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MOSFET的低開關(guān)損耗在集成電路中應(yīng)用

MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 來源:MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 作者:MDD辰達(dá)半導(dǎo)體 ? 2022-11-28 15:53 ? 次閱讀

MOSFET特征

在功率半導(dǎo)體器件中,MOSFET以高速、低開關(guān)損耗、低驅(qū)動(dòng)損耗在各種功率變換,特別是高頻功率變換中起著重要作用。在低壓領(lǐng)域,MOSFET沒有競爭對(duì)手,但隨著MOSFET的耐壓提高,導(dǎo)通電阻隨之成倍增長,MOSFET耐壓和導(dǎo)通電阻的正比增長,制造者和應(yīng)用者不得不以成倍的成本來解決MOSFET電壓與電流間的矛盾。即便如此,平面高壓MOSFET在額定結(jié)溫下的導(dǎo)通電阻仍居高不下,耐壓500V以上的MOSFET 的額定結(jié)溫、額定電流條件下的導(dǎo)通電阻很高,耐壓800V以上的導(dǎo)通電阻更是高得驚人,導(dǎo)通損耗占MOSFET總損耗的2/3-4/5,使應(yīng)用受到極大限制。

MOSFET的低開關(guān)損耗在集成電路中應(yīng)用

MOSFET有兩大類型:N溝道和P溝道。在功率系統(tǒng)中,MOSFET可被看成電氣開關(guān)。例如N溝道MOSFET的柵極和源極間加上正電壓時(shí),當(dāng)VGS電壓達(dá)到MOSFET的開啟電壓時(shí),MOSFET導(dǎo)通等同開關(guān)導(dǎo)通,有IDS通過,實(shí)現(xiàn)功率轉(zhuǎn)換。而MOSFET開關(guān)頻率則受柵源電壓頻率控制,從而實(shí)現(xiàn)頻率轉(zhuǎn)換。低開啟的MOSFET的開啟電壓,僅需要零點(diǎn)幾伏,開啟電流也僅幾毫安,導(dǎo)通損耗非常低,因此常用于大規(guī)模集成電路。

MOSFET頻率特征在開關(guān)電源中應(yīng)用

在開關(guān)電源結(jié)構(gòu)中,交流電經(jīng)防雷單元,防輻射濾波單元等電路后進(jìn)入橋堆整流,在整流輸出端得到約交流電壓的1.4倍的直流電壓,經(jīng)高頻變壓器初級(jí)繞組,到MOSFET漏級(jí),柵極則受驅(qū)動(dòng)芯片或可調(diào)頻的驅(qū)動(dòng)電路控制而高頻開關(guān)導(dǎo)通,產(chǎn)生高頻脈沖的漏源電流,從而在高頻變壓器的次級(jí)繞組中產(chǎn)生的感應(yīng)電流經(jīng)高頻整流后為負(fù)載供電,高頻變壓器次繞組中產(chǎn)生的電壓與繞組匝數(shù)相關(guān)。因此,改變開關(guān)電源電路中元器件的規(guī)格和高頻變壓器的結(jié)構(gòu)和型號(hào),可為不同場合、不同功率的電路供電。

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高壓MOSFET系列

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公司簡介

MDD是國內(nèi)少數(shù)采用了“Fabless+封裝測試”模式的半導(dǎo)體品牌,15年的行業(yè)深耕,一直專注于半導(dǎo)體領(lǐng)域。在科技研發(fā)與創(chuàng)新的基礎(chǔ)上,積累了厚實(shí)的研發(fā)設(shè)計(jì)能力,同時(shí)還建立全流程的封裝測試產(chǎn)線(涵蓋封裝測試、成品測試等多項(xiàng))。為客戶提供MOSFET、SiC、功率二極管整流橋等高品質(zhì)的半導(dǎo)體分立器件產(chǎn)品。

MDD致力滿足客戶高品質(zhì)需求,目前產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于汽車電子新能源、工控、電源、家電、照明、安防、網(wǎng)通、消費(fèi)電子等多個(gè)領(lǐng)域,并具有UL、RoHS和REACH等多項(xiàng)認(rèn)證,可為客戶提供可靠、優(yōu)質(zhì)和定制化的半導(dǎo)體解決方案商。

自成立以來,MDD 先后在國內(nèi)外斬獲百余項(xiàng)的專利與榮譽(yù),業(yè)務(wù)覆蓋全球40多個(gè)國家,同時(shí)享有國內(nèi)外各電子領(lǐng)域企業(yè)的良好口碑。

審核編輯 :李倩

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