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標(biāo)簽 > 晶圓
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。
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晶圓表面特性和質(zhì)量測(cè)量的幾個(gè)重要特性
用于定義晶圓表面特性的 TTV、彎曲和翹曲術(shù)語(yǔ)通常在描述晶圓表面光潔度的質(zhì)量時(shí)引用。首先定義以下術(shù)語(yǔ)以描述晶圓的各種表面。
2024-04-10 標(biāo)簽:電容傳感器晶圓半導(dǎo)體器件 1.0萬(wàn) 1
CD-SEM是怎樣測(cè)線寬呢?CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別?
CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy,中文翻譯過(guò)來(lái)是:特征尺寸掃描電子顯微鏡。
晶圓是半導(dǎo)體制造過(guò)程中使用的一種圓形硅片,它是制造集成電路(IC)或芯片的基礎(chǔ)材料。
2024-05-29 標(biāo)簽:集成電路晶圓半導(dǎo)體芯片 1.0萬(wàn) 0
什么是刻蝕的選擇性?刻蝕選擇比怎么計(jì)算?受哪些因素的影響呢?
刻蝕(或蝕刻)是從晶圓表面去除特定區(qū)域的材料以形成相應(yīng)微結(jié)構(gòu)。但是,在目標(biāo)材料被刻蝕時(shí),通常伴隨著其他層或掩膜的刻蝕。
2023-10-07 標(biāo)簽:晶圓 9867 0
芯片的制作為什么要用半導(dǎo)體?Wafer晶圓半導(dǎo)體制造工藝
所謂“半導(dǎo)體”,是一種導(dǎo)電性能介于“導(dǎo)體”和“絕緣體”之間的物質(zhì)總稱。導(dǎo)體能導(dǎo)電,比如鐵銅銀等金屬,絕緣體不導(dǎo)電,比如橡膠。芯片的制作為什么要用半導(dǎo)體?
2023-05-15 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體制造光刻膠 9861 0
封測(cè)主要包括了封裝和測(cè)試兩個(gè)環(huán)節(jié),從價(jià)值占比上來(lái)看,集成電路封裝環(huán)節(jié)價(jià)值占比約為80%,測(cè)試環(huán)節(jié)價(jià)值占比約為15%。
2023-04-18 標(biāo)簽:集成電路晶圓IC設(shè)計(jì) 9719 0
Producer Black Diamond 3 系統(tǒng)設(shè)計(jì)為可與 應(yīng)用材料公司的 Producer Nanocure 3 UV 固化系統(tǒng)配合使用。Nan...
在半導(dǎo)體芯片制造過(guò)程中,需要采用切割工藝對(duì)晶圓進(jìn)行劃片,然而傳統(tǒng)的金剛石切割、砂輪切割會(huì)對(duì)半導(dǎo)體材料造成較為嚴(yán)重的損傷,導(dǎo)致半導(dǎo)體晶圓碎裂、芯片性能下降...
晶圓是非常重要的物件之一,缺少晶圓,目前的大多電子設(shè)備都無(wú)法使用。在往期文章中,小編對(duì)晶圓的結(jié)構(gòu)、單晶晶圓等均有所介紹。本文中,為增進(jìn)大家對(duì)晶圓的了解,...
淺談晶圓代工廠制程節(jié)點(diǎn)和應(yīng)用
當(dāng)MCU需求激增時(shí),8英寸晶圓往往會(huì)生產(chǎn)更多的MCU,而不是價(jià)格較低的MOSFET。另一方面,PMIC和DDIC的需求穩(wěn)定,因此晶圓代工廠商總是為PMI...
在半導(dǎo)體制造中,刻蝕工序是必不可少的環(huán)節(jié)。而刻蝕又可以分為干法刻蝕與濕法刻蝕,這兩種技術(shù)各有優(yōu)勢(shì),也各有一定的局限性,理解它們之間的差異是至關(guān)重要的。
2023-09-26 標(biāo)簽:mems晶圓半導(dǎo)體制造 9103 1
其中,步進(jìn)投影式光刻機(jī)(stepper)的一個(gè)shot一個(gè)shot進(jìn)行曝光的,并不是一整張晶圓同時(shí)曝光,那么stepper的shot是什么樣的?多大尺寸...
2023-10-09 標(biāo)簽:集成電路晶圓芯片設(shè)計(jì) 9095 0
裝片(Die Bond/Die Attach)是把晶圓切割(wafer saw)后的單顆芯片,貼裝在引線框架(lead frame)的基島上,以便后續(xù)工序作業(yè)。
國(guó)內(nèi)和國(guó)際MEMS晶圓級(jí)測(cè)試技術(shù)對(duì)比分析
晶圓級(jí)測(cè)試技術(shù)應(yīng)用于MEMS產(chǎn)品開(kāi)發(fā)全周期的3個(gè)階段:(1)產(chǎn)品研發(fā)(R&D)階段:用以驗(yàn)證器件工作和生產(chǎn)的可行性,獲得早期器件特征。(2)產(chǎn)品試量產(chǎn)階...
SiP產(chǎn)品嚴(yán)格而規(guī)范的設(shè)計(jì)流程
首先進(jìn)行需求的分析,根據(jù)需求情況采用SiP技術(shù)對(duì)由裸芯片組成的微系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì),根據(jù)SiP設(shè)計(jì)文件輸出生產(chǎn)文件,投產(chǎn)陶瓷外殼,最后進(jìn)行封裝和組裝工藝。
2022-12-07 標(biāo)簽:晶圓TABSiP技術(shù) 8677 0
芯片的幾個(gè)重要測(cè)試環(huán)節(jié)-CP、FT、WAT
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。而測(cè)試環(huán)節(jié)主要集中在CP(chip probing)、FT(Final Test)和WAT...
車規(guī)芯片的AEC-Q100測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC其實(shí)是Automotive Electronics Council汽車電子協(xié)會(huì)的簡(jiǎn)稱,并且AECQ標(biāo)準(zhǔn)包括以下幾個(gè)領(lǐng)域,對(duì)于不同領(lǐng)域的電子器件,適...
什么是CSP封裝,CSP封裝量產(chǎn)測(cè)試的問(wèn)題及解決方案研究
CSP封裝的芯片測(cè)試,由于其封裝較小,采用普通的機(jī)械手測(cè)試無(wú)法實(shí)現(xiàn),目前主要采用類似晶圓測(cè)試的方法,在芯片完成置球封裝后,先不做劃片,而直接用探針卡進(jìn)行...
傳統(tǒng)封裝 Vs.先進(jìn)封裝的區(qū)別及優(yōu)勢(shì)
集成電路封裝是指將制備合格芯片、元件等裝配到載體上,采用適當(dāng)連接技術(shù)形成電氣連接,安裝外殼,構(gòu)成有效組件的整個(gè)過(guò)程,封裝主要起著安放、固定、密封、保護(hù)芯...
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