完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>
標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝后,被切割為小的晶片(Die),然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線或者導(dǎo)電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond Pad)連接到基板的相應(yīng)引腳(Lead),并構(gòu)成所要求的電路;然后再對(duì)獨(dú)立的晶片用塑料外殼加以封裝保護(hù),塑封之后,還要進(jìn)行一系列操作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及打印等工藝。封裝完成后進(jìn)行成品測(cè)試,通常經(jīng)過入檢(Incoming)、測(cè)試(Test)和包裝(Packing)等工序,最后入庫出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 打印 切筋和成型 外觀檢查 成品測(cè)試 包裝出貨。
技術(shù)干貨 | DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算全解析:從偏移誤差到總未調(diào)整誤差
上一期我們?cè)斀饬薉AC的核心術(shù)語,本期繼續(xù)深入探討DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算!從偏移誤差、增益誤差到INL/DNL,再到未調(diào)整總誤差(TUE),一文掌握D/A轉(zhuǎn)...
2025-06-20 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試DAC測(cè)試靜態(tài)參數(shù) 832 0
半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。...
2025-05-15 標(biāo)簽:試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試 194 0
電力電子半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備——高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱主要用于模擬高溫、低溫、濕度交變及恒定濕熱環(huán)境,評(píng)估產(chǎn)品在不同溫濕度條件下的耐久性、穩(wěn)定性及適應(yīng)性。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、功率...
2025-03-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試環(huán)境測(cè)試 384 0
技術(shù)解答合集:干簧繼電器在測(cè)試測(cè)量中的應(yīng)用
哪些測(cè)試測(cè)量應(yīng)用使用干簧繼電器?干簧繼電器在多種電子元件和系統(tǒng)中執(zhí)行信號(hào)切換,包括但不限于:半導(dǎo)體測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)試設(shè)備線束測(cè)試儀FCT功能測(cè)試儀絕緣測(cè)試儀...
2025-01-16 標(biāo)簽:繼電器測(cè)試測(cè)量自動(dòng)測(cè)試儀 1462 0
高低溫試驗(yàn)在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對(duì)電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗(yàn)旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的...
2024-07-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱 803 0
晶圓測(cè)試的對(duì)象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測(cè)試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測(cè)試需要連接測(cè)試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號(hào)。
2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲(chǔ)器半導(dǎo)體制程 2580 0
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測(cè)試
CP(Chip Probing)測(cè)試也叫晶圓測(cè)試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測(cè)試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試測(cè)試機(jī) 2705 0
數(shù)字時(shí)代半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn)與智能制造解決方案優(yōu)勢(shì)
集成電路反映了一個(gè)相對(duì)較新的世界秩序,在這個(gè)秩序中,國家間的貿(mào)易緊張和供應(yīng)鏈中斷是持續(xù)的威脅,大流行病的影響也繼續(xù)影響著這個(gè)行業(yè)。盡管面臨這些挑戰(zhàn),但在...
2024-01-15 標(biāo)簽:集成電路人工智能半導(dǎo)體器件 786 0
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽:芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2788 0
類別:電子資料 2025-01-10 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試
類別:電子資料 2021-12-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試BMS系統(tǒng)ceshi
類別:電子資料 2021-12-09 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試
吉時(shí)利2450源表在半導(dǎo)體測(cè)試中2線連接的優(yōu)劣對(duì)比
吉時(shí)利2450源表作為一款高精度、多功能電子測(cè)量儀器,在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其靈活的連接方式,包括2線制和4線制(凱爾文連接),為不同測(cè)試場(chǎng)景...
2025-06-23 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試源表 40 0
【展會(huì)回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕
近日,NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測(cè)試、功率半導(dǎo)體測(cè)試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門測(cè)試需求,以頂尖測(cè)試產(chǎn)品和...
2025-04-30 標(biāo)簽:電子制造半導(dǎo)體測(cè)試 326 0
Advantest CEO:先進(jìn)芯片測(cè)試需求大增
近日,半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測(cè)試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時(shí),就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測(cè)試需...
2025-01-03 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試Advantest 517 0
Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)
在自動(dòng)化測(cè)試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測(cè)試儀、功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、MEMS測(cè)試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車...
2024-12-06 標(biāo)簽:測(cè)試儀自動(dòng)化測(cè)量半導(dǎo)體測(cè)試 728 0
泰克信號(hào)發(fā)生器的半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體測(cè)試變得越來越復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號(hào)發(fā)生器作為測(cè)試設(shè)備的一個(gè)組成部分,扮演了越來越重要的角色。泰克信號(hào)發(fā)生...
2024-10-22 標(biāo)簽:信號(hào)發(fā)生器半導(dǎo)體測(cè)試 489 0
2024慕尼黑電子展(electronica China)于7月8日~10日盛大舉行。作為全球電子測(cè)試與測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),泰克科技攜最新測(cè)試解決方案精...
2024-07-11 標(biāo)簽:示波器半導(dǎo)體測(cè)試泰克科技 1018 0
半導(dǎo)體環(huán)境測(cè)試設(shè)備及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)_高低溫恒溫恒濕環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備
高低溫試驗(yàn)箱:能夠模擬從極低溫度到高溫的各種環(huán)境,檢測(cè)半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下的性能。這種設(shè)備對(duì)于評(píng)估半導(dǎo)體產(chǎn)品的耐溫范圍和穩(wěn)定性至關(guān)重要。 濕熱...
泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”
2024年6月6日,中國北京訊—— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)今日宣布,與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”的簽...
2024-06-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測(cè)試 870 0
積極應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級(jí)
在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,中國“芯”正迎來前所未有的發(fā)展機(jī)遇。AI、5G、物聯(lián)網(wǎng)、自動(dòng)駕駛、元宇宙、智慧城市等終端應(yīng)用方興未艾,為測(cè)試行業(yè)帶來新的...
2024-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試加速科技 628 0
探索半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域:哲訊TCC智能化管理系統(tǒng)的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)
在半導(dǎo)體行業(yè)中,封裝和測(cè)試環(huán)節(jié)是至關(guān)重要的一環(huán)。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。半導(dǎo)體封測(cè)包括封裝和測(cè)試...
2024-04-19 標(biāo)簽:封裝數(shù)字化半導(dǎo)體測(cè)試 763 0
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語言教程專題
電機(jī)控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動(dòng)駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無刷電機(jī) | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機(jī) | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進(jìn)電機(jī) | SPWM | 充電樁 | IPM | 機(jī)器視覺 | 無人機(jī) | 三菱電機(jī) | ST |
伺服電機(jī) | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國民技術(shù) | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |