導(dǎo)讀

在電子電力技術(shù)飛速發(fā)展的當(dāng)下，各類(lèi)電源設(shè)備的性能測(cè)試與優(yōu)化變得愈發(fā)關(guān)鍵。艾德克斯IT8500G+系列可編程直流電子負(fù)載憑借其卓越的性能和多功能特性，在移動(dòng)電源、開(kāi)關(guān)電源、快充適配器以及測(cè)試系統(tǒng)等領(lǐng)域中占據(jù)著重要地位。本文將深入探討其在這些領(lǐng)域的具體應(yīng)用，并結(jié)合典型案例詳細(xì)闡述。

01IT8500G+在移動(dòng)電源測(cè)試中的應(yīng)用

移動(dòng)電源的性能直接影響著眾多便攜式電子設(shè)備的使用體驗(yàn)。IT8500G + 直流電子負(fù)載在移動(dòng)電源測(cè)試環(huán)節(jié)發(fā)揮著不可或缺的作用。

典型案例：

某知名移動(dòng)電源制造商在其產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中，采用IT8500G+直流電子負(fù)載進(jìn)行全面測(cè)試。

1.容量測(cè)試：IT8500G+能夠精確測(cè)試移動(dòng)電源在不同放電電流下的工作狀態(tài)。例如，設(shè)置放電電流從0.1A逐步遞增到2A，IT8500G+可準(zhǔn)確記錄移動(dòng)電源在每個(gè)電流值下的放電時(shí)間和電壓變化曲線。通過(guò)分析這些數(shù)據(jù)，制造商能夠精準(zhǔn)確定移動(dòng)電源的實(shí)際容量，發(fā)現(xiàn)其與標(biāo)稱容量的偏差，并進(jìn)行相應(yīng)的優(yōu)化調(diào)整。

2.轉(zhuǎn)換效率測(cè)試：IT8500G+可設(shè)置不同的負(fù)載電阻，模擬移動(dòng)電源為不同設(shè)備充電的情況，計(jì)算出轉(zhuǎn)換效率。如在為智能手機(jī)充電模擬測(cè)試中，發(fā)現(xiàn)某款移動(dòng)電源在低電量輸出時(shí)轉(zhuǎn)換效率較低，經(jīng)調(diào)整內(nèi)部電路后，在 IT8500G+的再次測(cè)試驗(yàn)證下，轉(zhuǎn)換效率提升了5%，有效減少了能量損耗，延長(zhǎng)了移動(dòng)電源的使用時(shí)長(zhǎng)。

02IT8500G+在開(kāi)關(guān)電源測(cè)試中的應(yīng)用

開(kāi)關(guān)電源廣泛應(yīng)用于各類(lèi)電子設(shè)備，其穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。IT8500G +為開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試提供了高效且精確的解決方案。

典型案例：

以某通信設(shè)備中的開(kāi)關(guān)電源為例，該開(kāi)關(guān)電源需要在不同的負(fù)載條件和輸入電壓波動(dòng)下穩(wěn)定工作。IT8500G+直流電子負(fù)載可通過(guò)編程設(shè)置多種負(fù)載模式，如恒流、恒阻、恒功率等。

1.負(fù)載調(diào)整率測(cè)試：將IT8500G+設(shè)置為恒流負(fù)載模式，從滿載逐漸變化到空載，同時(shí)監(jiān)測(cè)開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓變化。結(jié)果顯示，在未優(yōu)化前，輸出電壓波動(dòng)超過(guò)了規(guī)定的±3%范圍。利用 IT8500G+精確的測(cè)試數(shù)據(jù)反饋，工程師對(duì)開(kāi)關(guān)電源的反饋控制環(huán)路進(jìn)行調(diào)整，再次測(cè)試時(shí)，輸出電壓波動(dòng)控制在±1%以內(nèi)，滿足了通信設(shè)備對(duì)電源穩(wěn)定性的嚴(yán)格要求。

2.動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性測(cè)試：IT8500G+能夠快速改變負(fù)載電流，模擬負(fù)載突變情況，測(cè)得開(kāi)關(guān)電源的輸出電壓恢復(fù)時(shí)間和超調(diào)量，工程師可以評(píng)估其動(dòng)態(tài)性能，并進(jìn)行針對(duì)性優(yōu)化，確保開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際應(yīng)用中能應(yīng)對(duì)各種復(fù)雜的負(fù)載變化。

