PTM功率器件及電源芯片設(shè)計(jì)分析驗(yàn)證

產(chǎn)品簡介

PTM是一款應(yīng)用于功率器件和電源芯片的設(shè)計(jì)分析套件，支持高精度提取Rdson、驗(yàn)證器件的開關(guān)行為，以此提高IC產(chǎn)品的可靠性和壽命，已獲得頂級IDM和設(shè)計(jì)公司的認(rèn)可和采用。

PTM采用先進(jìn)的3D求解器和簡潔易用的查看器，用戶可以輕松進(jìn)行交叉關(guān)聯(lián)分析，并通過場景視圖直觀查看分析結(jié)果。

結(jié)合專有的邊緣基三維網(wǎng)格生成技術(shù)和64位數(shù)值求解器，PTM能夠精確地計(jì)算金屬、多晶互連和過孔的非均勻電流分布，并利用仿真鍵合線精確提取大功率晶體管陣列的Rdson。

PTM還可協(xié)助展示版圖的電流密度、電遷移違規(guī)問題，其中電流密度和電壓分布可通過2D或橫切部面圖形式呈現(xiàn)。設(shè)計(jì)師可通過局部增加網(wǎng)格密度提高精度，并充分掌控終端布局與激勵(lì)情況，搭配電壓控制電壓源(VCVS)的測試臺(tái)，以輔助高精度傳感器件設(shè)計(jì)。

同時(shí)，PTM支持功率器件Die、Package和PCB的協(xié)同設(shè)計(jì)，以實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)最佳熱性能，滿足電熱需求，并避免過度設(shè)計(jì)或封裝成本的大幅增加。

產(chǎn)品優(yōu)勢

高精提取

·支持高精度提取和優(yōu)化Rdson

高效驗(yàn)證

·仿真、驗(yàn)證器件中的電遷移問題、IR drop問題和門級延遲問題

大容量&高速

·支持大容量、高速仿真

功能強(qiáng)大

·確保器件可靠性和使用壽命技術(shù)規(guī)格

技術(shù)先進(jìn)

·領(lǐng)先的結(jié)構(gòu)“全角度”網(wǎng)格生成器和高精準(zhǔn)3D場求解技術(shù)

系統(tǒng)集成

·支持功率器件Die/Package/PCB協(xié)同設(shè)計(jì)

用戶友好

·直觀的圖形用戶界面，易于設(shè)置和使用

技術(shù)規(guī)格

·Rdson提取

-模擬功率器件布局以降低Rdson

-通過檢查電流密度/電遷移確保可靠性

·Gate Delay驗(yàn)證分析

-模擬功率晶體管gate net傳播延遲

-使用gate net分布式模型

-提取金屬和聚合物線路電阻

-以分布式方式對活性區(qū)的電容建模

-用戶可選擇分布式模型中的分段數(shù)量

·電熱驗(yàn)證分析

-芯片/封裝級3D熱電耦合和可靠性分析

-計(jì)算金屬和活性區(qū)的動(dòng)態(tài)電流和焦耳自加熱

-對芯片和封裝中的熱控分布進(jìn)行建模

-支持熱規(guī)劃

·支持非線性溫度相關(guān)模型

-3D求解器自洽求解電和熱方程

-硅精準(zhǔn)

-支持GDSII導(dǎo)入

產(chǎn)品應(yīng)用

·數(shù)?；旌瞎β势骷O(shè)計(jì)

·汽車功率器件設(shè)計(jì)

·PMIC開關(guān)電源功率器件設(shè)計(jì)

·DC-DC轉(zhuǎn)換器功率器件設(shè)計(jì)

·高壓開關(guān)功率器件設(shè)計(jì)

·大型數(shù)字芯片片上電源管理優(yōu)化

·功率器件Die/Package/PCB協(xié)同設(shè)計(jì)

應(yīng)用實(shí)例

IR drop/電壓驗(yàn)證分析

電流密度驗(yàn)證分析

Gate Delay驗(yàn)證分析

電熱驗(yàn)證分析