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發(fā)布了文章 2025-04-30 18:21
碳化硅何以英飛凌?—— SiC MOSFET性能評價的真相
在碳化硅(SiC)技術(shù)的應(yīng)用中,許多工程師對SiC的性能評價存在誤解,尤其是關(guān)于“單位面積導(dǎo)通電阻(Rsp)”和“高溫漂移”的問題。作為“碳化硅何以英飛凌”的系列文章,本文將繼續(xù)為您揭開這些誤區(qū)的真相(誤區(qū)一見:碳化硅何以英飛凌?——溝槽柵技術(shù)可靠性真相),并介紹英飛凌如何通過技術(shù)創(chuàng)新應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。常見誤區(qū)2:“SiC的性能主要看單位面積導(dǎo)通電阻Rsp,電阻195瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-26 08:33
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發(fā)布了文章 2025-04-25 17:05
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發(fā)布了文章 2025-04-23 17:05
碳化硅何以英飛凌?—— 溝槽柵技術(shù)可靠性真相
全社會都在積極推動低碳化轉(zhuǎn)型,而低碳化的背后其實是電氣化。在新型電氣能源架構(gòu)中,相比于從前,一次能源到終端用戶的能源轉(zhuǎn)換次數(shù)增多。雖然可再生能源是免費的,但是這種多層級的能源轉(zhuǎn)換,每一步都會帶來一定的能耗損失,因此追求更高效的能源轉(zhuǎn)化效率至關(guān)重要。SiC正是功率半導(dǎo)體的能效提升技術(shù),它的出現(xiàn)滿足了低碳化時代兩大全新的市場需求:1能效創(chuàng)新:SiC技術(shù)在光伏、儲441瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-19 08:34
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發(fā)布了文章 2025-04-17 17:05
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發(fā)布了文章 2025-04-15 17:03
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發(fā)布了文章 2025-04-14 17:04
驅(qū)動電路設(shè)計(十)——柵極電荷和應(yīng)用
驅(qū)動電路設(shè)計是功率半導(dǎo)體應(yīng)用的難點,涉及到功率半導(dǎo)體的動態(tài)過程控制及器件的保護(hù),實踐性很強(qiáng)。為了方便實現(xiàn)可靠的驅(qū)動設(shè)計,英飛凌的驅(qū)動集成電路自帶了一些重要的功能,本系列文章將以雜談的形式講述技術(shù)背景,然后詳細(xì)講解如何正確理解和應(yīng)用驅(qū)動器的相關(guān)功能。MOSFET功率半導(dǎo)體是電壓型驅(qū)動,驅(qū)動的本質(zhì)是對柵極端口的電容充電,驅(qū)動峰值電流是受功率器件驅(qū)動電阻和驅(qū)動器內(nèi)504瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-11 17:00
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發(fā)布了文章 2025-04-10 10:04