一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線(xiàn)課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

四大潛力應(yīng)用助力GaN市場(chǎng)騰飛,易用和可靠性是關(guān)鍵

荷葉塘 ? 來(lái)源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:程文智 ? 2023-06-08 09:40 ? 次閱讀


(文/程文智)近幾年碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導(dǎo)體異常火熱,國(guó)內(nèi)外很多半導(dǎo)體企業(yè)都涌入其中。據(jù)Yole Développement統(tǒng)計(jì),2021全球GaN功率器件市場(chǎng)規(guī)模為1.26億美元,預(yù)計(jì)2021~2027年期間復(fù)合年增長(zhǎng)率為59%,2027年全球市場(chǎng)規(guī)模高達(dá)20億美元,這主要得益于四大潛力市場(chǎng)的助力。

wKgaomSBMhCABSuiAAW7znFZfNA053.png
圖:2021~2017年GaN功率器件市場(chǎng)規(guī)模(來(lái)源:Yole)


四大潛力應(yīng)用助力GaN市場(chǎng)騰飛

哪些應(yīng)用的增長(zhǎng),讓GaN市場(chǎng)規(guī)模能夠以如此快的速度成長(zhǎng)呢?在Cambridge GaN Devices(簡(jiǎn)稱(chēng):CGD)公司亞太區(qū)銷(xiāo)售副總裁Carryll Chen看來(lái)主要有四大應(yīng)用,分別是消費(fèi)類(lèi)應(yīng)用、數(shù)據(jù)中心通信電源、光伏等工業(yè)類(lèi)應(yīng)用,以及汽車(chē)類(lèi)應(yīng)用。

首先是消費(fèi)類(lèi)應(yīng)用,這是GaN器件最開(kāi)始大規(guī)模出貨的市場(chǎng),現(xiàn)在搭載GaN器件的PD充電器,尤其是第三方的充電器已經(jīng)非常流行。接下來(lái),GaN還會(huì)繼續(xù)滲透到其他消費(fèi)類(lèi)應(yīng)用中,比如顯示器、游戲主機(jī)電源、低噪聲D類(lèi)音頻放大器等。據(jù)Carryll Chen介紹,以前的顯示器電源大概是50W,但如今的大尺寸顯示器電源已經(jīng)來(lái)到了200W,因此采用GaN愿望越來(lái)越強(qiáng)烈,目前已經(jīng)有廠商在評(píng)估了;而低噪聲D類(lèi)音頻放大器則主要用于高端音響中,因?yàn)镚aN器件可以實(shí)現(xiàn)更理想的性能,而且抑制性能會(huì)更好。

二是數(shù)據(jù)中心與通信電源類(lèi)應(yīng)用。隨著信息傳輸?shù)臄?shù)量和速度越來(lái)越高,數(shù)據(jù)中心消耗的能源也越來(lái)越大?,F(xiàn)在各國(guó)的法規(guī)都致力于在同樣的體積下不斷提升功率密度,而GaN在提升功率密度方面非常有優(yōu)勢(shì),因此,這些年來(lái),越來(lái)越多的服務(wù)器和數(shù)據(jù)中心廠商開(kāi)始導(dǎo)入采用GaN器件的高效率、高功率密度電源。

wKgZomSBMhiAai3sAAC0jLO9n4U997.jpg
圖:Cambridge GaN Devices公司亞太區(qū)銷(xiāo)售副總裁Carryll Chen


三是可再生能源與光伏等工業(yè)類(lèi)應(yīng)用。據(jù)Carryll Chen透露,目前已經(jīng)有不少微型逆變器產(chǎn)品開(kāi)始導(dǎo)入GaN器件了。當(dāng)然,除了個(gè)人用或家庭用的光伏逆變器,還有儲(chǔ)能系統(tǒng)也是一個(gè)增長(zhǎng)不錯(cuò)的潛力市場(chǎng)。另外,工業(yè)類(lèi)的應(yīng)用,也包括馬達(dá)驅(qū)動(dòng)以及軌道電源等工業(yè)類(lèi)電源產(chǎn)品。她談到,雖然工業(yè)類(lèi)的應(yīng)用起步比較慢,但今年的導(dǎo)入速度非常快,未來(lái)的滲透率值得期待。