03IT8500G+在快充適配器測(cè)試中的應(yīng)用

隨著快充技術(shù)的普及，快充適配器的兼容性和性能測(cè)試成為關(guān)鍵。IT8500G +在快充適配器測(cè)試中展現(xiàn)出強(qiáng)大的功能。

典型案例：

某手機(jī)品牌的快充適配器支持多種快充協(xié)議，如PD、QC等。IT8500G+直流電子負(fù)載能夠模擬不同的受電設(shè)備。

1.協(xié)議兼容性測(cè)試：對(duì)快充適配器進(jìn)行全面的協(xié)議兼容性測(cè)試。通過(guò)設(shè)置相應(yīng)的電壓和電流參數(shù)，模擬不同快充協(xié)議的充電需求。在測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)該快充適配器在與某特定型號(hào)手機(jī)進(jìn)行PD協(xié)議充電時(shí)，握手成功率較低。工程師發(fā)現(xiàn)是適配器在協(xié)議電壓調(diào)整階段存在延遲。經(jīng)過(guò)對(duì)適配器軟件算法的優(yōu)化，再次使用IT8500G+進(jìn)行測(cè)試，握手成功率提升到 98% 以上。

2.過(guò)功率保護(hù)和溫升特性測(cè)試：在測(cè)試快充適配器最大輸出功率時(shí)，逐步增加負(fù)載電流，直至適配器達(dá)到限流保護(hù)點(diǎn)，精確測(cè)量此時(shí)的輸出功率，確保適配器在標(biāo)稱的最大功率下穩(wěn)定工作。在溫升測(cè)試中，IT8500G+長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行在高負(fù)載狀態(tài)下，監(jiān)測(cè)適配器的溫度變化，為適配器的散熱設(shè)計(jì)優(yōu)化提供了可靠依據(jù)。

04IT8500G+在測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

在專(zhuān)業(yè)的電源測(cè)試系統(tǒng)中，IT8500G+作為核心測(cè)試設(shè)備，承擔(dān)著多項(xiàng)關(guān)鍵任務(wù)。

典型案例：

以一家電源測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試系統(tǒng)為例，該系統(tǒng)集成了多臺(tái)IT8500G+直流電子負(fù)載。在自動(dòng)化測(cè)試流程中，IT8500G+通過(guò)USB或以太網(wǎng)接口與上位機(jī)控制系統(tǒng)相連。上位機(jī)可根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試腳本，遠(yuǎn)程控制 IT8500G+的各項(xiàng)參數(shù)設(shè)置，如負(fù)載模式、電流值、電壓值等。

在對(duì)一批開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行批量測(cè)試時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)可同時(shí)對(duì)多個(gè)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行不同負(fù)載條件下的測(cè)試。IT8500G+將測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)反饋給上位機(jī)，上位機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析，生成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告，包括每個(gè)開(kāi)關(guān)電源的各項(xiàng)性能指標(biāo)，如效率曲線、負(fù)載調(diào)整率、紋波電壓等。

ITECH自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)大大提高了測(cè)試效率，減少了人為誤差；IT8500G+的高分辨率和高精度測(cè)量能力，使得測(cè)試系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確地篩選出不合格產(chǎn)品，保證了電源產(chǎn)品的質(zhì)量一致性。

艾德克斯IT8500G+高性能可編程直流電子負(fù)載兼具桌面型和系統(tǒng)集成雙重使用需求，專(zhuān)為移動(dòng)電源、工業(yè)電源模塊、功率電子器件及快充適配器等研發(fā)和老化測(cè)試而設(shè)計(jì)研發(fā)。該系列產(chǎn)品不僅具備傳統(tǒng)的CC/CV/CR/CP帶載模式，同時(shí)提供CR+CC/CV+CC/CR-LED等復(fù)合帶載模式，廣泛適用于不同特性待測(cè)物，在限制電流過(guò)沖以及動(dòng)態(tài)帶載方面具備優(yōu)異的表現(xiàn)。不僅如此，依托于IT8500G+負(fù)載特有的多通道模式和內(nèi)置紋波量測(cè)功能，無(wú)需額外的示波器以及通信接口卡，即可輕松實(shí)現(xiàn)上百通道的程控，為企業(yè)降低測(cè)試成本，提升測(cè)試效率。