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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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案例背景 Case background 某產(chǎn)品的端子在PCBA組裝完成后約24小時(shí),端子輕微受力后發(fā)生掉落,經(jīng)分析,判斷該種失效問題與端子鍍層合金化存...
連接器(connector)一般是指電連接器,即連接兩個(gè)有源器件的器件,傳輸電流或信號。端子連接器作為電氣連接的一種配件,在電路被阻斷或不通的地方充當(dāng)橋...
No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束,轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射...
1.案例背景 某產(chǎn)品測試過程中發(fā)生功能不良,初步分析不良是因?yàn)殡娮枳柚底兇髮?dǎo)致。 注:電阻阻值標(biāo)稱值為1KΩ,實(shí)際達(dá)到幾十或幾百KΩ。 2.分析過程 2...
LED(Light emitting diodes)產(chǎn)品在生產(chǎn)與使用過程中,往往容易因各種應(yīng)力或環(huán)境等因素的影響,導(dǎo)致失效不良的產(chǎn)生,即發(fā)生LED失效。...
季豐電子可靠性試驗(yàn)和失效分析自研產(chǎn)品助力眾多實(shí)驗(yàn)室能力提升
季豐電子自2018年成功推出第一款自研產(chǎn)品后,如今已有10多款產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于可靠性試驗(yàn)和失效分析測試,滿足季豐電子自己使用,同時(shí)也對外銷售,并獲得眾多...
2022-06-24 標(biāo)簽:失效分析可靠性試驗(yàn)季豐電子 3257 0
日常分析中,經(jīng)常出現(xiàn)由于BGA焊接可靠性導(dǎo)致的工程、市場失效問題,或檢出存在焊接可靠性風(fēng)險(xiǎn)的問題。鑒于BGA焊接的隱蔽性,造成失效對象品的風(fēng)險(xiǎn)較難預(yù)測,...
掃描電鏡應(yīng)用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析
材料的性能與組織的關(guān)系 正確的金相分析是失效分析的基礎(chǔ)。首先是對各種光學(xué)顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對顯微組織精細(xì)...
金屬斷口學(xué)的發(fā)展及微觀斷裂機(jī)理研究可靠性檢測
1 斷口是試樣或零件在試驗(yàn)或使用過程中斷裂后所形成的相匹配表面。 斷口學(xué)是研究斷口的形貌、性質(zhì),進(jìn)而分析斷裂類型和斷裂方式(有時(shí)統(tǒng)稱為斷裂模式)、斷裂路...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)出現(xiàn)于20世紀(jì)80年代末,經(jīng)過十多年的發(fā)展已成為顯微組織與晶體學(xué)分析相結(jié)合的一種新的圖像分析技術(shù)。因其成像依賴于晶體的取向...
不同種類的金屬材料和結(jié)構(gòu)件,在載荷、溫度、介質(zhì)等力學(xué)及環(huán)境因素作用下,經(jīng)常以磨損、腐蝕、斷裂、變形等方式失效。為了避免和預(yù)防事故發(fā)生,失效分析對新材料、...
通過對NG樣品、OK樣品進(jìn)行了外觀光學(xué)檢查、金相切片分析、SEM/EDS分析及模擬試驗(yàn)分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因?yàn)槎伟饽K固化過程中及固化后...
LED芯片是LED照明的核心部件,芯片溫度過高會嚴(yán)重影響LED壽命和發(fā)光質(zhì)量;散熱片作為芯片的唯一散熱手段,在設(shè)計(jì)中必須關(guān)注溫度的分布狀態(tài);本文主要介紹...
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