四是汽車(chē)類(lèi)應(yīng)用。這是未來(lái)最有發(fā)展?jié)摿Φ囊粋€(gè)市場(chǎng),GaN可以用在電動(dòng)汽車(chē)的牽引逆變器、電機(jī)控制與驅(qū)動(dòng)、車(chē)載充電機(jī)(OBC)、DC/DC轉(zhuǎn)換器、激光雷達(dá)上的電源模塊、汽車(chē)座艙內(nèi)的無(wú)線(xiàn)充電等場(chǎng)景中,不過(guò)由于汽車(chē)類(lèi)應(yīng)用大都與人身安全有很大的關(guān)系,所以大規(guī)模應(yīng)用到汽車(chē)上還需要等待一段時(shí)間。畢竟安全驗(yàn)證是需要時(shí)間的。但這的確是一個(gè)趨勢(shì),值得關(guān)注。

易用和可靠性是GaN市場(chǎng)騰飛的關(guān)鍵

前面談到了四大類(lèi)應(yīng)用將會(huì)是未來(lái)GaN市場(chǎng)規(guī)??焖僭鲩L(zhǎng)的最大驅(qū)動(dòng)力來(lái)源,但其實(shí),不同類(lèi)型的應(yīng)用對(duì)GaN器件的需求是不一樣的,從效率、容易使用、可靠性、尺寸,甚至是成本方面來(lái)考量的話(huà),消費(fèi)類(lèi)應(yīng)用由于設(shè)計(jì)周期非常短,用量很大,因此,對(duì)使用者來(lái)說(shuō),他們最希望拿到一個(gè)非常簡(jiǎn)單,易于使用的器件,而且尺寸要小,成本要有競(jìng)爭(zhēng)力。

而對(duì)數(shù)據(jù)中心類(lèi)應(yīng)用來(lái)說(shuō),他們對(duì)效率和可靠性的要求更加嚴(yán)苛。畢竟消費(fèi)類(lèi)的充電器萬(wàn)一壞了,影響的可能是個(gè)人無(wú)法充電而已,但數(shù)據(jù)中心,如果一個(gè)器件發(fā)生了故障,影響的可能是整個(gè)服務(wù)器的運(yùn)作,或者數(shù)據(jù)的損毀。

到汽車(chē)類(lèi)應(yīng)用的話(huà),可靠性的要求就更高了,畢竟它直接關(guān)系到人身安全了。

綜合來(lái)看,易用性和可靠性是GaN器件能否大規(guī)模被市場(chǎng)采用的關(guān)鍵。那么,如何才能做到易用和可靠呢?畢竟GaN的gate耐壓不高,很容易誤導(dǎo)通和開(kāi)關(guān),甚至容易發(fā)生“炸機(jī)”事件。加上GaN材料的特性,其切換速度非常快,所以dv/dt帶來(lái)的噪聲也比MOSFET高很多。要想做到跟MOSFET一樣方便易用,其實(shí)是很困難的。

CGD通過(guò)先進(jìn)設(shè)計(jì),大幅提升GaN可靠性與易用性

CGD是一家Fabless半導(dǎo)體公司,致力于開(kāi)發(fā)一系列節(jié)能的GaN功率器件,目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)更加環(huán)保的電子產(chǎn)品,其兩位創(chuàng)始人均來(lái)自英國(guó)劍橋大學(xué),其中首席執(zhí)行官Giorgia Longobardi博士此前在劍橋大學(xué)工程系領(lǐng)導(dǎo) GaN 功率器件團(tuán)隊(duì),在GaN領(lǐng)域有12年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn),首席技術(shù)官(CTO)Florin Udrea則是劍橋大學(xué)功率半導(dǎo)體教授,擁有超過(guò)150項(xiàng)專(zhuān)利。在他們兩位指導(dǎo)下研發(fā)出來(lái)的ICeGaN?系列產(chǎn)品則兼具可靠性和易用性?xún)纱筇攸c(diǎn)。

