1單片機(jī)解密失敗的原因

單片機(jī)解密存在失敗的概率，從我們解密的經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，按概率來(lái)講，大概存在1%單片機(jī)解密的失敗概率，存在0.3%的損壞母片的概率。所以我們不保證100%解密成功，也不保證100%不破壞母片，那么，單片機(jī)解密失敗有那幾點(diǎn)原因呢?

單片機(jī)解密失敗的原因很多，有人為因素，也有客觀環(huán)境因素的影響等等，下面是集中常見(jiàn)的造成單片機(jī)失敗的原因：

1.DECAP存在失敗的可能(這種占解密失敗原因的絕大部分)：

A.過(guò)腐蝕，PAD腐蝕壞，外部不能讀出程序

B.芯片流片工藝不好，DECAP的時(shí)候容易腐蝕PASSVATION表層(鈍化層)，使管芯實(shí)效，外部無(wú)法讀出程序

C.開(kāi)蓋的時(shí)候把PIN腳氧化(酸弄到管腳上了)

D.無(wú)意中弄斷AL線

E.單片機(jī)機(jī)使用特殊封裝材料，無(wú)法和酸反應(yīng)

F.管芯特殊封裝，不在芯片正中位置，極容易開(kāi)壞(下圖是MCU由2個(gè)管芯組成，通常稱為MCM)

E:芯片封裝的時(shí)候有雜質(zhì)，無(wú)法進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)。

2失敗的可能

2.FIB存在失敗的可能：

A:芯片流片工藝小，位子沒(méi)有找正確

B:FIB連線過(guò)長(zhǎng)，離子注入失效

C:離子注入強(qiáng)度沒(méi)有控制好

D:FIB設(shè)備存在問(wèn)題

E:某些芯片破解，需要在同一小區(qū)域做多項(xiàng)FIB，或者在同一時(shí)間內(nèi)，做多項(xiàng)FIB，那么就容易FIB出現(xiàn)問(wèn)題。

目前加密的最新技術(shù)不斷出現(xiàn)、編程器軟件缺陷、芯片燒斷過(guò)多管腳并且燒斷保護(hù)電路、低級(jí)的誤操作都可能使解密失敗;

還有一些單片機(jī)是手工操作解密，比如HT,MDT等，這些和解密者的水平和經(jīng)驗(yàn)有相當(dāng)大的關(guān)系;

目前單片機(jī)的程序存儲(chǔ)是靠?jī)?nèi)部電子作為介質(zhì)來(lái)存儲(chǔ)的，當(dāng)芯片使用周期比較長(zhǎng)或受到外部強(qiáng)磁場(chǎng)等環(huán)境的影響，失敗的概率更高;

另外帶時(shí)序功能GAL解密，帶有猜測(cè)性質(zhì)，也存在失敗的概率;如果采用純軟件的方式破解，和母片的編程軟件、生產(chǎn)日期和編程方式甚至編程語(yǔ)言等有很大關(guān)系，也存在失敗的概率。

對(duì)于單片機(jī)解密是否損壞母片?單片機(jī)解密解密存在損壞母片的概率，大概有0.3%的概率，所以也請(qǐng)客戶考慮這種風(fēng)險(xiǎn)。

審核編輯：湯梓紅