米的精準(zhǔn)尺度聚焦離子束技術(shù)的核心機(jī)制在于利用高能離子源產(chǎn)生離子束,并借助電磁透鏡系統(tǒng),將離子束精準(zhǔn)聚焦至微米級乃至納米級的極小區(qū)域。當(dāng)離子束與樣品表面相互作用時,其能量傳遞與物質(zhì)相互作用的特性被巧妙利用,從而實現(xiàn)了對樣品的原子級別操控。在刻蝕方面,高能離子束如同一把無形的“刻刀”,對樣品表面進(jìn)行轟擊,將表面材料逐層剝離,實現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)加工。這種刻蝕過程 -
氙燈老化試驗與UV紫外老化試驗的差異剖析2025-02-11 22:25
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FIB-SEM 雙束技術(shù)簡介及其部分應(yīng)用介紹2025-02-10 11:48
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測器以及可控樣品臺等附件,已發(fā)展成為一個能夠進(jìn)行微觀區(qū)域成像、加工、分析和操控的綜合分析工具。該系統(tǒng)的應(yīng)用已經(jīng)從半導(dǎo)體行業(yè)擴(kuò)展到材料科學(xué)、生命科學(xué)和地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域。歷史背景1978年,美國加州休斯研究所開發(fā)了世界上第一臺以液態(tài)金屬鎵( -
什么是飽和蒸汽試驗(PCT)?2025-02-10 11:47
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制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品2025-02-10 11:45
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FIB-SEM技術(shù)在鋰離子電池的應(yīng)用2025-02-08 12:15