為了克服GaN的使用挑戰(zhàn),讓GaN更容易驅(qū)動(dòng),業(yè)內(nèi)GaN廠商想了很多辦法,比如有使用Cascode架構(gòu)驅(qū)動(dòng)GaN器件,以避免柵極耐壓太低的問(wèn)題;也有將柵極驅(qū)動(dòng)器集成到GaN內(nèi)部,通過(guò)外部的控制信號(hào),讓內(nèi)部的GaN驅(qū)動(dòng)器直接去驅(qū)動(dòng)GaN;“但這些方式都各有利弊。” Carryll Chen對(duì)電子發(fā)燒友網(wǎng)表示,第一種解決方案需要負(fù)驅(qū)動(dòng)電壓,以限制高dv/dt瞬態(tài)期間HEMT的虛假關(guān)斷事件;而柵極驅(qū)動(dòng)器完全集成的解決方案,雖然減少了寄生效應(yīng)帶來(lái)的影響,但卻失去了使用低成本、高性能硅基驅(qū)動(dòng)器的靈活性。此外,由于片上熱耦合會(huì)導(dǎo)致功率器件自發(fā)熱,柵極驅(qū)動(dòng)器會(huì)有額外的損耗。

而CGD則另辟蹊徑,不是將柵極驅(qū)動(dòng)器完全集成,而是利用內(nèi)置的邏輯電路去控制電壓,達(dá)到簡(jiǎn)化驅(qū)動(dòng)電路的目的。因?yàn)樵?Carryll 看來(lái),如果想要讓一個(gè)GaN器件變得比較好設(shè)計(jì),或者比較好使用的話(huà),最好的辦法就是想辦法讓GaN驅(qū)動(dòng)起來(lái)就像一個(gè)MOSFET,畢竟MOSFET已經(jīng)使用非常久了,大部分的工程師都熟悉。

CGD的ICeGaN的驅(qū)動(dòng)方式就與MOSFET類(lèi)似,不同于其他的增強(qiáng)型GaN解決方案,ICeGaN與任何硅基驅(qū)動(dòng)器都能兼容。再加上ICeGaN器件具有較高的閾值電壓,Vth≈3V,可抑制與dV/dt相關(guān)的虛假導(dǎo)通事件,從而使操作更加安全。此外,ICeGaN 器件可以使用高達(dá)20V的柵極電壓驅(qū)動(dòng)(遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò) p-GaN HEMT的標(biāo)準(zhǔn)電壓7V),而不會(huì)影響器件的跨導(dǎo)或動(dòng)態(tài)性能。

A picture containing text, screenshot, diagram, planDescription automatically generated
圖:ICeGaN H2系列器件內(nèi)部框圖(來(lái)源:CGD)


根據(jù)ICeGaN器件的內(nèi)部框圖,內(nèi)置的鉗位電路能夠?qū)斎霒艠O信號(hào)控制在5.5V左右,來(lái)使內(nèi)部GaN HEMT完全導(dǎo)通。除此之外,它其實(shí)還有溫度補(bǔ)償?shù)墓δ茉诶锩?,在柵極與源極之間加入的米勒鉗位電路,可以用最短的路徑避免dv/dt造成的影響,實(shí)現(xiàn)0V關(guān)斷。與常用的外部放電電路相比,CGD可以在內(nèi)部晶圓上實(shí)現(xiàn)最短路徑,會(huì)有更好的表現(xiàn)。

