1.定義:
- JTAG(聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)是測(cè)試和調(diào)試集成電路的標(biāo)準(zhǔn),廣泛用于嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。
2.目的:
- 能夠調(diào)試、測(cè)試和編程嵌入式系統(tǒng),支持開(kāi)發(fā)人員檢查和操作處理器內(nèi)部狀態(tài)。
3.組件:
-測(cè)試訪問(wèn)端口(TAP)控制器管理對(duì)JTAG接口的訪問(wèn)。
4.主要特點(diǎn):
-支持互聯(lián)檢查的邊界掃描測(cè)試。
-啟用固件更新的系統(tǒng)內(nèi)編程。
-廣泛用于實(shí)時(shí)調(diào)試,而不會(huì)中斷操作。
5.JTAG 引腳:
- TCK(測(cè)試時(shí)鐘)、TMS(測(cè)試模式選擇)、TDI(測(cè)試數(shù)據(jù)輸入)、TDO(測(cè)試數(shù)據(jù)輸出)。
6.JTAG調(diào)試器和探頭:
- JTAG調(diào)試器連接到JTAG進(jìn)行調(diào)試。
- JTAG探頭是連接JTAG調(diào)試器與目標(biāo)系統(tǒng)的連接器或電纜。
7.JTAG邊界掃描:
8.JTAG命令:
-通過(guò)JTAG發(fā)送的命令控制TAP控制器進(jìn)入調(diào)試模式或讀取內(nèi)存等操作命令。
9.系統(tǒng)調(diào)試:
- OpenOCD是一種支持使用JTAG進(jìn)行系統(tǒng)編程和調(diào)試的開(kāi)源工具的示例。
10.常見(jiàn)的JTAG兼容微控制器:
- ARM Cortex-M系列微控制器通常支持JTAG進(jìn)行調(diào)試和編程。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:嵌入式C開(kāi)發(fā)中的JTAG接口簡(jiǎn)介
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