動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-01-10 10:02
拋磚引玉,教你學(xué)習(xí)各種總線技術(shù)
如果一座只能容一個(gè)人來往的獨(dú)木橋,兩端的人都想要過橋,為了不擁擠、阻塞,那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時(shí)間哪端的人過橋,另一端的人就等著該他過橋的時(shí)間段的到來,同時(shí)也還可以規(guī)定人多時(shí)要按先來后到或年齡長幼的次序過橋。在這不經(jīng)意間,我們就體會到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過總線按時(shí)分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿,F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展,特別是對于成本和空間而言,總線傳輸701瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-01-03 10:03
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發(fā)布了文章 2024-12-27 10:03
半導(dǎo)體,最新預(yù)測
人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對2025年更加樂觀,但阻力可能來自地緣政治和人才保留問題。這些是美國審計(jì)、稅務(wù)和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報(bào)告中的一些預(yù)測。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測2025年整個(gè)行業(yè)將實(shí)現(xiàn)增長。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無線通信和汽車應(yīng)用的發(fā)展,對芯片的需求將持續(xù)增長,畢馬威 -
發(fā)布了文章 2024-12-20 10:02
芯片的失效性分析與應(yīng)對方法
在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域,半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展,芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求,其失效問題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源,剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理,揭示芯片失效問題的復(fù)雜性,并提出針對性的應(yīng)對策略,為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案,助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對挑戰(zhàn),保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
發(fā)布了文章 2024-12-13 10:01
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發(fā)布了文章 2024-12-07 01:04
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發(fā)布了文章 2024-11-23 01:02
IC芯片老化測試以及方案詳解
芯片老化試驗(yàn)是一種對芯片進(jìn)行長時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測試的方法,以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗(yàn)的目的是評估芯片在長時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性,以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測試方案設(shè)計(jì):-選擇適當(dāng)?shù)臏y試負(fù)載:根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預(yù)期使用條件,確定合適的測試負(fù)載,包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計(jì)測試持續(xù)時(shí)間:根據(jù)芯片的預(yù)期使用 -
發(fā)布了文章 2024-11-16 01:03
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發(fā)布了文章 2024-11-02 08:03
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發(fā)布了文章 2024-10-25 13:00