圖示, 示意圖描述已自動(dòng)生成

像CGD這樣只集成部分電路,而不是將整個(gè)驅(qū)動(dòng)器都集成到芯片內(nèi)部帶來(lái)的好處是,由于驅(qū)動(dòng)電流還是來(lái)自外部的驅(qū)動(dòng)器,CGD可以直接使用Ron或Roff去控制充放電電流,調(diào)整器件的dv/dt斜率。外部驅(qū)動(dòng)線(xiàn)路會(huì)非常接近MOSFET。唯一的差異就是CGD目前還是需要外接VDD用來(lái)設(shè)定一些參考電壓,做一些 enable、disable和 detection的監(jiān)測(cè)功能。因此,ICeGaN器件還是需要給VDD供電,未來(lái),CGD會(huì)努力實(shí)現(xiàn)GaN和MOSFET的無(wú)痛轉(zhuǎn)換。

目前的研究顯示,GaN器件的柵極耐壓其實(shí)跟溫度和頻率有很大的關(guān)系,尤其是GaN HEMT的柵極耐壓最大值只有7V時(shí),在低溫下,如果耐壓降低了,驅(qū)動(dòng)時(shí)的雜散信號(hào)很可能會(huì)把GaN的柵源極擊穿,或是造成生命周期的減少。為了讓ICeGaN器件更加穩(wěn)健,讓它能夠在不同溫度環(huán)境下,都能保持良好運(yùn)作,CGD在鉗位電路里面,額外增加了溫度補(bǔ)償。因此,ICeGaN器件內(nèi)部的鉗位電路會(huì)隨著溫度的不同而改變,比如在25℃時(shí),內(nèi)部鉗制在5.5V,而在0℃時(shí),鉗制電壓值會(huì)跟著降低,以保證GaN的柵極不會(huì)被擊穿。當(dāng)GaN器件啟動(dòng)后,溫度慢慢提升之后,內(nèi)部的鉗位電路的電壓會(huì)往上提高,不會(huì)因?yàn)榇斯δ芏绊懙叫时憩F(xiàn)。

具體產(chǎn)品方面,CGD在PCIM Europe期間推出的第二代ICeGaN 650V氮化鎵HEMT系列產(chǎn)品,采用了CGD的智能柵極接口,幾乎消除了典型e-mode GaN的各種弱點(diǎn),大幅加強(qiáng)了柵極電壓耐用性,可提供更高的噪聲抗擾閾值,以及提升dv/dt抑制和ESD保護(hù)效果。新型 650 V H2 ICeGaN 晶體管與前代器件相同,驅(qū)動(dòng)電壓范圍與硅基MOSFET相同,驅(qū)動(dòng)電路也非常接近,無(wú)需復(fù)雜低效的電路,并可兼容市場(chǎng)上普遍使用的硅基MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器。另外,與硅器件相比,H2 ICeGaN HEMT 的 QG 低10倍,QOSS低5倍,這使得 H2 ICeGaN HEMT在高開(kāi)關(guān)頻率下能大幅降低開(kāi)關(guān)損耗,并縮小尺寸,減輕重量。這使得其效率和效能在同類(lèi)產(chǎn)品中更具優(yōu)勢(shì),在SMPS應(yīng)用中,比業(yè)界出色的硅基MOSFET的性能要高出2%。

由此可見(jiàn),CGD的GaN器件不僅解決了目前GaN技術(shù)的發(fā)展的瓶頸,也克服了減緩采用GaN新型技術(shù)的挑戰(zhàn),同時(shí),還能沿用傳統(tǒng)MOSFET的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),幫助終端廠商從MOSFET無(wú)痛轉(zhuǎn)換到GaN,快速搶占寬禁帶半導(dǎo)體市場(chǎng)商機(jī)。

