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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試

半導(dǎo)體測(cè)試簡(jiǎn)介

  半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。

  封裝過程為:來自晶圓前道工藝的晶圓通過劃片工藝后,被切割為小的晶片(Die),然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線或者導(dǎo)電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond Pad)連接到基板的相應(yīng)引腳(Lead),并構(gòu)成所要求的電路;然后再對(duì)獨(dú)立的晶片用塑料外殼加以封裝保護(hù),塑封之后,還要進(jìn)行一系列操作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及打印等工藝。封裝完成后進(jìn)行成品測(cè)試,通常經(jīng)過入檢(Incoming)、測(cè)試(Test)和包裝(Packing)等工序,最后入庫出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 打印 切筋和成型 外觀檢查 成品測(cè)試 包裝出貨。

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半導(dǎo)體測(cè)試知識(shí)

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半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)

技術(shù)干貨 | DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算全解析:從偏移誤差到總未調(diào)整誤差

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上一期我們?cè)斀饬薉AC的核心術(shù)語,本期繼續(xù)深入探討DAC靜態(tài)參數(shù)計(jì)算!從偏移誤差、增益誤差到INL/DNL,再到未調(diào)整總誤差(TUE),一文掌握D/A轉(zhuǎn)...

2025-06-20 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試DAC測(cè)試靜態(tài)參數(shù) 832 0

半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。...

2025-05-15 標(biāo)簽:試驗(yàn)機(jī)可靠性測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試 194 0

電力電子半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備——高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

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高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱主要用于模擬高溫、低溫、濕度交變及恒定濕熱環(huán)境,評(píng)估產(chǎn)品在不同溫濕度條件下的耐久性、穩(wěn)定性及適應(yīng)性。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、功率...

2025-03-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試環(huán)境測(cè)試 384 0

技術(shù)解答合集:干簧繼電器在測(cè)試測(cè)量中的應(yīng)用

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哪些測(cè)試測(cè)量應(yīng)用使用干簧繼電器?干簧繼電器在多種電子元件和系統(tǒng)中執(zhí)行信號(hào)切換,包括但不限于:半導(dǎo)體測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)試設(shè)備線束測(cè)試儀FCT功能測(cè)試儀絕緣測(cè)試儀...

2025-01-16 標(biāo)簽:繼電器測(cè)試測(cè)量自動(dòng)測(cè)試儀 1462 0

WAT基本定義的介紹

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半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域常常提到WAT,什么是WAT?

2024-12-18 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體測(cè)試季豐電子 3133 0

電源模塊高低溫試驗(yàn)的必要性與應(yīng)用

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高低溫試驗(yàn)在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對(duì)電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗(yàn)旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的...

2024-07-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱 803 0

一文解析半導(dǎo)體晶圓測(cè)試系統(tǒng)

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晶圓測(cè)試的對(duì)象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測(cè)試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測(cè)試需要連接測(cè)試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號(hào)。

2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲(chǔ)器半導(dǎo)體制程 2580 0

半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測(cè)試

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CP(Chip Probing)測(cè)試也叫晶圓測(cè)試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測(cè)試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...

2024-04-20 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試測(cè)試機(jī) 2705 0

數(shù)字時(shí)代半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn)與智能制造解決方案優(yōu)勢(shì)

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集成電路反映了一個(gè)相對(duì)較新的世界秩序,在這個(gè)秩序中,國家間的貿(mào)易緊張和供應(yīng)鏈中斷是持續(xù)的威脅,大流行病的影響也繼續(xù)影響著這個(gè)行業(yè)。盡管面臨這些挑戰(zhàn),但在...

2024-01-15 標(biāo)簽:集成電路人工智能半導(dǎo)體器件 786 0

ATE測(cè)試機(jī)是什么

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。

2023-12-04 標(biāo)簽:芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2788 0

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半導(dǎo)體測(cè)試資訊

吉時(shí)利2450源表在半導(dǎo)體測(cè)試中2線連接的優(yōu)劣對(duì)比

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吉時(shí)利2450源表作為一款高精度、多功能電子測(cè)量儀器,在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其靈活的連接方式,包括2線制和4線制(凱爾文連接),為不同測(cè)試場(chǎng)景...

2025-06-23 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試源表 40 0

【展會(huì)回顧】NEPCON CHINA 2025 圓滿落幕

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近日,NEPCONChina2025在上海世博展覽館圓滿收官。SPEA聚焦電子制造、LED測(cè)試、功率半導(dǎo)體測(cè)試等關(guān)鍵領(lǐng)域的熱門測(cè)試需求,以頂尖測(cè)試產(chǎn)品和...

