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標(biāo)簽 > 晶圓
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。
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季豐電子極速封裝車間擁有千級(jí)無(wú)塵化磨劃生產(chǎn)線、一支經(jīng)驗(yàn)豐富的磨劃團(tuán)隊(duì)以及全套的先進(jìn)設(shè)備,致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)高效的一站式磨劃服務(wù)。
隨著超高密度多芯片模組(Multiple Chip Module,MCM)乃至系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)產(chǎn)品在5G、AI、高性能運(yùn)算、汽車自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域的普及...
當(dāng)技術(shù)優(yōu)化的整體方法包括芯片設(shè)計(jì)、封裝和產(chǎn)品級(jí)相互依賴性時(shí),產(chǎn)品、設(shè)計(jì)、封裝、工藝和器件相互依賴性的整體方法,以提高研發(fā)效率和價(jià)值創(chuàng)造
2023-10-07 標(biāo)簽:晶圓芯片設(shè)計(jì)半導(dǎo)體器件 1382 0
晶圓清洗:芯片設(shè)計(jì)與生產(chǎn)中的關(guān)鍵一環(huán)
蒸汽脫脂工藝一旦建立并經(jīng)過(guò)測(cè)試,就會(huì)保持恒定,并且可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化以提高效率。清潔結(jié)果保持可重復(fù)且一致。
2024-03-21 標(biāo)簽:晶圓芯片設(shè)計(jì) 1379 0
回顧過(guò)去五六十年,先進(jìn)邏輯芯片性能基本按照摩爾定律來(lái)提升。提升的主要?jiǎng)恿?lái)自三極管數(shù)量的增加來(lái)實(shí)現(xiàn),而單個(gè)三極管性能的提高對(duì)維護(hù)摩爾定律只是起到輔佐的作...
引言 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,為了在有限的面積內(nèi) 形成很多器件,技術(shù)正在向多層結(jié)構(gòu)發(fā)展。要想形成多層結(jié)構(gòu),會(huì)形成比現(xiàn)有更多的薄膜層 ,這時(shí)晶片背面也會(huì)堆積...
離子注入是一種將所需要的摻雜劑注入到半導(dǎo)體或其他材料中的一種技術(shù)手段,本文詳細(xì)介紹了離子注入技術(shù)的原理、設(shè)備和優(yōu)缺點(diǎn)。 ? 常見(jiàn)半導(dǎo)體晶圓材料是單晶硅,...
由TOK、JSR、陶氏化學(xué)等公司生產(chǎn)的新一代負(fù)色調(diào)和化學(xué)放大的正色調(diào)光阻劑在先進(jìn)的包裝應(yīng)用中獲得了發(fā)展勢(shì)頭。隨著銅柱和微凸起的采用,樹(shù)脂的厚度要求正在增...
在芯片設(shè)計(jì)中,電路上實(shí)現(xiàn)代碼的方法有很多。研究人員們通過(guò)模擬發(fā)現(xiàn),所有的不同邏輯門組合,不同的組合對(duì)金屬碳納米管或具有魯棒性,或不具有魯棒性。
芯片三維互連技術(shù)及異質(zhì)集成研究進(jìn)展
異質(zhì)集成技術(shù)開(kāi)發(fā)與整合的關(guān)鍵在于融合實(shí)現(xiàn)多尺度、多維度的芯片互連,通過(guò) 三維互連技術(shù)配合,將不同功能的芯粒異質(zhì)集成到一個(gè)封裝體中,從而提高帶寬和電源效率...
芯片制造的光刻支出如何隨著各種節(jié)點(diǎn)縮小演變歷程
單片設(shè)計(jì)每個(gè)晶圓有 30 個(gè)好的die,而小芯片 MCM 設(shè)計(jì)每個(gè)晶圓有 79 個(gè)好的die。假設(shè)所有有缺陷的die都必須扔進(jìn)垃圾桶。如果沒(méi)有芯片良率收...
安建采用7層光罩工藝的第七代12-inch 1200V-25A IGBT晶圓
依托于光刻機(jī)的光罩(Litho)工藝是半導(dǎo)體芯片加工流程中的核心工藝,光罩的層數(shù)是影響半導(dǎo)體芯片工藝復(fù)雜度及加工成本的關(guān)鍵指標(biāo)。當(dāng)代溝槽-場(chǎng)截止型IGB...
SiC外延生長(zhǎng)技術(shù)的生產(chǎn)過(guò)程及注意事項(xiàng)
SiC外延生長(zhǎng)技術(shù)是SiC功率器件制備的核心技術(shù)之一,外延質(zhì)量直接影響SiC器件的性能。目前應(yīng)用較多的SiC外延生長(zhǎng)方法是化學(xué)氣相沉積(CVD),本文簡(jiǎn)...
為什么要進(jìn)行芯片測(cè)試?芯片測(cè)試在什么環(huán)節(jié)進(jìn)行?
WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過(guò)的裸片(die),只需要封裝測(cè)試通過(guò)的die。 FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)...
晶圓中scribe line(劃片線)和saw line(鋸片線)的差異
本文介紹了在晶圓制造過(guò)程中,scribe line(劃片線)和saw line(鋸片線)兩個(gè)的概念和差異。 在晶圓制造過(guò)程中,scribe line(劃...
半導(dǎo)體后端工藝:探索不同材料在傳統(tǒng)半導(dǎo)體封裝中的作用(下)
焊錫是一種熔點(diǎn)較低的金屬,這種特性使其廣泛用于各種結(jié)構(gòu)的電氣和機(jī)械連接。
2023-11-24 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體封裝 1339 0
DS1991L多密鑰iButton是由Maxim的6英寸晶圓廠生產(chǎn),該晶圓廠的生產(chǎn)工藝已過(guò)時(shí),且不再使用。DS1991L所提供的密碼保護(hù)已不再是數(shù)據(jù)安全...
【SPEA飛針應(yīng)用】半導(dǎo)體探針卡測(cè)試
探針卡是晶圓功能驗(yàn)證測(cè)試的關(guān)鍵工具,通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板(PCB)組成的一種測(cè)試接口,主要對(duì)裸die進(jìn)行測(cè)試。探針卡上的探針與芯片上...
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