半導體測試設備系統(tǒng)大致包括以下兩部分：半導體測試機和探針臺。

其中，前者負責測試晶圓器件參數(shù)（如IV，CV，Vt，Ion/Ioff等），或者可靠性（如HCI，NBTI，TDDB等）測試，通常稱作半導體測試儀，簡稱“半測儀”。

而后者是由晶圓承載臺及其配套設備，如馬達步進驅(qū)動，針座/針卡等構(gòu)成為晶圓測試提供測試支持的設備系統(tǒng)，通常稱作“探針臺”。探針臺根據(jù)測試自動化程度不同，分為這樣三種分類：手動探針臺，半自動探針臺，全自動探針臺。

下面介紹季豐電子的半測儀和探針臺設備。

半測儀設備介紹：

Keysight B1500：

B1500半導體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀，能夠測量表征大多數(shù)電子器件、材料、半導體和有源/無源元器件的主要基本參數(shù)。其電壓電流的高精度和穩(wěn)定性經(jīng)過多年口碑沉積，是目前半導體業(yè)界標桿式的測試設備。

概倫FS-PRO

FS-Pro 半導體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV)測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

幾乎所有半導體器件的低頻特性表征都可以在 FS-Pro 測試系統(tǒng)中完成。幾乎所有半導體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統(tǒng)中完成。其全面而強大的參數(shù)測試分析能力極大地加速了半導體器件與工藝的研發(fā)和評估進程。

Keysight WAT 4082F

Keysight是德科技WAT 4082是目前業(yè)界主流WAT測試機，其一貫精確和穩(wěn)定的性能有口皆碑。季豐電子和Keysight是德科技開展戰(zhàn)略合作，已引入WAT4082測試機。同時購入Accretech AP3000e全自動探針臺，搭配成完整WAT測試系統(tǒng)，如上圖所示?？蔀榭蛻籼峁┛煽繉I(yè)的WAT相關(guān)測試服務。

另外季豐電子也可以為客戶提供標準或定制所需全自動各類WAT針卡的服務。

探針臺設備介紹：

半自動探針臺Formfactor CM300

CM300探針臺是一款優(yōu)秀的晶圓測試支持平臺，可應對極其復雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn)，支持8寸和12寸晶圓。其可以靈活穩(wěn)定完成DC、AC 和 RF微波器件特性、WLR等測試任務。該探針臺設備可以隨意搭配B1500或概倫FS-PRO半測儀設備。

全自動探針臺Accrotech （TSK）

AP3000e

全自動探針臺Accrotech （TSK）AP3000e是高精度、高效率（index移動、晶圓搬送、晶圓對齊）、低震動、低噪音、新一代高性能探針臺。其能力足夠覆蓋大部分半導體器件驗證測試項目。

同時，由于高低溫（-50~150°C）晶圓全自動探針臺的自動対針換片功能的使用，使得多片晶圓和多測試結(jié)構(gòu)的測試效率較之半自動探針臺均有顯著提升。

特別聲明，以上測試設備所提供的測試服務均是非量產(chǎn)測試，客戶如需ATE量產(chǎn)CP/FT測試，可以安排在季豐電子的嘉善測試基地執(zhí)行。

季豐電子

季豐電子成立于2008年，是一家聚焦半導體領(lǐng)域，深耕集成電路檢測相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務的賦能型平臺科技公司。公司業(yè)務分為四大板塊，分別為基礎實驗室、軟硬件開發(fā)、測試封裝和儀器設備，可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機構(gòu)、公共服務平臺等企業(yè)資質(zhì)認定，通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設有子公司。