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Advantest CEO:先進(jìn)芯片測(cè)試需求大增

近日,半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域的龍頭企業(yè)Advantest愛德萬測(cè)試集團(tuán)的首席執(zhí)行官Douglas Lefever在接受英國媒體采訪時(shí),就現(xiàn)代先進(jìn)芯片的測(cè)試需...

2025-01-03 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試Advantest 517 0

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在自動(dòng)化測(cè)試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測(cè)試儀、功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、MEMS測(cè)試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車...

2024-12-06 標(biāo)簽:測(cè)試儀自動(dòng)化測(cè)量半導(dǎo)體測(cè)試 728 0

泰克信號(hào)發(fā)生器的半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用

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隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體測(cè)試變得越來越復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號(hào)發(fā)生器作為測(cè)試設(shè)備的一個(gè)組成部分,扮演了越來越重要的角色。泰克信號(hào)發(fā)生...

2024-10-22 標(biāo)簽:信號(hào)發(fā)生器半導(dǎo)體測(cè)試 489 0

泰克科技出席2024慕尼黑電子展

2024慕尼黑電子展(electronica China)于7月8日~10日盛大舉行。作為全球電子測(cè)試與測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),泰克科技攜最新測(cè)試解決方案精...

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半導(dǎo)體環(huán)境測(cè)試設(shè)備及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)_高低溫恒溫恒濕環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備

半導(dǎo)體環(huán)境測(cè)試設(shè)備及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)_高低溫恒溫恒濕環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備

高低溫試驗(yàn)箱:能夠模擬從極低溫度到高溫的各種環(huán)境,檢測(cè)半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下的性能。這種設(shè)備對(duì)于評(píng)估半導(dǎo)體產(chǎn)品的耐溫范圍和穩(wěn)定性至關(guān)重要。   濕熱...

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泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”

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2024年6月6日,中國北京訊—— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)今日宣布,與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”的簽...

2024-06-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測(cè)試 870 0

積極應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級(jí)

積極應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級(jí)

在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,中國“芯”正迎來前所未有的發(fā)展機(jī)遇。AI、5G、物聯(lián)網(wǎng)、自動(dòng)駕駛、元宇宙、智慧城市等終端應(yīng)用方興未艾,為測(cè)試行業(yè)帶來新的...

2024-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試加速科技 628 0

探索半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域:哲訊TCC智能化管理系統(tǒng)的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)

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在半導(dǎo)體行業(yè)中,封裝和測(cè)試環(huán)節(jié)是至關(guān)重要的一環(huán)。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。半導(dǎo)體封測(cè)包括封裝和測(cè)試...

2024-04-19 標(biāo)簽:封裝數(shù)字化半導(dǎo)體測(cè)試 763 0

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半導(dǎo)體測(cè)試數(shù)據(jù)手冊(cè)

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    驍龍
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    驍龍是Qualcomm Technologies(美國高通)旗下移動(dòng)處理器和LTE調(diào)制解調(diào)器的品牌名稱。
  • Cortex-A
    Cortex-A
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      Cortex-A 系列處理器是一系列處理器,支持ARM32或64位指令集,向后完全兼容早期的ARM處理器,包括從1995年發(fā)布的ARM7TDMI處理器到2002年發(fā)布的ARMll處理器系列。
  • Mobileye
    Mobileye
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    Mobileye在單目視覺高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng) (ADAS) 的開發(fā)方面走在世界前列,提供芯片搭載系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)視覺算法運(yùn)行 DAS 客戶端功能,例如車道偏離警告 (LDW)、基于雷達(dá)視覺融合的車輛探測(cè)、前部碰撞警告 (FCW)、車距監(jiān)測(cè) (HMW)、行人探測(cè)、智能前燈控制 (IHC)、交通標(biāo)志識(shí)別 (TSR)、僅視覺自適應(yīng)巡航控制 (ACC) 等。
  • CC2541
    CC2541
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    CC2541 是一款針對(duì)低能耗以及私有 2.4GHz 應(yīng)用的功率優(yōu)化的真正片載系統(tǒng) (SoC) 解決方案。
  • 超級(jí)本
    超級(jí)本
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    超極本Ultrabook是英特爾繼UMPC、MID、上網(wǎng)本netbook、Consumer Ultra Low Voltage超輕薄筆記本之后,定義的全新品類筆記本產(chǎn)品,集成了平板電腦的應(yīng)用特性與PC的性能,超極本是完整的電腦。
  • G3-PLC
    G3-PLC
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