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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導體行業(yè)最知名的第三方檢測機構之一

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金鑒實驗室文章

  • 聚焦離子束技術在現代科技的應用2025-03-03 15:51

    聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術是一種在微觀尺度上對材料進行加工、分析和成像的先進技術。它在材料科學、半導體制造、納米技術等領域發(fā)揮著不可或缺的作用。FIB的基本原理聚焦離子束技術的核心在于利用高能離子束對樣品進行加工和分析。其基本原理是將鎵(Ga)等元素在強電場的作用下加速,形成高能離子束。通過精確控制電場和磁場,離子束能夠聚焦到
    fib 材料 離子束 406瀏覽量
  • 氬離子束研磨拋光助力EBSD樣品的高效制備2025-03-03 15:48

    EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束(FIB)等,但這些方法各有其局限性。1.機械拋光的局限性機械拋光是一種傳統(tǒng)的EBSD樣品制備方法,雖然操作相對簡單,但存在諸多問題。首先,由于其硬度較大,可能會劃傷材料表面,尤其不適合硬度較低的材料。其次,機
    fib 離子束 341瀏覽量
  • 雙束聚焦離子束-掃描電鏡(FIB):TEM樣品制備2025-02-28 16:11

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡(DualBeamFocusedIonBeam,FIB)作為一種先進的微觀加工與分析技術,廣泛應用于材料科學、納米技術、半導體研究等領域。其不僅可以制作常見的截面透射電子顯微鏡(TEM)薄片樣品,還能根據不同的研發(fā)表征需求,對材料樣品的表面進行平面加工制樣。截面與平面TEM樣品的區(qū)別截面TEM樣品與平面TEM樣品的主要區(qū)別在于觀察面的
    fib 掃描電鏡 離子束 639瀏覽量
  • 氣體腐蝕對電子產品的危害與應對2025-02-27 14:33

    在當今快速發(fā)展的科技時代,電子產品已成為人們生活中不可或缺的一部分。從日常使用的手機、電腦到復雜的工業(yè)設備和醫(yī)療器械,它們的性能和可靠性直接影響著我們的生活和生產效率。然而,在復雜的使用環(huán)境中,電子產品面臨著諸多挑戰(zhàn),其中氣體腐蝕問題尤為突出。氣體腐蝕試驗的重要性腐蝕性氣體雖然在大氣中的濃度較低,但它們之間的相互作用會形成“倍乘效應”,生成強酸并伴隨水分的生
    氣體 電子產品 481瀏覽量
  • 聚焦離子束(FIB)技術原理和應用2025-02-26 15:24

    FIB技術原理聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術作為一種前沿的納米級加工與分析手段。它巧妙地融合了離子束技術與掃描電子顯微鏡(SEM)技術的優(yōu)勢,憑借其獨特的原理、廣泛的應用場景以及顯著的優(yōu)勢,成為現代科學研究與工業(yè)生產中不可或缺的重要工具。聚焦離子束技術的核心是液態(tài)金屬離子源。液態(tài)金屬離子源由一個半徑為2~5μm的鎢尖組成,鎢尖被尖
    fib SEM 離子束 864瀏覽量
  • 氬離子拋光如何應用于材料微觀結構分析2025-02-26 15:22

    微觀結構的分析氬離子束拋光技術作為一種先進的材料表面處理方法,憑借其精確的工藝參數控制,能夠有效去除樣品表面的損傷層,為高質量的成像和分析提供理想的樣品表面。這一技術廣泛應用于掃描電子顯微鏡(SEM)、光學顯微鏡、掃描探針顯微鏡等高端分析設備,并適用于能譜分析(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)、陰極發(fā)光(CL)、電子束誘導電流(EBIC)等多種分析技術。
    顯微鏡 材料 370瀏覽量
  • 電氣設備的安全性與絕緣性能測試2025-02-25 17:31

    電氣設備在現代生產中的廣泛應用極大地提升了生產效率,但同時也帶來了潛在的安全風險。觸電事故和電氣火災的發(fā)生,使得電氣設備的安全性成為產品質量的首要考量因素。耐壓測試耐壓測試,也稱為介電強度測試,是一種用于檢驗電氣設備絕緣強度的重要手段。它通過施加高于設備正常工作電壓的高電壓,模擬設備在極端情況下的運行狀態(tài),從而檢測絕緣材料是否能夠承受正常工作電壓以及短時過電
  • 聚焦離子束與掃描電鏡聯用技術2025-02-25 17:29

    技術概述聚焦離子束與掃描電鏡聯用系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種融合高分辨率成像與微納加工能力的前沿設備,主要由掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和氣體注入系統(tǒng)(GIS)構成。聚焦離子束系統(tǒng)利用靜電透鏡將離子束聚焦至極小尺寸,最小束斑直徑可小于10納米,是一種高精度的顯微加工工具。當前商用系統(tǒng)中,離子源種類豐富,涵蓋鎵(Ga)、氙(Xe)、氦(He)等。在
    fib 掃描電鏡 離子束 502瀏覽量
  • 什么是錫須生長?2025-02-25 17:28

    AEC-Q102標準是由汽車電子委員會制定的一系列嚴格規(guī)范,目的是確保汽車使用的電子元件能夠在嚴酷的工作環(huán)境中保持高度的可靠性和性能穩(wěn)定性。在這些規(guī)范中,錫須測試占據了至關重要的地位,它專門用來評估電子元件在預期服務壽命期間產生錫須的潛在可能性。錫須測試對于維護汽車電子系統(tǒng)的安全性和可靠性是必不可少的,它幫助確保元件在面對高溫、濕度和其他環(huán)境壓力時不會發(fā)生故
    AEC 電子元件 錫須 415瀏覽量
  • 氬離子技術之電子顯微鏡樣品制備技術2025-02-25 17:26

    在材料科學的微觀研究領域,電子顯微鏡扮演著至關重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內部的精細結構,為科研人員分析組織形貌和結構特征提供了強大的技術支持。掃描電鏡(SEM)樣品制備掃描電鏡(SEM)以其高分辨率和三維成像能力,廣泛應用于材料表面形貌和微觀結構的觀察。其樣品制備方法根據樣品類型和觀察需求有所不同。1.塊狀樣品低倍率觀察(<5萬倍):對于低倍率觀察,
    TEM 掃描電鏡 顯微鏡 497瀏覽量