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瑞薩RX MCU功能安全解決方案簡(jiǎn)介（3）Self-Test自檢軟件包

01RA系列MCU Self-Test軟件包

內(nèi)容

下面介紹一下瑞薩自檢軟件套件。該軟件包包括RA系列MCU診斷軟件、安全手冊(cè)、用戶指南和功能安全證書(shū)。RA系列MCU診斷軟件已通過(guò)安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證，因此可以直接集成到您的系統(tǒng)中。無(wú)需進(jìn)行認(rèn)證。

概述

RA系列MCU診斷軟件是針對(duì)CPU、RAM、和ROM 的永久失效診斷軟件。

*1:Refer to the reference document for the diagnostic method

CPU和內(nèi)部RAM的目標(biāo)診斷覆蓋率為90%，內(nèi)部ROM的目標(biāo)檢測(cè)覆蓋率高達(dá)99%。

本軟件不包括片上外設(shè)模塊和外部存儲(chǔ)器的永久失效或瞬態(tài)失效檢測(cè)。

必要的資源

RA系列MCU診斷軟件所需的MCU資源。

*1:Compatible with RA6M1, RA6M2, RA6M3, RA6T1, RA4M1

*2:Compatible with RA6M4, RA6M5, RA4M2, RA4M3

*3:Compatible with RA2A1, RA2L1, RA2E1

該軟件使用內(nèi)部ROM和RAM，片上CRC模塊。不需要外部引腳。

訂購(gòu)號(hào)碼

用戶可以通過(guò)這些訂購(gòu)號(hào)購(gòu)買(mǎi)自檢軟件包。

*1:兼容RA6M1, RA6M2, RA6M3, RA6T1

*2:兼容RA4M1

*3:兼容RA6M4, RA6M5

*4:兼容RA4M2, RA4M3

*5:兼容RA2A1, RA2L1, RA2E1

目前支持的編譯器為IAR編譯器，需要注意的是，使用自檢軟件包時(shí)，編譯器的版本是有限的，不支持此處列出的其他版本。

02

RA系列MCU診斷軟件

CPU內(nèi)核的診斷

RA系列MCU診斷軟件執(zhí)行的CPU內(nèi)核診斷。

*1: Unit = CPU clock cycles

對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類型來(lái)說(shuō)，這個(gè)診斷用于檢測(cè)CPU內(nèi)核和通用寄存器中的永久失效。

對(duì)于診斷方法來(lái)說(shuō)，在CPU內(nèi)核診斷中，從一系列CPU指令代碼執(zhí)行中生成簽名，并將簽名與預(yù)定義的預(yù)期值進(jìn)行比較。

對(duì)于診斷覆蓋率，該軟件的診斷覆蓋率為90%。

CPU內(nèi)核診斷被劃分為多個(gè)測(cè)試單元，以不影響其他程序的性能。CPU內(nèi)核診斷的測(cè)試單元的數(shù)量和總執(zhí)行時(shí)間如上表中所示。

內(nèi)部ROM診斷

RA系列MCU診斷軟件執(zhí)行的內(nèi)部ROM診斷。

*1: 只能選擇Cortex-M4的診斷軟件

*2: Unit = CPU clock cycles

*3: 當(dāng)診斷ROM大小為1K字節(jié)時(shí)

*4: 當(dāng)診斷ROM大小為4K字節(jié)時(shí)

對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類型來(lái)說(shuō)，此診斷用于檢測(cè)內(nèi)部ROM的永久性失效。它不包括MCU外部的ROM。

對(duì)于診斷方法來(lái)說(shuō)，在這個(gè)診斷中，ROM在其寫(xiě)入操作期間通過(guò)計(jì)算其內(nèi)容的CRC值并與PC工具計(jì)算的參考CRC值進(jìn)行比較來(lái)進(jìn)行測(cè)試。該軟件的診斷覆蓋率高達(dá)99%。

有三個(gè)多項(xiàng)式可用于CRC計(jì)算。執(zhí)行時(shí)間如上表中所示。

內(nèi)部RAM診斷

RA系列MCU診斷軟件執(zhí)行的內(nèi)部RAM診斷。

*1: Unit = CPU clock cycles

*2: 當(dāng)診斷RAM大小為1 KB時(shí)

對(duì)于目標(biāo)區(qū)域和失效類型來(lái)說(shuō)，此診斷用于檢測(cè)內(nèi)部RAM中的永久性失效。它不包括瞬態(tài)失效和對(duì)MCU外部的RAM的檢測(cè)。

對(duì)于診斷算法，可提供兩種診斷算法，瑞薩開(kāi)發(fā)的Extended March C-實(shí)現(xiàn)90%的診斷覆蓋率。

對(duì)于診斷類型，內(nèi)部RAM可以用破壞性或非破壞性方法進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)RAM診斷的大小為 1Kbyte時(shí)執(zhí)行時(shí)間如上表中所示。