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TDR稱為時(shí)域反射計(jì),可以用來測量本身沒有電壓源的無源互連線特性。下圖是TDR的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。源端輸出一個(gè)35ps~150ps的快速上升沿信號(hào)。信號(hào)經(jīng)過一個(gè)...
2023-04-15 標(biāo)簽:放大器信號(hào)完整性反射 1392 0
驗(yàn)證環(huán)境獲取DUT內(nèi)部信號(hào)的方法
在UVM寄存器模型的操作中,寄存器用于設(shè)置DUT狀態(tài)和芯片狀態(tài)信息的上報(bào),有前門和后門讀寫兩種方式。
軟件設(shè)計(jì)中,F(xiàn)SM(Finite-State Machine)分為3部分:狀態(tài)(State),事件(Event),動(dòng)作(Action)。
2023-08-22 標(biāo)簽:RTLUVM狀態(tài)機(jī) 1292 0
UVM Transaction-Level Modeling (TLM)介紹
驗(yàn)證生產(chǎn)力的關(guān)鍵之一是 **在一個(gè)合適的抽象級(jí)別上考慮驗(yàn)證問題** 。也就是說,在驗(yàn)證DUT時(shí)應(yīng)該創(chuàng)建一個(gè)支持適當(dāng)抽象級(jí)別的驗(yàn)證環(huán)境。雖然DUT實(shí)際接口...
汽車三相逆變電機(jī)驅(qū)動(dòng)分析利器之IMDA 套件之趨勢功能介紹
汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)開發(fā)測試過程中的一項(xiàng)常見要求是:能夠在較長的測試時(shí)間內(nèi)查看電機(jī)響應(yīng),通過記錄和擴(kuò)展采集數(shù)量以監(jiān)控不同負(fù)載條件下的DUT行為。這種動(dòng)態(tài)測量有助...
基于UVM驗(yàn)證環(huán)境開發(fā)測試流程
驗(yàn)證環(huán)境用戶需要?jiǎng)?chuàng)建許多測試用例來驗(yàn)證一個(gè)DUT的功能是否正確,驗(yàn)證環(huán)境開發(fā)者應(yīng)該通過以下方式提高測試用例的開發(fā)效率
多功能直流電子負(fù)載PLZ-5W的電流衰減區(qū)域
一般的電子負(fù)載在低壓部分有衰減流動(dòng)電流的區(qū)域,所以菊水的多功能直流電子負(fù)載PLZ-5W系列中也同樣有這個(gè)電流衰減的區(qū)域。
2023-11-15 標(biāo)簽:負(fù)載電流衰減器瞬態(tài)響應(yīng) 1189 0
如何設(shè)計(jì)和構(gòu)建Testbench呢?
Testbench是幾乎所有做動(dòng)態(tài)仿真驗(yàn)證的工程師都要面對(duì)的問題,可能是需要設(shè)計(jì),或者開發(fā),又或者是維護(hù),總有很多事情要在這上面折騰。
UVM Transaction-Level Modeling (TLM)概述
驗(yàn)證生產(chǎn)力的關(guān)鍵之一是在一個(gè)合適的抽象級(jí)別上考慮驗(yàn)證問題。也就是說,在驗(yàn)證DUT時(shí)應(yīng)該創(chuàng)建一個(gè)支持適當(dāng)抽象級(jí)別的驗(yàn)證環(huán)境。
可以通過降低約束的復(fù)雜度來優(yōu)化Formal的執(zhí)行效率嗎?
我們可以通過降低約束的復(fù)雜度來優(yōu)化Formal的執(zhí)行效率,但是這個(gè)主要是通過減少Formal驗(yàn)證空間來實(shí)現(xiàn)的,很容易出現(xiàn)過約,導(dǎo)致bug遺漏。
uvm1.1升級(jí)為uvm1.2 uvm_report_server報(bào)錯(cuò)是何原因?
ISP算法仿真中,小編會(huì)用reference model調(diào)用DPI接口用C++ 算法實(shí)現(xiàn)pixel算法處理,然后和DUT算法處理輸出的pixel值進(jìn)行比...
寄存器模型保持著DUT內(nèi)部寄存器值的 鏡像(mirror) 。 鏡像值不能保證是正確的,因?yàn)榧拇嫫髂P椭荒芨兄綄?duì)這些寄存器的外部讀寫操作。 如果DUT...
System Verilog(SV)語言的Class本身就帶有“打包”的基因。眾所周知,SV語言的很多特性是派生自C++語言的。
2023-03-15 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)VerilogC++語言 1100 0
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