結(jié)語(yǔ)
GaN可以說(shuō)是當(dāng)今功率電子領(lǐng)域最引人注目的材料,有助于開(kāi)發(fā)出功率密度更大、導(dǎo)通電阻更低、頻率響應(yīng)更高的高壓器件。隨著市場(chǎng)對(duì)高效率和高功率密度需求的提升,以及未來(lái)四大潛力應(yīng)用的驅(qū)動(dòng),加上更多簡(jiǎn)單易用,可靠性更高的GaN器件的推出,相信GaN市場(chǎng)在未來(lái)幾年會(huì)迎來(lái)高速騰飛。


更多詳情,請(qǐng)?jiān)L問(wèn)CGD官方網(wǎng)站
https://camgandevices.com/zh/?utm_source=elecfans-website&utm_medium=paidad


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 氮化鎵
    +關(guān)注

    關(guān)注

    61

    文章

    1729

    瀏覽量

    117319
  • GaN
    GaN
    +關(guān)注

    關(guān)注

    19

    文章

    2137

    瀏覽量

    75795
  • 鉗位電路
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    89

    瀏覽量

    13855
  • 柵極驅(qū)動(dòng)器

    關(guān)注

    8

    文章

    849

    瀏覽量

    39414
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)可靠性分析

    可靠性是電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的重要指標(biāo),延長(zhǎng)電機(jī)平均故障間隔時(shí)間(MTBF),縮短平均修復(fù)時(shí)間(MTTR)是可靠性研究的目標(biāo)。電機(jī)微機(jī)控制系統(tǒng)的故障分為硬件故障和軟件故障,分析故障的性質(zhì)和產(chǎn)生原因,有
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應(yīng)用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問(wèn)題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應(yīng)、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問(wèn)題包括并聯(lián)均流、軟關(guān)斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?427次閱讀
    IGBT的應(yīng)用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    保障汽車(chē)安全:PCBA可靠性提升的關(guān)鍵要素

    汽車(chē)電子PCBA的可靠性提升要點(diǎn) 隨著汽車(chē)智能化、網(wǎng)聯(lián)化的快速發(fā)展,汽車(chē)電子在整車(chē)中的占比不斷提升,其重要日益凸顯。作為汽車(chē)電子的核心部件,PCBA(印制電路板組裝)的可靠性直接關(guān)系到汽車(chē)的安全
    的頭像 發(fā)表于 04-14 17:45 ?141次閱讀

    電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算技能概述

    電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算通過(guò)系統(tǒng)學(xué)習(xí)電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算,工程師不僅能提高電路的可靠性和穩(wěn)定性,還能優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程,減少潛在的故障風(fēng)險(xiǎn),從而提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力和消費(fèi)者信任度。為
    的頭像 發(fā)表于 03-26 17:08 ?172次閱讀
    電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)與工程計(jì)算技能概述

    詳解晶圓級(jí)可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速、低成本的可靠性評(píng)估,成為工藝開(kāi)發(fā)的
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:50 ?395次閱讀
    詳解晶圓級(jí)<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)技術(shù)

    產(chǎn)品可靠性關(guān)鍵指標(biāo)

    平均故障間隔時(shí)間 (MTBF) 是您在產(chǎn)品數(shù)據(jù)表中看到的常見(jiàn)指標(biāo),通常作為可靠性和耐用的標(biāo)志。但是,盡管 MTBF 被廣泛使用,也是工程學(xué)中最容易被誤解的名詞之一。
    的頭像 發(fā)表于 03-13 14:19 ?347次閱讀
    產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b>的<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>指標(biāo)

    芯片可靠性測(cè)試:性能的關(guān)鍵

    在芯片行業(yè),可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu),提供全面的芯片可靠性測(cè)試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保持領(lǐng)先。預(yù)處理(Preconditioning,
    的頭像 發(fā)表于 03-04 11:50 ?294次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試:性能的<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)

