在今年舉行的stm32峰會上，意法半導(dǎo)體公開表示國產(chǎn)mcu的質(zhì)量不好。從當(dāng)時公布的資料來看，st提出的問題是括國內(nèi)MCU封裝打線不可靠、低溫相生啟動失敗、低電力模式覺醒失敗等。國產(chǎn)mcu從上市到現(xiàn)在已有20年左右的歷史。雖然初期使用量不多，大部分集中在消費(fèi)行業(yè)，但在過去幾年里，由于國際大工廠一度嚴(yán)重缺貨，國產(chǎn)mcu已經(jīng)開始進(jìn)入一些工業(yè)、家電、汽車等對產(chǎn)品質(zhì)量要求更嚴(yán)格的行業(yè)。

st的主張是否屬實(shí)，國產(chǎn)mcu的質(zhì)量如何？我們收集了在市場上廣泛使用的基于arm cortex-m0/m0 +的mcu產(chǎn)品，配置幾乎相似，使用64kb的閃存。該產(chǎn)品與st于2023年2月推出的新一代stm32c0 （32kb flash）相比較。數(shù)據(jù)從各家庭公開的資料中申請。

除去內(nèi)核，主頻率，內(nèi)存容量等一般度量，比較結(jié)果如下。

-最大溫度范圍表示芯片工作的周圍溫度。在溫度范圍內(nèi)，st的溫度范圍最好能承受-40~125的溫度范圍。與此相比，國內(nèi)競爭產(chǎn)品的最高溫度普遍在85或105以下；

-esd靜電放電和lu lunch值是顯示芯片可靠性的重要指標(biāo)之一，溫度越高越好。芯片在實(shí)際應(yīng)用過程中，會受到人體直接接觸、裝備空氣放電、環(huán)境線等多種系統(tǒng)的噪音和靜電干擾，因此，如果芯片的esd和lu指標(biāo)低，對環(huán)境干擾因素的抵抗力就會減弱。在產(chǎn)業(yè)、家電和汽車應(yīng)用領(lǐng)域，esd和lu的要求很高。一般來說，如果環(huán)境溫度升高，該指標(biāo)就會下降，因此，如果指標(biāo)相同，溫度越高越好。從esd指標(biāo)來看，st的hbm和cdm指標(biāo)比較弱。相比之下，很多國內(nèi)競爭產(chǎn)品可以達(dá)到6000v的水平。從esd來看，st并不占優(yōu)勢。在這樣的指標(biāo)中，國內(nèi)mcu制造企業(yè)的業(yè)績并不理想。從lu的指標(biāo)來看，st的100ma水平比較普通。與此相比，國內(nèi)競爭產(chǎn)品的部分有可能達(dá)到200ma，甚至300ma。

-芯片啟動時，程序代碼會儲存在flash中。flash的質(zhì)量在mcu中非常重要。質(zhì)量差的閃光燈，高溫?cái)?shù)據(jù)丟失或達(dá)到一定次數(shù)后，就會出現(xiàn)無法記錄的現(xiàn)象。st的1萬次刪除次數(shù)也比較弱，與此相比，國內(nèi)競爭產(chǎn)品的刪除次數(shù)普遍達(dá)到其10倍。在存儲壽命方面，st的15年儲存量也處于中間水平，國內(nèi)部分產(chǎn)品可以達(dá)到20年。

芯片通過時鐘驅(qū)動程序運(yùn)行，并為mcu提供時間標(biāo)準(zhǔn)。如果這個時間標(biāo)準(zhǔn)不正確，所有需要正確時間的應(yīng)用程序都會受到影響。從手表精度來看，st的精度范圍比較好，但國內(nèi)競爭產(chǎn)品也能達(dá)到相似的水平。

從上述比較情況看，至少從數(shù)字上看，國內(nèi)mcu制造企業(yè)經(jīng)過幾年的產(chǎn)品更新?lián)Q代，不亞于質(zhì)量已經(jīng)著名的國際大工廠。當(dāng)然，mcu的魅力在于每個客戶的使用方式和運(yùn)行環(huán)境都不一樣，實(shí)際應(yīng)用中的狀態(tài)還不是僅靠各個家庭的公開資料就能一目了然。但是，最近幾年國產(chǎn)mcu開發(fā)得很好是事實(shí)。雖然與國際mcu公司相比，在技術(shù)積累，生態(tài)構(gòu)建等方面還有差異，但隨著國產(chǎn)mcu公司不斷投入資源，深入市場，這種差距將逐漸縮小。國產(chǎn)mcu公司將為市場提供更多更好的解決方案。