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PCBA老化測試的標(biāo)準(zhǔn)是什么

jf_51522127 ? 來源:jf_51522127 ? 作者:jf_51522127 ? 2025-04-21 16:18 ? 次閱讀
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一、核心測試標(biāo)準(zhǔn)

1. 低溫工作測試

溫度條件:-10±3℃

持續(xù)時(shí)間:1小時(shí)

負(fù)載條件:需在187V和253V額定負(fù)載下運(yùn)行

測試要求

在低溫環(huán)境下,PCBA需通電運(yùn)行所有程序,確保程序運(yùn)行正確無誤。

檢查低溫對(duì)電子元件、焊接點(diǎn)及電路性能的影響,驗(yàn)證低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性。

2. 高溫工作測試

溫度條件:80±3℃

持續(xù)時(shí)間:1小時(shí)

負(fù)載條件:需在187V和253V額定負(fù)載下運(yùn)行

測試要求

在高溫環(huán)境下,PCBA需通電運(yùn)行所有程序,確保程序運(yùn)行正確無誤。

檢查高溫導(dǎo)致的元器件老化、熱膨脹或焊接點(diǎn)失效等問題。

3. 高溫高濕工作測試

溫度條件:65±3℃

濕度條件:90%~95%

持續(xù)時(shí)間:48小時(shí)

負(fù)載條件:需在額定負(fù)載下運(yùn)行

測試要求

在高溫高濕環(huán)境下,PCBA需通電運(yùn)行所有程序,確保各程序運(yùn)行正確無誤。

檢測潮濕環(huán)境對(duì)電路板絕緣性、焊點(diǎn)腐蝕及元器件性能的影響。

二、其他補(bǔ)充測試標(biāo)準(zhǔn)

1. 溫度循環(huán)測試

溫度范圍:通常為0℃~60℃或-10℃~80℃

溫度變化速率:約1℃/min(±0.5℃)

持續(xù)時(shí)間:至少72小時(shí)(根據(jù)產(chǎn)品需求調(diào)整)

測試要求

在高低溫交替環(huán)境中,驗(yàn)證PCBA的熱應(yīng)力耐受性及長期可靠性。

通過循環(huán)測試模擬實(shí)際使用中的溫度波動(dòng),檢測元件和焊點(diǎn)的疲勞失效。

2. 冷熱沖擊測試

測試方法

將PCBA在高溫(如80℃)下運(yùn)行一段時(shí)間后,迅速轉(zhuǎn)移至低溫環(huán)境(如-10℃),重復(fù)循環(huán)。

測試要求

檢查PCBA在極端溫度快速變化下的機(jī)械應(yīng)力和電氣性能穩(wěn)定性。

3. 恒定溫度加速老化測試

溫度條件:通常為高溫環(huán)境(如85℃)

持續(xù)時(shí)間:根據(jù)產(chǎn)品預(yù)期壽命設(shè)計(jì)(如數(shù)百小時(shí)至數(shù)周)

測試要求

加速模擬長期使用中的老化過程,評(píng)估PCBA的壽命和可靠性。

三、測試步驟與操作規(guī)范

樣品準(zhǔn)備

從生產(chǎn)線隨機(jī)抽取代表性樣品,確保與量產(chǎn)產(chǎn)品一致(元器件、焊接工藝等)。

測試前需進(jìn)行外觀檢查和電參數(shù)初檢,剔除明顯缺陷(如短路、虛焊、元件缺失等)。

測試環(huán)境設(shè)置

使用老化箱或老化房,嚴(yán)格控制溫度、濕度和電壓穩(wěn)定性。

確保電源負(fù)載(187V、253V)與實(shí)際應(yīng)用一致,避免電壓波動(dòng)干擾測試結(jié)果。

測試流程

低溫測試:將PCBA放入設(shè)備,按設(shè)定速率降溫至-10℃,穩(wěn)定后運(yùn)行2小時(shí)。

高溫測試:升溫至80℃,穩(wěn)定后運(yùn)行2小時(shí)。

溫度循環(huán)/冷熱沖擊:按預(yù)設(shè)循環(huán)參數(shù)重復(fù)升溫/降溫過程。

高溫高濕測試:在65℃、90%-95%濕度下持續(xù)運(yùn)行48小時(shí)。

監(jiān)測與記錄

實(shí)時(shí)監(jiān)測電壓、電流、溫度等參數(shù),記錄異?,F(xiàn)象(如程序崩潰、溫度異常)。

測試結(jié)束后,對(duì)PCBA進(jìn)行功能復(fù)檢,確保性能未發(fā)生漂移或失效。

四、國際/行業(yè)參考標(biāo)準(zhǔn)

IPC-9201:針對(duì)電子組裝的可靠性測試標(biāo)準(zhǔn),涵蓋溫度循環(huán)、濕度等測試方法。

MIL-STD-202:軍用電子元器件測試標(biāo)準(zhǔn),適用于高可靠性場景。

JEDEC J-STD-020:電子元器件焊接與組裝的環(huán)境應(yīng)力測試規(guī)范。

ISO/IEC 17025:實(shí)驗(yàn)室測試能力通用要求,確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

五、測試目的與意義

篩選早期故障:通過加速老化暴露焊接不良、元件缺陷等問題,減少產(chǎn)品出廠后的故障率。

驗(yàn)證可靠性:確保PCBA在極端環(huán)境(如汽車電子、工業(yè)設(shè)備)中長期穩(wěn)定運(yùn)行。

提升客戶信任:通過標(biāo)準(zhǔn)化測試降低售后風(fēng)險(xiǎn),增強(qiáng)產(chǎn)品市場競爭力。

總結(jié)

PCBA老化測試的核心標(biāo)準(zhǔn)包括 低溫、高溫、高溫高濕 三類環(huán)境測試,結(jié)合溫度循環(huán)、冷熱沖擊等補(bǔ)充測試,確保產(chǎn)品在復(fù)雜工況下的可靠性。實(shí)際應(yīng)用中需根據(jù)產(chǎn)品類型(如消費(fèi)電子、軍工、醫(yī)療)選擇更嚴(yán)格的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(如IPC、MIL-STD),并通過規(guī)范的測試流程和數(shù)據(jù)記錄保障結(jié)果有效性。

審核編輯 黃宇

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