    半導(dǎo)體集成電路的可靠性評(píng)價(jià)是一個(gè)綜合的過(guò)程,涉及多個(gè)關(guān)鍵技術(shù)和層面,本文分述如下:可靠性評(píng)價(jià)技術(shù)概述、可靠性評(píng)價(jià)的技術(shù)特點(diǎn)、
    的頭像 發(fā)表于 03-04 09:17 ?301次閱讀
    半導(dǎo)體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評(píng)價(jià)

    PCBA應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品可靠性關(guān)鍵

    PCBA應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品可靠性關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 02-25 17:28 ?365次閱讀
    PCBA應(yīng)變測(cè)試:確保電子產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b>的<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>

    一文讀懂芯片可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目

    驗(yàn)證產(chǎn)品性能的重要手段,更是提高產(chǎn)品可靠性市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)對(duì)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障模式和失效機(jī)制,從而為設(shè)計(jì)優(yōu)化和工藝改進(jìn)提供
    的頭像 發(fā)表于 02-21 14:50 ?420次閱讀
    一文讀懂芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗(yàn)項(xiàng)目

    EMC電機(jī)控制器測(cè)試整改:確保產(chǎn)品可靠性關(guān)鍵步驟

    深圳南柯電子|EMC電機(jī)控制器測(cè)試整改:確保產(chǎn)品可靠性關(guān)鍵步驟
    的頭像 發(fā)表于 01-13 14:25 ?547次閱讀
    EMC電機(jī)控制器測(cè)試整改:確保產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>步驟

    充分考慮設(shè)備的體驗(yàn)易用性 藍(lán)鵬設(shè)計(jì)部將這一理念貫穿于整個(gè)研發(fā)過(guò)程

    過(guò)程。通過(guò)人性化設(shè)計(jì)、優(yōu)化交互界面和操作流程、提供清晰的操作指南以及強(qiáng)化設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性等措施,設(shè)計(jì)部成功提升了設(shè)備的用戶(hù)體驗(yàn)和易用性。這不僅有助于提升產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,還能夠?yàn)橛脩?hù)帶來(lái)更加愉悅、高效
    發(fā)表于 12-24 14:07

    GaN可靠性測(cè)試新突破:廣電計(jì)量推出高壓性能評(píng)估方案

    GaN可靠性評(píng)估及全面性能測(cè)試仍面臨挑戰(zhàn),尤其是高耐性、優(yōu)異熱阻及極低界面電容等性能測(cè)試技術(shù)在國(guó)內(nèi)尚待成熟?;诖耍瑥V電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析研究所推出了GaN
    的頭像 發(fā)表于 11-28 09:56 ?694次閱讀
    <b class='flag-5'>GaN</b><b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試新突破:廣電計(jì)量推出高壓性能評(píng)估方案

    提升產(chǎn)品穩(wěn)定性:可靠性設(shè)計(jì)的十大關(guān)鍵要素

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)中,產(chǎn)品的可靠性已成為衡量其成功的關(guān)鍵因素之一。可靠性不僅關(guān)系到產(chǎn)品的長(zhǎng)期性能,還直接影響到客戶(hù)的滿(mǎn)意度和企業(yè)的聲譽(yù)。因此,從產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段開(kāi)始,就必須將
    的頭像 發(fā)表于 10-31 22:49 ?886次閱讀
    提升產(chǎn)品穩(wěn)定性:<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)的十大<b class='flag-5'>關(guān)鍵</b>要素

    PCB高可靠性化要求與發(fā)展——PCB高可靠性的影響因素(上)

    可靠性提出了更為嚴(yán)格的要求,特別是在焊接點(diǎn)的結(jié)合力、熱應(yīng)力管理以及焊接點(diǎn)數(shù)量的增加等方面。本文將探討影響PCB可靠性關(guān)鍵因素,并分析當(dāng)前和未來(lái)提高PCB可靠性的制造技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。
    的頭像 發(fā)表于 10-11 11:20 ?809次閱讀
    PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>化要求與發(fā)展——PCB高<b class='flag-5'>可靠性</b>的影響因素(上)